共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
王崇光 《仪表技术与传感器》1980,(6)
根据国家仪器仪表总局有关文件要求,由沈阳仪器仪表工艺研究所组织了仪表电机行业质量抽查测试评定会议,于八月二十一日至九月十八日历时二十九天。在上海工业自动化仪表研究所进行了集中测试。参加予备会和测试评定工作的有国家仪器仪表工业总局、上海仪表公司、沈阳仪器仪表工艺研究所,上海工业自动化仪表研究所、上海仪表电机厂、西安仪表厂等有关受检查生产厂和重点用户共十三个单位二十五名代表。检查测试评定工作自始至终有重点用户参加并认真听取了他们的意见。行检组对上海仪表电机厂、东阳仪表电机厂、湘西元件仪表厂、瑞安仪表电机厂等 相似文献
2.
任金山 《仪表技术与传感器》1980,(5)
根据国家仪器仪表工业总局有关文件要求,一九八○年全国宝石轴承行业质量测试评比会议于七月三日至廿七日在苏州召开。参加单位有国家仪器仪表工业总局、苏州市机械局、沈阳仪器仪表工艺研究所、苏州晶体元件厂、桂林电表厂等科研、生产、使用单位14个 相似文献
3.
国家仪器仪表工业总局于八月二十七日至九月十四日在沈阳举办情报业务学习班。参加学习班的学员来自全国60多个工厂、科研单位和大专院校,共七十人。他们都是具有中等々业以上文化程度的情报部门的领导干部和科技情报人员。国家仪器仪表工业总局有关部门的负责同志出席了开学典礼并讲了话。学习班由中国科技情报研究所和一机部 相似文献
4.
凌嘉功 《仪表技术与传感器》1982,(1)
一九八一年十一月廿日~廿二日,沈阳仪器仪表工艺研究所受国家仪器仪表工业总局委托,在沈阳主持了由沈阳仪器仪表工艺研究所和甘肃光学仪器厂联合进行的“固着氧化铈磨料K_9玻璃光学零件抛光工艺研究”课题的行业鉴定。会议邀请总局系统和五机系统的光学厂和大专院校,三十多个单位, 相似文献
5.
朱松年 《仪表技术与传感器》1980,(5)
为了解决线性集成电路直流和低频参数测试方面存在的问题,沈阳仪器仪表工艺研究所第四研究室,开展了线性集成电路测试方法的研究工作,并研制成功了SI-1型线性集成电路综合参数测试仪。80年7月26日至28日在沈阳召开了上述测试方法和测试仪器的鉴定会,会议由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,国家仪器仪表总局和有关工厂、院校、科研、共11个单位,15名代表参加了会议。 相似文献
6.
汇方 《仪表技术与传感器》1982,(1)
中国仪器仪表学会仪表元件学会机械元件首届学术交流会于一九八一年十一月二十四日至二十九日在苏州召开。中国仪器仪表学会仪表元件学会副理事长、哈尔滨工业大学副教授初允锦同志致开幕词。国家仪器仪表工业总局、中国仪器仪表学会、仪表元件学会负责单位沈阳仪器仪表工艺研究所等负责同志到会进行了指导。 相似文献
7.
朱松年 《仪表技术与传感器》1980,(2)
1979年12月14日至15日在沈阳召开了JPG-Ⅰ型激光平面干涉仪鉴定会。该仪器是由沈阳仪器仪表工艺研究所、上海光学精密机械研究所共同研制的。会议由国家仪器仪表工业总局委托沈阳仪器仪表工艺研究所主持。参加会议的有辽宁省计量局、沈阳市科学技术委员会、上海光学仪器厂等有关生产、科研和高等院校共18个单位,20余名代表。会议听取了两个研制单位所作的研制报告和φ250平面干涉仪光学工艺与测试等技术报告。代表们对该仪器进行了现场测试,对图纸资料进行了审查。代表们一致认为:一、该仪器的光学和机械设计合理,达到了设计任务书中提出的各项指标。测量范围:能测量φ230毫米的视场; 相似文献
8.
夏姿 《仪表技术与传感器》1981,(6)
由沈阳仪器仪表工艺研究所研制的硅蓝光电池的鉴定会,于1981年7月16日至18日在沈阳市举行。会议由国家仪器仪表工业总局及一机部机械院联合主持。有辽宁省科委、辽宁省计量所、清华大学、上海电器电子元件厂、天津印刷技术研究所、北京718厂等十九个单位的二十余名代表参加了会议。鉴定的结果,代表们一致认为硅蓝光电池的 相似文献
9.
受国家仪器仪表工业总局委托由沈阳仪器仪表工艺研究所主持召开的八项课题成果鉴定会于80年12月13日至19日在沈阳召开。这八项课题成果是:MF96型 SiC 薄膜测速热敏电阻器;MF92测速热敏电阻器;砷化镓霍尔元件;数字高斯计;常规镍电成型波纹管工艺;脉冲等离子焊接工艺与设备;高性 相似文献
10.
陈大新 《仪表技术与传感器》1980,(5)
由沈阳仪器仪表工艺研究所负责组织联合设计,有大连仪表元件厂,襄樊仪表元件厂、四川仪表六厂,沈阳仪器仪表工艺研究所等单位参加共同试制的FO33低漂移、FO11低功耗、FO06、FO07通用Ⅲ型集成运算放大器,于一九八○年七月十九日在大连,经国家仪器仪表工业总局鉴定合格。参加这次鉴定会的有大专院校、整机单位、元件厂等30多个单位,共54名代表,经过测试,代表们一致认为上述元件达到先进水平。 相似文献
11.
朱松年 《仪表技术与传感器》1980,(2)
激光球面干涉仪可对凹、凸光学球面曲率半径及光学球面、光学平面的面形局部误差作高精度非接触的测量。针对目前光学行业高精度光学样板的测试问题,沈阳仪器仪表工艺研究所、上海光学仪器厂和新添光学仪器厂协作,共同研制成功了JQG-1000型数字显示激光球面干涉仪。受国家仪器仪表总局委托,由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,于1979年12月17日至19日在沈阳召开了对该仪器的鉴定会。参加会议的有长春光学精密机械研究所、上海光学精密机械研究所、辽宁省计量局等20个科研、生产和高等院校的20余名代表。会上沈阳仪器仪表工艺研究所和新添光学仪器厂分别介绍了该仪器的研制报告(包括综 相似文献
12.
沈仪 《仪表技术与传感器》1982,(1)
国家仪器仪表工业总局组织的整顿验收组,于1981年12月5日至9日,对沈阳仪器仪表工艺研究所进行了恢复性的整顿验收工作。参加验收组的单位有:全国总工会机械工会、沈阳市科委、一机部沈阳铸造所、一机部机械工业自动化所、上海工业自动化仪表所、哈尔滨电工仪表所、长春试验机所、长春气象仪器所、重庆仪表材料所,共九个单位28人。 相似文献
13.
《仪表技术与传感器》1982,(1)
《仪器制造》杂志是我国仪器仪表行业的综合性枝术刊物。本刊由国家仪器仪表工业总局沈阳仪器仪表工艺研究所编辑和出版,主要报道仪器仪表的制造工艺、仪表元器件,专用工艺设备和检测仪器的科研成果;仪表生产厂的技术改造、革新、挖潜的经验;仪器仪表的使用与维修等。为了更好地为四化建设服务,加强编 相似文献
14.
刘振山 《仪表技术与传感器》1981,(2)
国家仪器仪表工业总局委托沈阳仪器仪表工艺研究所主持的差压膜盒质量攻关鉴定会于1980年12月16日至17日在天津召开。参加会议的有:天津仪表厂、大连仪表厂、上海调节器厂、上海自动化仪表一厂、上海弹性元件厂、武汉热工仪表厂等12个单位17名代表。会议听取了攻关小组关于差压膜盒质 相似文献
15.
《仪表技术与传感器》1981,(6)
《仪器制造》是我国仪器仪表行业的综合性技术刊物。本刊是由国家仪器仪表工业总局沈阳仪器仪表工艺研究所编辑出版的。早在一九七三年就开始全国邮局公开发行,它在仪器仪表行业和其它行业中具有较大的影响。一、本刊欢迎下列内容的稿件: 1.仪器仪表制造工艺、仪器仪表元器件、专用工艺设备和检测仪器的最新研究成果及 相似文献
16.
工业自动化仪表科技情报网第四次会议于1981年10月25日至11月2日在北京市举行。参加会议的有90个单位,108名代表。国家仪器仪表工业总局副局长朱良漪同志出席了会议并作了重要讲话。上海工业自动化仪表研究所所长吴钦炜同志作了关于“自动化仪表技术的进展”专题报告。国家仪器仪表工业总局技术情报研究室负责人吕景新同志作了关于“仪器仪表工业科技情报工作的方针、任务和设想”报告。会议开展了技术交流活动,交流了科技情报工 相似文献
17.
王崇光 《仪表技术与传感器》1981,(2)
1980年11月13日至17日,国家仪器仪表工业总局仪表电机情报网和仪表元件学会电磁元件学术组联合在上海召开了仪表电机第三次学术报告会。参加会议的有:国家仪器仪表工业总局、上海仪表局、公司有关领导部门、还有上海自动化仪表研究所、西安微电 相似文献
18.
王福仁 《仪表技术与传感器》1981,(2)
受国家仪表工业总局的委托,由沈阳仪器仪表工艺研究所主持召开的氦氖激光器攻关鉴定会于1980年十一月二十五日至二十七日在成都召开。参加会议的各大学、科研单位和工厂代表共40多人,他们一致认为He-Ne 激光器联合小组出色地完成了腔长 相似文献
19.
薛惠芳 《仪表技术与传感器》1981,(2)
一九八○年十二月六日至十日国家仪器仪表工业总局科技处在杭州召开了“五国文字仪器仪表词典”编辑工作筹备会。会议由总局总工程师王良楣同志主持。全国有关研究所及高等院校共26个单位,32名代表参加了会议。 相似文献
20.
任金山 《仪表技术与传感器》1981,(4)
根据国家仪器仪表工业总局有关文件指示,一九八一年度全国仪表宝石轴承质量测试评比会于1981年4月18—25日在温州市举行。参加会议的有国家仪器仪表工业总局、温州市电子仪表局及有关研究所、生产厂、用户等18个单位的37名代表。这次宝石轴承质量测试评比是按照宝石轴承的一机部部颁标准和有关分等规定的技术要求进行的。通过评比有五个生产厂的十种产品全部达到优等品,它们是: 相似文献