基于小样本图像分类的芯片引脚缺陷检测方法

为了检测SOP芯片的引脚缺陷，提出了基于小样本图像分类的SOP芯片引脚缺检测的方法。该方法包含了芯片定位识别、芯片倾斜矫正以及芯片引脚参数测量。根据芯片塑封体与视觉系统采集的样品背景的特征进行芯片定位识别算法研究。通过提取芯片塑封体的边缘点进行直线拟合并矫正倾斜的芯片算法研究。基于Lnent-5模型构建图像分类网络，以10×10的尺寸对预处理后的图像进行切割并分类，通过分类结果确定每个引脚的位置以及边界，并根据引脚边界的分类结果计算芯片引脚的关键尺寸，判断是否存在缺陷。实验结果表明总体检测率达到99%,此方法能够满足在小样本的情况下稳定、准确地检测出SOP芯片的引脚缺陷。     

基于机器视觉的表贴芯片缺陷检测系统研究

基于表贴芯片缺陷检测的需要,设计了一种基于机器视觉的表贴芯片缺陷检测系统,并对该系统的硬件和软件部分作了简要介绍,重点研究了芯片的引脚边缘检测算法,在此基础上实现了芯片长度、宽度和间距等特征参数的提取。测试结果表明,该检测系统能达到在线生产的工艺要求。     

由MAX912构成的近距感应探测电路

本文简要介绍了ＭＡＸ９１２的引脚功能，给出了由该芯片设计的近距感应探测电路，该电路已成功用于防盗报警系统中。     

基于照明缺陷的光源照明系统图像检测控制电路设计

在目前的机器视觉应用系统中,光源与照明是整个系统的关键问题,不同照明方式都存在一定的缺陷特征。为了满足图像采集检测精度要求,针对不同照明方式缺陷特征,设计光源图像检测控制电路。采用单片机开关电源芯片作为主控芯片,设计LED光源图像检测背光控制电路,由电压转换、恒流控制以及背光调整等电路部分组成,电路结构简洁,简化电路设计。经过测试,控制电路效率高,满足图像采集需求。     

一种DC-DC芯片内建可测性设计

DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制,有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难.文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法,在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路,就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数.     

芯片I/O缓冲及ESD电路设计

文章详细介绍了基于CMOS的芯片I/O缓冲电路分类,功能,电路及版图设计的一些考虑以及芯片引脚的静电保护问题.     

一种新型AC电压过零检测方法及实现

提出了一种用于反激式开关电源中对AC输入电压进行过零检测的方法及实现电路,通过在固定时间之内检测初级电感电流来判断AC电压是否过零。针对内部集成了功率MOS管的单片反激式开关电源IC,可以通过复用芯片功率管漏端引脚来实现检测目的,减少了芯片引脚数量。基于0.5 μm BCD工艺,采用Hspice对电路进行仿真,仿真结果表明,提出的AC电压过零检测技术在不增加芯片引脚数量的同时也能够准确实现AC电压的过零检测。     

一种DC-DC芯片内建可测性设计

DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制，有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难. 文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法，在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路，就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数.     

双输出DC-DC的内建可测性设计

双路输出的DC-DC:转换器设计中有许多参数需要检测和控制,非常有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难.本设计大胆采用管脚复用技术,在增加很小内部电路的基础上,设计了一款新颖、实用的双路输出DC-DC的内部测试电路,并经Cadence、Hspiee等EDA软件对设计电路进行仿真,各项指标均符合设计要求,从而完成芯片的可测性设计,并大大缩短了芯片的研制周期,提高了产品利润.     

LM331压频变换器在步进电机驱动器中的应用

本文介绍利用LM331压频变换器设计的一种实用的步进电机驱动器，着重介绍了芯片引脚功能驱动器系统电路及控制原理。