气溶胶粒子消光效率因子的特性研究及尺度谱的拟合

本文利用Mie散射理论，计算出单个球形粒子的消光效率因子Qext，分析它随半径r变化的特性．利用消光效率因子计算出Junge型气溶胶消光系数与波长的关系。并算出Deirmendjian型气溶胶的5种波长消光系数比值表(波长分别为355nm、532nm、683nm、1064nm、1560nm)，根据此表就可拟合出气溶胶的尺度谱．     

光子晶体缺陷腔品质因子的数值设计与优化

从品质因子的原始定义出发,得出了一种可编程的光子晶体缺陷腔品质因子的数值设计方案,基于三维时域有限差分法编写了该方案的计算软件,借助该模拟软件,计算了硅基二维四方晶体和三角晶体微腔的品质因子.结果表明,尽管四方晶体的带隙宽度比三角晶体窄,但能获得更高的品质因子,更有利于提高滤波分辨率和耦合效率.     

双原子分子振转能级和F-C因子的理论计算

应用DPR方法(the discrete position representation method)编程计算了双原子分子Li2三种低电子态和LaF分子基态的振转能级以及非绝热近似下K2分子在不同电子束缚态之间发生振转跃迁的Franck-Condon因子.计算结果与现有的文献值符合得很好,相对误差均小于1%,可以为双原子分子振转光谱的实验研究提供参考数据,计算程序可以推广应用到其它双原子分子以及多维量子系统的数值计算中.     

Ti：Mg：LiNbO_3晶体的折射率温度系数表示式

基于在５３９．７５ｎｍ，６３２．８ｎｍ，１０７９．５ｎｍ，１３４１．４ｎｍ波长上和２８８Ｋ，３３８Ｋ，３８３Ｋ，４２３Ｋ温度条件下，对掺５ｍｏｌ％ＭｇＯ和０．２ｍｏｌ％Ｔｉ的ＬｉＮｂＯ＿３晶体的主折射率的精密测量￣［１］，根据对ＬｉＮｂＯ＿３晶体适用的修正的Ｓｅｌｌｍｅｉｅｒ’ｓ方程，以解出参数Ｃ＿ｉ表达式的方法，求出上述温度时Ｓｅｌｌ－ｍｅｉｅｒ’ｓ方程的参数Ａ＿ｉ，Ｂ＿ｉ，Ｃ＿ｉ，Ｄ＿ｉ，以最小二乘法精确地拟合上述参数对温度Ｔ的线性关系，进而推导出这种晶体的折射率温度系数的表示式。利用此表示式可以计算波长在５３９．７５ｎｍ～１３４１．４ｎｍ区间附近，温度在２８８Ｋ～４２３Ｋ范围左右Ｔｉ：Ｍｇ　：ＬｉＮｂＯ＿３晶体的折射率温度系数。为检验该折射率温度系数表示式的实用性，利用此表示式计算１０７９．５ｎｍ为基波的该晶体的二倍频非临界相位匹配温度，与实验值之差在１Ｋ以内，从而证明这个折射率温度系数表示式对于采用Ｔｉ：Ｍｇ：ＬｉＮｂ＿Ｏ，晶体设计非线性光学器件是适用的。     

4H-SiC p-n结基于精确碰撞电离模型的雪崩倍增因子研究

雪崩倍增效应是4H-SiC雪崩光电二极管、功率半导体器件等器件的关键机理。作为其中最重要的物理参数，雪崩倍增因子(M)的精确解析表达式目前未见报道。文章提出4H-SiC p-n结M的精确计算方法及其解析表达式。基于更准确的碰撞电离模型，通过MATLAB对4H-SiC单边突变结(p⁺-n)电子和空穴的碰撞电离积分(I)进行精确的数值计算，给出击穿电压(BV)随掺杂浓度的经验表达式，进一步提出电离积分随外加电压及掺杂浓度的拟合表达式。此外，对外加电压接近BV的情形进行细致的相对误差分析，表明电子电离积分受电场影响显著。对于雪崩光电二极管及功率器件较宽的BV范围，所提出的拟合表达式在外加反向偏压大于0.65BV时具有较高的精确度(相对误差小于5%)。     

Mie散射因子的计算方法及其应用

在推导Mie散射因子计算迭代公式之后,介绍了几种Mie散射因子的近似计算方法,并给出了相应的计算结果和工程应用分析,为散射探测和散射物理量的计算提供参考.     

激光场中电子被氩原子散射的微分截面研究

应用第二玻恩近似理论，在电子入射方向平行于激光场的极化方向这种特殊的散射模式下，利用光学势模型对激光场中电子一氩原子散射进行了研究。利用静电屏蔽势，分别应用低频近似和第二玻恩近似公式对激光场中电子一氩原子散射进行了计算。和实验相比较，第二玻恩近似方法给出了较好的结果；应用这个较好的理论，利用光学势模型进行了计算，得到了更好的结论。     

掺氮6H—SiC材料电学性质温度依赖关系测量与分析

测量了７－１０００Ｋ的掺氮６Ｈ－ＳｉＣ材料基本电学性质，用电子性方程对载流子浓度温度倒数关系曲线进行拟合，利用化全物半导体散射机构计算了行 率。数据拟合分析得到样品的掺杂浓度、补偿浓度、杂质激光活能和载波子有效质量。分析结果表明，控制杂质能级和表观杂质激活能由补偿度和杂质浓度决定。掺氮６Ｈ－ＳｉＣ材料预期有０．０８ｅＶ、０．１２ｅＶ两个能级，当补偿杂质浓度大于较小能级浓度时，材料将由较高的能级控制     

类氦等电子系列离子的双电子复合速率系数

给出了一套计算类氦等电子数系列离子双电子复合速率系数的解析公式，这套公式能快速、准确地给出类氦离子从Ｂ３＋到Ｘｅ５２＋、电子温度在０．１ｋｅＶ到７０ｋｅｙ范围内各离子的双电子复合速率系数。作为一个例子，计算了类氦硅离子双电子复合速率系数，并与Ｋａｒｉｍ等人的理论从头计算的结果作了比较，二者十分一致。     

频率复用系统同信道干扰抑制因子的研究

本文对频率复胳系统同信道干扰抑制因子提出了解析和统计两种求解方法，并利用统计求解结果，证明了解析求解法在实际情形中应用的可行性。     

Electron atomic scattering factors, Debye-Waller factors and the optical potential for high-energy electron diffraction

High-energy electrons may be elastically and inelastically scattered by a solid. To a good approximation the effect of inelastic scattering on the elastically scattered electrons may be taken into account using the concept of the complex optical potential. The optical potential may be calculated using electron atomic scattering factors and Debye-Waller factors, which in turn can be evaluated numerically using Hartree Fock atomic wave functions and shell models of lattice dynamics. The numerical electron atomic scattering factors have been parameterized using five Gaussian functions for all the neutral atoms of the periodic table and for 106 important ions, and the temperature-dependent Debye-Waller B-factors have been fitted by using fourth degree polynomial regression fitting for 19 compounds with the sodium chloride structure, 5 compounds with the cesium chloride structure, 17 compounds with the zinc-blend structure and 68 elemental crystals.     

Monte Carlo方法模拟低能电子束曝光电子散射轨迹

建立了一个适用于描述低能电子散射的物理模型 ,利用 Monte Carlo方法对低能电子在多元多层介质中的散射过程进行模拟 .低能电子弹性散射采用较严格的 Mott截面描述 ,为了节约机时 ,利用查表与线性插值方法获得 Mott截面值 ;低能电子非弹性散射能量损失采用 Joy修正的 Bethe公式计算 ,并对其加以改进 ,引入多元介质平均电离电位、平均原子序数、平均原子量概念 ,利用线性插值方法给出光刻胶 PMMA对应的 k值 .对电子穿越多层介质提出一种新的边界处理方法 .在此基础上运用 Monte Carlo方法模拟高斯分布低能电子束在 PMMA-衬底中的复杂散射过程 .     

借助高分辨电子显微像校正电子衍射强度的动力学效应

针对高分辨电子显微学和电子衍射相结合测定晶体结构的图像处理技术，提出了一种借助高分辨电子显微像来校正低散射角电子衍射强度动力学效应的新方法，将此法试用于Ｂｉ２（Ｓｒ０．９Ｌａ０．１）２ＣｏＯｙ晶体结构分析，结果说明此法有效。     

电子显微镜的现状与展望

本文扼要介绍了电子显微镜的现状与展望，透射电子显微镜方面主要有：高分辨电子显微学及原子像的观察，像差校正电子显微镜，原子尺度电子全息学，表面的高分辨电子显微正面成像，超高压电子显微镜，中等电压电镜，１２０ｋＶ，１００ｋＶ分析电镜，场发射枪扫描透射电镜及能量选择电镜等，透射电镜将又一次面临新的重大突破，扫描电子显微镜方面主要有：分析扫描电镜和Ｘ射线能谱仪，Ｘ射线波谱仪和电子探针仪，场发射枪扫描电镜和     

Restoring atomic configuration at interfaces by image deconvolution

The image deconvolution technique in combination with dynamical scattering effect correction developed previously for crystal defect investigation has been modified to meet the needs of interface studies and applied to a [111] twin model of Si. Elliptical windows are utilized as a new means for Fourier filtering and correcting the amplitudes of reflections. Images were simulated with a 200 kV field-emission high-resolution electron microscope. After image restoration, four images simulated with different defocus values were transformed into structure images with atomic columns revealed individually at correct positions. The effectiveness of the technique is discussed.     

Computing scattering amplitudes for arbitrary cylinders under incident plane waves

A numerical method to compute scattering amplitudes for time harmonic waves scattered from infinite cylinders with arbitrary uniform cross section is described. A nonlocal boundary condition is used to develop a variational formulation of the scattering problem, and the finite element method is applied to determine approximations to the near field. Scattering amplitudes are then determined by means of an integral representation obtained from Green's formula and properties of the nonlocal boundary operator. Computational results are presented to illustrate the method's application.     

场发射高分辨电子显微像的复原

本文讨论了弱相位物体近似的实际应用范围，在此基础上对场发射高分辨电子显微像作了解卷处理。     

分形粗糙面的电磁散射－扩展边界条件

用扩展边界条件方法对分形粗糙良导体面及介质面的电磁散射问题进行了分析。用推广的Floquet模式，在分界面处将场分量用Fourier级数展开，根据边界条件及扩展边界条件得到了水平极化和垂直极化散射场的幅度分量的表达式。用其它近似方法（Kirchhoff和Rayleigh方法）及能量守恒准则验证了此方法的有效性。     

电子显微技术在冶金考古中的应用

本文举例阐述了２０余年来，在柯俊教授领导和参加下，应用电子显微技术研究冶金考古学中的问题。     

A graphical user interface (GUI) for plane-wave scattering from a conducting, dielectric, or chiral sphere

Various numerical techniques have been developed for modeling electromagnetic field propagation in various novel complex media. The validity of these techniques is usually verified by comparison to the exact solutions of canonical problems. Recently, research has focused on chiral media, a subclass of materials known as bianisotropic materials, and numerical techniques have been developed in order to calculate the interaction of electromagnetic fields with chiral objects. One canonical problem for these techniques is plane-wave scattering from a chiral sphere. This work presents a software package that displays and saves the calculated data for the scattering from a chiral, dielectric, or perfectly conducting sphere using a friendly graphical user interface (GUI).