双频激光楔形平板干涉法测量转角

双频激光楔形平板干涉法是将转角的变化转换为干涉条纹的变化进行转角测量。它具有自动分辨转动方向、在３６０°范围内连续进行角度测量、在较高转速下测角准确度不变等特点。     

双平板剪切干涉仪及其干涉图的数值分析

一种用于光学器件及光学成像系统波面差及像质检验的横向剪切干涉仪及其干涉图的数值分析方法,在平行平板横向剪切干涉原理的基础上,分析讨论了改进后的双剪切干涉仪的工作方式及优越性,在对其干涉图的数值分析方法,利用Ｚernike圆正交多项式作为基底函数,对被测光学系统的剪切干涉图进行波面的二维最小二乘拟合,以期重构原始波面,得到被测光学系统的波面差函数,进而不得系统的光学传递函数（ＯＴＦ）,对一组标准镜头进行的测试分析表测量的不确定度＜０．０５。     

剪切电子散斑干涉术中消偏振效应的研究

就散射光的偏振性对剪切电子散斑干涉术中的影响进行了研究，文中给出了理论分析及实验结果，得出了消偏振效应不改变计量条纹调制度，但降低光能利用率的结论。     

显微剪切干涉表面粗糙度轮廓测量

介绍一种显微剪切干涉仪 ,其基于剪切干涉是自干涉 ,因而具有相当的抗环境干扰和抗振动的特性 ,结合剪切干涉技术与显微干涉技术 ,实现制造环境下表面粗糙度精密测量。本文介绍了该显微剪切干涉仪的原理 ,给出了实验结果。     

光栅楔形平板激光干涉法任意转角测量系统误差分析

将光栅楔形平板加入到激光干涉测角系统中,实现任意转角的高精度测量.本文全面详细的分析了系统的误差因素,并进行了实验验证.结果表明,采用该系统测量任意转角,重复性达到0.63",与理论分析结果相吻合.     

正交双频光栅CCD系统剪切干涉测量二维温度场

以半导体激光器为光源，利用正交双频光栅（ＯＤＦＧ）ＣＣＤ系统剪切干涉对带平板边界的半圆柱体热源的二维温度场进行实时诊断，分析剪切干涉图时，用柱函数系作为拟合基底，给出二维自然对流温度场的定量分布。     

双平板剪切干涉仪及其干涉图的数值分析

一种用于光学器件及光学成像系统波面象差及像质检验的横向剪切干涉仪及其干涉图的数值分析方法.在平行平板横向剪切干涉原理的基础上,分析讨论了改进后的双平板剪切干涉仪的工作方式及优越性.在对其干涉图的数值分析方面,利用Zernike圆正交多项式作为基底函数,对被测光学系统的剪切干涉图进行波面的二维最小二乘拟合,以期重构原始波面,得到被测光学系统的波面象差函数,进而求得系统的光学传递函数(OTF).对一组标准镜头进行的测试分析表明测量的不确定度＜0.05.     

环路剪切干涉术测量附面层密度场

在附面层测量中,需对微小尺度的高速气流变化场进行瞬态测量。数字化的干涉测量方法能定量地解算出流场的密度场,是一种重要的应用。介绍了一种共路干涉的环路剪切干涉方法,对震动不敏感,无需参考面,适合附面层测量使用。采用基于空间位相调制的快速算法,配以脉冲激光器和同步控制系统,可实时地对扰流密度场进行定量测量。该系统采集分辨率200 pixels×200 pixels,采集频率可达每秒1000帧以上。系统的波前重构方法经过计算机仿真,检测结果优于1/20λ。在0.6 m风洞对圆柱体尾部附面层进行测量试验,结果表明,在一定风速下,该系统能抑制振动干扰,显著地区分出圆柱体尾部扰流信号和振动噪声,具有良好的应用前景。     

激光干涉测速用光电开关

介绍激光干涉仪应用特点及对光电开关的要求。研制了一种普克尔开关和相应的控制系统。开关上升时间 4μs,效率 2 0 0∶ 1,全开时间可按实验要求调整     

高精度激光干涉测量中环境误差因素的综合补偿

分析了高精度激光干涉测量中环境误差因素对测量的影响,针对不同情况,提出了两种对空气折射率进行实时误差补偿的方法。     

NYAB自倍频激光器在动态测量中的应用

本文报导小型氙灯激励的硼酸铝钇钕(NYAB)自倍频激光器的一些光束特性及其在动态剪切干涉,散斑计量和反射全息方面的应用,并给出实验结果。     

用半导体激光干涉法测量电气机车接触导线滑动面

描述一种利用半导体激光干涉法测量接触导线滑动面的方法。它的原理是采用参考光和物光的干涉，形成有效的高频分量，经光学滤波和λ／４波片、偏振分光棱镜ＰＢＳ和检偏器防止了杂光的干扰。这种方法与通常的激光扫描法、ＣＣＤ摄象法相比，明显地抗外界杂光干扰，适合于太阳光照射下工作。     

流场光学诊断的光偏振相移数字剪切散斑干涉

本文提出了应用于流场光学诊断的使用光偏振相移的数字剪切散斑干涉技术，它具有如下两个显著的优点，首先，产生干涉效应的两相干光束均是物光束。它们通过几乎相同的光学元件与几何空间。这样可以降低测量过程中对环境的防震需求，便于工程中的实际应用。其二，采用光偏振相移方法来获取了干涉图上的位相信息，与通常使用的压电陶瓷相移方法相比，不需要复杂的标定，使用更为方便。     

计算机图像检测在干涉测量中的应用

介绍了利用ＣＣＤ固体摄像传感器和奔腾微机测量干涉条纹的方法,介绍了干涉条纹数字图像检测的原理和软件设计思想。根据此原理,提出了一种微小位移的高精度测量方法,测量精度可达到λ／１００的数量级以上。     

Quantitative Detection of the Defects in Thin-Walled Pressure Vessels with Holography and Shearing Speckle Interferometry

Quantitative assessment of the coordinates, size, embedding depth, and type of defects of a thin-walled pressure vessel is becoming increasingly important for both economic and safety reasons. Nondestructive testing methods, holographic interferometry, shearing speckle interferometry, and simple mechanical models are combined to quantitatively estimate these defect characteristic parameters (DCPs). Experimental tests were conducted to demonstrate the efficiency and the accuracy of this combined technique for thin-walled spherical vessels that contain the cavities or cracks. Relationships between the DCPs and partial fringe patterns caused by the local defects are presented, and factors that affect the estimative accuracy of DCPs are discussed.     

Application of Double‐Focus Speckle Interferometry for Non‐Destructive Testing

Abstract: This paper deals with the application of a speckle interferometer, which works on the new operating principle of double‐focusing presented by the authors in recent studies, to the field of non‐destructive testing (NDT). Using this interferometer, the components of displacement given by holographic interferometry can be measured, but with no need for an external reference beam. The implementation of this interferometry can be indifferently carried out by adopting a Michelson or a Mach–Zender configuration. In the paper a double‐focus interferometer based on the Michelson design and sensitive to out‐of‐plane displacements was implemented and applied to a metallic specimen which simulates the deformations of a typical debonding.