微焦点X射线摆动式分层成像中的不完全投影研究

在现有微焦点X光辐射成像系统的基础上 ,提出一种新的摆动式分层成像方法 ,对狭长形状薄层结构样品进行无损检测 ,建立计算机仿真模型 ,验证了使用不完全投影的合理性和高效率 ,讨论了不完全投影中投影区域的选择原则。实际成像结果表明 :分布在最佳投影区域的 1 2 0°投影可成功地分离出印制电路板不同层次的图像     

X射线数字分层成像的非线性方法研究

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域，通过实验可观察到，在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性，提出了一种新的成像方法，可以提高灵敏度，非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体，使测量进间大大减少。     

针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域，提出了一种新的成像方法，在现有微焦点X辐射成像系统的基础上，采用一种特殊的摆动式扫描方式，基于非线性的重建成像算法，具有扫描速度快，算法简单，实时性高等特点，适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测。     

有限角度摆动式分层成像方法及其在薄层结构物质检测中的应用研究

在多层结构复合材料获得广泛应用的今天，对其分层结构，密度分布等情况的检测和了解显得尤为重要。在用射线对这类材料进行分层成像检测时，一直存在重建图像质量与重建效率（耗时）的矛盾。本文提出了有限角度摆动式分层的成像方法，并通过计算机仿真计算证明了其合理性和高效率，在此基础上提出了最佳投影角度的选择原则，最后给出了应用实例。     

微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究

微焦点X射线成像系统由于被重新安装以及初始化,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量。给出了测量这些偏量值的基本原理和方法,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像,投影图像存在几何畸变。讨论了图像几何畸变校正的基本原理,并给出具体步骤以及校正后的图像.     

X—射线分层成像中灰度重建的研究

利用边缘提取和立体匹配技术可以对X-射线立体透视图像进行分层成像,但分层后得到的物体图像仅仅是边缘图像,研究了一种利用原始的灰度图像对分层后的边缘图像进行灰度重建的方法,使得每一层的图像的接近实际的灰度图像。     

高能X射线实时成像及固体线性阵列探测器技术研究项目中的软件开发

这是一个涉及多学科相关技术的项目,计算机数字成像是该项目中的一部分,即将前端设备送来的信号作相应处理,然后以数字成像的方法在计算机屏幕上显示出来。已实现的功能包括:实时控制系统的启动、停止,实时数据获取,探测器零点校正,探测器效率校正,实时成像,图像缩放,     

X射线面阵列探测器平移扫描分层成像

文章介绍一种先进的移动物品高速准三维成像技术，即利用锥束X射线和面阵列探测器平移扫描(PDTS)，实现移动物品的高速准三维成像。这种成像技术的优点是通过1次简单的平移扫描即可获得物体空间的准三维信息。     

微焦点X辐射密度解析成像方法及非线性校正

提出了一种利用不同能量的X射线束所获得的图像来实现分离物体内部不同密度成像图像的方法。从本质上对这种算法进行了探讨,证明了这种算法的可行性;讨论了产生误差的原因,给出了对误差进行非线性校正的数学模型;并以两种成分的图像分离为例进行了实验,给出了实验结果。     

基于DICOM标准的微焦点辐射图像采集与传输

微焦点X射线成像设备FXS-160包括微焦点X光机、图像增强器、5个运动自由度物品台等,适合于检测集成芯片、电路板、小型器件等,在监视器上可实时获得物体的透视图像。以微焦点X射线成像设备为基础,开发遵循DICOM标准的小型PACS系统,完成微焦点X射线图像的采集与传输,提供了一个可扩展性强、架构灵活的辐射成像实验平台,并为辐射成像工业应用标准的建立进行了有益的尝试。     

多气隙电阻板室探测X射线研究

介绍了多气隙电阻板室(MRPC)的结构和原理,用蒙特卡罗方法计算了MRPC对X射线的灵敏度,并进行了脉冲X光机实验.实验表明,MRPC有望作为大面积的阵列探测器用于X射线成像技术研究.     

药柱内孔的微焦点X射线偏心检测

针对一类特定的微小型药柱,研究了基于正弦图和经验信息,通过微焦点X射线获取三个角度下的X射线投影数据,求解出圆心坐标的方法;从而判断药柱内孔的分布是否偏心,若偏心,则给出偏移量。实验表明,与CT重建结果相比,该方法能够准确地得到圆心坐标,能够满足工业中要求的精度;与经验信息对比,可以判断是否偏心,以及偏移量,为下一步工作转台调整提供参数。     

放射性同位素X荧光测井技术的研究

对放射性同位素源Ｘ荧光测井技术的井液效应，井壁不平度效应和基体效应分别提出了实用的校正技术。野外锶矿Ｘ荧光测井试验表明：Ｘ荧光测井确定的锶矿层厚度和平均品位与传统的岩芯化学分析结果相比较，其相对误差〈１０％，符合锶矿储量计算要求；Ｘ荧光测井可在井场实时提供测井结果，而耗时却短得多。     

脉冲X光机的光源特性参数研究

采用模拟计算和实验测量相结合的方法对瑞典Scandiflash AB公司的脉冲X光机的光源特性参数进行详细研究。基于MCNP5编写蒙特卡罗程序对脉冲X光机的二极管进行建模,并模拟计算X射线的能谱分布;采用热释光剂量计对X光源的剂量进行监测,获得了单个阳极丝寿命期内的剂量数据;用闪烁探测器对脉冲X光机产生的X射线进行测量,获得了X光源的强度分布、脉冲半宽度、抖动规律等。     

基于X-pinch丝负载的背光照相研究

以天光Ⅱ-B装置（250 kA/50 ns）作为实验平台,在装置负载的阴阳极和回流盘上同时安装X-pinch丝负载,利用天光Ⅱ-B驱动X-pinch丝负载,通过背光照相实验获得箍缩发展不同时刻的序列图像。在序列图像中可观察到箍缩叉点处等离子体的内爆及外爆消散。实验结果有助于进一步理解丝负载箍缩等离子体发展的物理机制。     

X射线源针孔成像方法可行性研究

为检验利用针孔成像对X射线源进行研究的可行性，对X射线针孔成像系统进行优化设计，搭建了1套X射线源针孔成像装置。从理论上对X射线源的位置和强度发生变化时图像的相应变化进行了计算和预估，并用实验加以验证。结果表明，像斑中心位置的移动和像斑灰度值的变化分别与X射线源位置和强度的变化在一定范围内存在线性关系，由此证明了利用针孔成像对X射线源进行空间定位及定量研究的可行性。本文结果对X射线源针孔成像的系统设计具有参考意义。