屏蔽室对磁场屏蔽效能的三维有限元计算分析

根据电磁场的三维有限元计算方法计算了变电站屏蔽室对磁场的屏蔽效能,分析了不同材料的屏蔽特性及屏蔽室开孔对屏蔽效能的影响。通过计算分析对屏蔽室优化设计的提出了有效的建议。     

一种新型的屏蔽门——介绍上海电缆研究所屏蔽室屏蔽门

近年来,我国电缆行业大力开发XLPE电缆,急需局部放电用全屏蔽室。这种屏蔽室的工作频段在10～400KC范围内,与通常无线电行业用屏蔽室不同。引进先进国家的产品要用较大的外汇。因此试制电缆型屏蔽室是急迫的任务。而这种屏蔽室主要技术关键在屏蔽门的设计上。它要求具有与屏蔽室其他屏蔽部分同样的,或者接近的衰减性能;屏蔽门多次开启运行后,仍有可靠的重复性;开启     

智能高压电器磁场及传导抗扰度屏蔽室的电磁环境电平研究

磁场及传导抗扰度试验是智能高压电器的型式试验的重要组成部分,建立符合规范的智能高压电器磁场及传导抗扰度电磁屏蔽室是实施该类试验的必要条件。针对专业规范缺失之现状,结合相关CNAS规范及电磁兼容规范,文中系统研究了该类屏蔽室的电磁环境电平需要控制的电参数,包括电源线上的插入损耗、空间电磁场的屏蔽效能;分析总结出了这些参数的幅度和频率控制要求,并给出了控制方法,可为有关方规划、设计和验收该类屏蔽室提供技术参考。     

终端负载对同轴电缆电磁耦合响应的影响

为研究连续波辐照下同轴电缆耦合能量对终端设备的影响,将同轴电缆终端连接的设备等效为集总负载,将其构建成连续波辐照实验系统。笔者搭建了同轴电缆耦合实验平台,研究不同终端负载条件下同轴电缆终端负载耦合电压响应变化规律。结果表明:当屏蔽盒端负载匹配,屏蔽室端负载变化时,随着电阻值的变大,屏蔽室端负载响应电压也会变大;当屏蔽盒端负载变化,屏蔽室端负载匹配时,屏蔽盒端终端负载的变化不影响屏蔽室终端负载的电压响应规律及幅值,终端负载响应电压的峰值随着频率的增加而减小。     

复合材料工频电场和工频磁场屏蔽效能实验研究

为了得到复合材料对工频电场和工频磁场的屏蔽效能,根据屏蔽室法测量材料屏蔽效能的原理,分别提出了工频电场和工频磁场屏蔽效能测试系统的实验方案。并且,通过分析调整实验配置对实验结果的影响,提出改进方案,进一步完善了该测试系统。通过实验得到了屏蔽室内部和外部的电场分布情况,实验结果可以用于指导被保护电子器件在屏蔽体内安放位置和屏蔽体的设计。     

低频强磁场屏蔽效能的测试方法与测试设备研制

为了合理评估屏蔽体对低频强磁场的屏蔽效果,为工程中屏蔽室质量验收提供必要的检测手段,根据小环天线法测量电磁屏蔽室屏蔽效能的原理,提出了低频强磁场屏蔽效能测试系统的整体结构和设计方案,研制了以PIC16F73单片机为核心的低频大电流源,设计和制作了磁场发射、接收环天线,构建了低频强磁场屏蔽效能测试设备;采用研制的测试设备对屏蔽室进行了屏蔽效能实测。测试结果与理论值符合较好,表明测试设备能够满足实际测量的需要,同时验证了计算结果的可信性。     

影响交联电缆局部放电试验的若干问题

主要对影响交联电缆的局部放电试验的各种因素进行了分析,特别是对电抗器、电缆假击穿现象、局放信号采集器、屏蔽室电动大门和局放试验终端等故障原因,提出了排除各类故障的方法。     

EMI电源滤波器插入损耗测试技术研究

介绍了EMI电源滤波器插入损耗的测量原理,随后采用了屏蔽箱和屏蔽室两种环境的测量方案进行测量试验,通过对最后测试数据的分析,讨论了实际测量中对这两种测量环境的选择。     

局部放电屏蔽试验室性能的测量方法研究

测量交联电缆用大容积、高效能局放屏蔽室的屏蔽效能,在技术上和测试设备方面均有相当难度。根据 IEEE No.299推荐的测量方法,应用国产的仪器设备,并采取一定的技术措施,就可用大环法和小环法,分别对屏蔽室大部分接缝和各种结构件的性能以及邻近板之间的连接处的屏蔽效果,得到有效的测定。     

EMI电源滤波器屏蔽测试技术

在对EMI电源滤波器插入损耗进行分析的基础上，介绍了一种用屏蔽室环境对滤波器插入损耗进行测试的方法，并对已有的滤波器进行测试与分析，指出了I／O端电磁耦合对EMI滤波器插入损耗的重大影响及屏蔽测试的良好效果。