ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现

Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法.     

航空电子自动测试设备的开发与实现

简要说明了组建通用航空电子自动测试设备的基本要求和目标．描述了典型测试设备的应用现状．介绍了ATE测试设备的组成、PAWS软件平台的组成和体系结构,以及ATLAS语言的语言特征,探讨了用PAWS开发自动测试系统的方法,并举例详细说明了在测试程序集TPS开发中的资源描述和自动资源配置过程．展望了ATE的未来发展趋势．     

信息化体系结构ATE软件开发平台设计方法

针对国内外复杂电子设备的自动测试系统测试数据开放性差、远程测试保障能力欠缺、测试效率较低等问题,提出一种自动测试设备(ATE)软件开发平台设计方法。该平台以信息化体系结构中间件为核心,实现分布式的资源应用之间的信息交互,并为信息交互提供数据的安全性保障;同时该软件平台以Access数据库技术为支撑,更加有效地组织管理历史测试数据以及复杂电子设备的各类综合保障信息。利用此开发平台,可通过资源应用快速构建集多节点并行测试、故障诊断、维修保障等于一体的ATE软件,不仅可以缩短ATE软件研发时间,降低ATE软件的研发成本,还可以提高测试效率及保障能力。     

VXI的多用途电源自动测试系统

工程测试与生产测试从传统上说,电源自动测试设备(ATE)制造厂设计的系统使用在工程上或生产上。生产上用的ATE通常是专用的仪器,通过几次测试就达到最大的生产量。工程上用的ATE通常不要求快速测试,利用市售的GPIB仪器提供多种供设计评估用的测试。由于分工的不同工程和生产两个小组不可能使用同样的ATE。许多电源制造厂在生产中使用面向生产的ATE,而使用面向工程的ATE或者台式仪器进行生产开发和性能鉴定。     

泰瑞达稳定的质量经济的方案——访泰瑞达副总裁Brad Nelson

记者：众所周知，泰瑞达公司是全球著名的自动测试设备（ATE）生产商，以其高效率量产，低成本测试为ATE领头军。据悉，在“SEMICON China2007”展览上，半导体测试系统家族的新秀J750Ex全新亮相，请您谈一下其创新之处？     

Agihent 93000 SOC系列采用的液冷技术对测试及测试成本的好处

半导体芯片在运行过程中散发热量。芯片的工作温度影响着其内部电路性能，更重要的是，其影响着芯片的可靠性。对半导体测试，这是一个重要问题，因为如果测试系统电子器件的温度不能稳定在目标水平，那么产出将下降，可重复性将会劣化。如果目标温度不能保持在相对较低的水平，那么系统可靠性将明显降低。自动测试系统(ATE)采用基于空气或液体介质的冷却技术。液冷系统比风冷系统的温度稳定性要高。液冷系统的热传导效率较高，因此可以降低ATE的工作温度。这可以提高系统可靠性，降低测试系统运行成本，改善吞吐量，保护测试系统投资。本文阐述了温度对半导体芯片的影响，分析了液冷技术在ATE系统中较风冷技术的各项优势。     

基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

大部分的系统级芯片(SoC)具有异步信号,基于自动测试系统(ATE)很难实现稳定的测试。通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试。     

T2000 GSMF-下一代低成本开放架构测试解决方案

近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战。面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准----OPENSTAR以及基于此标准的T2000SoC测试系统,其中T2000GSMF是最新发布的低成本的ATE解决方案。     

CREDENCE：为中国的半导体产业服务

CredenceSystems（科利登系统）是一家集测试与设计、验证、生产过程于一身的领先供应商。作为一个自动测试设备（ATE）行业的领导者，它正致力于改写半导体生产的未来。面对半导体行业的各种测试需求，Credence拥有全面的解决方案，并提供多种类的测试系统，包括模拟、数字、非挥发性内存（NVM）、混合信号、系统级芯片（SoC），以及无线半导体设备等。可以说，该公司服务的都是热门产业，如汽车、便携计算、消费和通信产品的典型应用。公司混合信号和无线部门副总裁兼总经理LarryDibattista先生认为，由于市场因素与技术创新共同形…     

新的开关技术降低了ATE的体积和价格

各种不同的自动测试设备(ATE)可帮助电子产品制造商提高产品质量和产量。虽然这些测试站在不同的场合应用,但它们都具有一个共同的部件——开关系统,在测试仪器和被测对象间,开关系统指挥着输入/输出的信息交换。为制造测试,甚至还包括为服务和修理分配给ATE的预算,在把最终产品投放市场的经常费用中占有相当的比例,因而减少这一费用意义重大。要实现预算目标,就需要减少对ATE的采购费用或增加设备的吞吐率,也就是增加每天测试的产品单元数量。随着技术的进步和竞争压力的增加,对降低工厂经常费用的要求也在增加。由于模块化的VXI总     

VXI ATE设计的系统概观

随着VXI的出现,仪器部件就可望进行互换.但是,由于ATE(自动测试设备)领域没有一个统一的软件体系结构,因而特定的系统设计越来越多.结果,迫使ATE用户为解决系统集成和软件问题而费尽心血,有时其费用超过最初的硬件投资.这种行业的变化引起对具有闭路体系结构测试系统的性质和功能的开放软件部件的需求.我们参与了几个用户确定的ATE软件项目,从中使我们得出一个结论:大部分测试系统的要求是类似的,只有一点点变化.建立一个包含定义明确的接口的模块化部件的体系结构,我们就能够制作运行时模块和故障隔离模块来满足不同的用户要求.     

中频电源的GPIB程控设计

介绍基于GPIB通信方式的400Hz中频电源控制方法，使中频电源可以很方便地使用在航空自动测试设备(ATE)中，大大提高ATE系统的功能。中频电源的控制包括开关控制、输出电压控制和输出频率控制。     

自动测试设备的成本及方案分析

电子设备的测试方法多种多样,从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备（ATE）。本文重点讨论一种具有较高性价经的中等规模测试方案。     

基于LXI总线的自动测试系统方案设计

为了满足军用自动测试系统准确度要求高、测量点多、实施性强的特点,实现提高测试准确度、简化硬件电路设计的目的,采用了基于LXI总线的数字化测试系统方法,做了将数字万用表L4411A和多路开关L4421A应用于ATE的实验。获得了实时性好,准确度高,简化硬件设计的结果,得到了基于LXI总线的数字化测试系统方案很好地满足了军用ATE系统需求的结论。     

自动测试系统通用平台的设计

结合某工程自动测试系统的研制过程，介绍了自动测试系统通用平台的特点与应用，重点阐述了硬件平台、软件平台和测试程序的设计方法，为我军大型武器装备自动测试系统的研制提出一种思路，可以较好地实现测试系统通用性，满足多种领域测试系统组建的需要。     

基于ATE的Nand Flash功能测试优化方法

针对利用自动测试设备测试Nand Flash电路的功能时，遇到坏块就会判定Nand Flash功能失效的问题，对Nand Flash功能测试优化方法进行了研究，使用自动测试设备（ATE）测试系统的紧凑型故障存储器（CFM）的功能，通过纠错码（ECC）将测试结果实时捕获到CFM中，测试程序从CFM中即可读取测试通过或者失败的判断，从而可以更加清晰地判别电路存储单元的性能，解决了在测试Nand Flash电路过程中遇到坏块就判定其功能失效的问题。     

泰瑞达（Teradyne）公司的J750Ex在SEMICON CHINA 2007上首次亮相

泰瑞达公司，作为世界著名的自动测试设备（ATE）的生产商，以及高效率量产、低成本测试的ATE设备的领头军，将在3月21至23日于上海市召开的SEMICON CHINA 2007上首次介绍半导体测试系统家族的最新成员J750Ex-J750家族的新成员。J750Ex的特点在于：量产能力提高50％，200兆赫兹数字性能，并拥有专门用于数字、混合信号、存储器及转换器等器件测试的仪器资源。     

PXI技术把自动测试设备PC化

多年以来,大批量制造和复杂的军事与航空测试等应用,都用上了高档自动测试设备(ATE)。ATE系统过去是由厂商独有的软硬件搭建起来的,其开发和制造需要花上好几个月。此外,系统通常是为一个具体的测试应用而专门设计的,很难扩展到其他应用。尽管其价格高而且限制很多,现在很多应用仍然需要专用的ATE,以保证带宽和足够的功能度。不过,功能达到甚至超过专有ATE水平的商品化技术现在已经获得了发展。为每个工程师准备的个性化ATE人们一直以来都要求ATE的开发成本能够不断降低、性能和模块化程度不断提高。ATE系统能由普通的工程师来搭建…     

印制电路板自动测试技术与发展

本文介绍了印制电路板的自动测试技术,包括在线测试、边界扫描测试、非向量测试、红外热图象测试等技术。阐述了每种测试技术的特点,并探讨了印制电路板ATE的发展方向。