X射线衍射法测量冷轧带钢残余应力

残余应力的不均匀分布是影响板形的根本原因。为了深入了解冷轧带钢残余应力的分布情况,文章采用X射线衍射法对在不同轧制条件下冷轧后带钢的残余应力进行了测量分析,研究了残余应力沿板厚方向的变化、张力对残余应力分布的影响以及残余应力与板形的关系。研究的结论对制定与完善板带轧制规程、提高板形质量具有重要意义。     

X射线法测量粘结炸药的残余应力

用X射线衍射法测量了高聚物粘结炸药(PBX)的残余应力,在2θ=72.5°附近发现三氨基三硝基苯(TATB)的新衍射峰,测出PBX的残余应力均为拉应力,大小约几个兆帕,边缘位置应力大于中心部位,对样品进行热处理或放置一段时间后应力减小,不同成型压力PBX的晶粒尺寸有差异。实验结果表明,X射线衍射法测量PBX的残余应力是一种方便有效的方法,对PBX残余应力的研究及其应用具有重要意义。     

用X射线衍射仪测定金属表面残余应力

本文利用[日本]D/MAX—ⅢB 型 X 射线衍射仪,提出一种无损测定金属表面宏观残余应力的测定方法。既开发对其金属微观性能和物相定量分析的精密测试方法,又扩大了该仪器的使用范围。     

X射线法测量微晶玻璃残余应力的误差分析

探讨了X射线法测量微晶玻璃残余应力的原理及该方法对残余应力值精确度的影响。采用不同的衍射角对微晶玻璃的应力进行测试，对应力结果进行了比较，分析了应力产生误差的原因。发现选择较高的衍射角并延长衍射时间，测试中各应力值点与用最小二乘法所拟合出的直线之间的偏差较小，这说明各点的线性和相关性较好．可以减小X射线法残余应力测试的误差。     

浅盲孔法测量残余应力的分析

通过三维有限元分析方法,对浅盲孔法Ａ、Ｂ松驰系数随孔深度的变化进行了计算机模拟,同时,应用误差传递理论,重点分析了孔深度变化对松弛应力的影响。并且获得松弛应力与孔深度误差的规律性结论。为进一步应用浅盲孔法提供一理论依据。     

采用X射线法测算金属材料内部残余应力的研究

阐述了采用Ｘ射线法测量经感应加热淬火后的４５号钢试样内部的残余应力的原理和方法．试验表明,用Ｘ射线法测量和用修正公式计算残余应力沿层深的分布准确、可靠．     

硬质合金材料的残余应力测定

残余应力对硬质合金材料的性能及使用有重大影响,但有关应力测量的报道尚不多。采用胶结相作为测试对象较为合理,但在测定中却遇到了难以克服的困难。以此,作者提出用材料的主要物相——WC 作为测量依据,并制定了具体的方案及程序。又以模具为例,提供了几种状态下的测定结果并作了较详尽的分析讨论。测定结果表明:再现性是良好的,各种状态下材料应力的变化是显著的,合乎逻辑的。     

车削加工残余应力分布规律的实验研究

为了解决X射线车削剥层法残余应力测试中剥层方案的选择和抛光深度的确定的问题,应用单因素实验法研究了φ120低碳钢圆筒在不同车削条件下的残余应力分布状态,分析了进给量、车削速度和车削深度3个参量的变化对车削加工残余应力分布的影响规律.结果表明:车削参量对残余应力的分布影响很大,随车削深度的增加,残余应力影响层深度明显增加,当车削深度为0.25、0.75mm时,应力影响层深度分别为0.2、0.8mm;进给量和车削速度对表面残余应力影响较大,随进给量和车削速度的增大.表面残余拉应力增大.     

冲击压痕测量残余应力的方法

采用数值分析方法对冲击压痕法测量残余应力的弹塑性变形过程进行了理论分析,在一定的试验条件下测得点的轴向应变增量与其所受轴向应力间存在线性关系,证明该方法用于残余应力的测量是可行的,并且对试验参数进行优化。     

自增强残余应力松弛的灰色优化模型研究

深入研究了基于灰色系统理论的自增强残余应力松弛的预测方法,剖析了灰色预测GM(1,1)模型应用的局限性及其改进方法,根据自增强残余应力松弛的特点,建立内压循环下自增强残余应力松弛规律的灰色优化模型(GOM).并将模型预测值与GM(1,1)模型和试验拟合曲线方程预测值相比较,结果表明:该模型精度较高,预测误差较小,预测结果与试验数据基本吻合,可作为自增强残余应力松弛规律的预测模型.     

置入光纤传感器测定FRP残余应力的研究

利用最新发展的基于光纤微弯传感原理制作的缠绕式光纤应变传感器来测定FRP的残余应力.自行设计模具以制成两种FRP复合材料试件,一种为按照普通成型的过程制成试件,另一种为采用预加张力复合原理制成试件,通过测量两种试件的残余应力,得到大量有价值的实验数据,分析、对比实验结果,得到预加张力引起的残余应力.说明给纤维预加张力后,能提高复合材料的强度水平,对获取高质量的复合材料产品具有重大意义.     

Bacteria adherence properties of nitrided layer on Ti6Al4V by the plasma nitriding technique

The nitrided layer on Ti6A14V substrate was prepared by the plasma nitriding technique. The sample was characterized by X-ray diffraction （XRD）, glow discharge optical emission spectroscopy （GDOES）, X-ray photoelectron spectroscopy （XPS）, and rough-meter. X- ray diffraction analysis reveals that TiN, Ti2N and Ti phase exist in the nitrided layer subsurface. GDOES analysis shows the thickness of the nitrided layer is about 3 ~tm. XPS analysis shows that there is higher N, lower A1 and lower V in the nitrided layer surface than in the Ti6A14V surface. Rough-meter analysis results show the roughness of the nitrided layer is greater than that of Ti6A14V alloy base. The bacteria adherence property of the nitrided layer on Ti6A14V substrate on the Streptococcus mutans was investigated and compared with that of Ti6A14V alloy by fluorescence microscope. It shows that the nitrided layer inhibits the bacteria adherence.