含颗粒物试样的电子探针定量分析

本文提出用电子探针对基质中含有颗物的试样定量分析的原理和方法。对基质中颗粒物里的组成元素或化合物,引入了有效占有度W,把体系化分为集中分布和非集中分布,给出了有颗粒物存在时求平均成份的基本方式,建立了物理模型方法,给出了集中分布情况下ZAF校正中的参量修正分式和求W的表式。最后对上述理论进行了实验验证。     

贵州织金新华含稀土磷矿床的电子探针研究

位于贵州织金县的新华磷矿是一个超大型磷、稀土综合矿床。已探明磷矿石储量13.148亿吨，稀土氧化物储量144.16万吨。至今稀土元素未找到一条效益理想的综合利用途径。     

含超轻元素样品的电子探针定量分析

超轻元素的电子探针定量分析的困难之一是:许多元素对超轻元素的K_α射线的质量吸收系数μ/ρ数据不可靠,不同工作者给出的数据可相差几倍。详见评述性文献(1)。Kohlhaas和Scheiding测定了一系列含O、N、C、B的已知成分的化合物中O—K_α,N—K_α,C—K_α,B—K_α射线的强度,用ZAF修正计算法计算出了许多元素对这些软x射线的质量吸收系数ι/ρ。由于他们采用的ZAF修正公式不适用于轻元素,致使他们的μ/ρ值误差极大。Love等提出了一套既适用于重元素又适用于轻元素的ZAF修正计算公式。本工作用Love等的修正计算公式重新处理了Kohlhaas和Scheiding的强度数据。得出的各元素对O—K_α,N—K_α,C—K_α和B—K_α射线的μ/ρ值。与他们的值不同,但却与Henke等用透射衰减法直接测定的对软x射线的μ/ρ值符合很好,也与Ruste和Gantois等用另一种适用于超轻元素的ZAF修正计算法测出的μ/ρ值基本一致。     

用电子探针研究铜在铝中的扩散

本文用电子探针研究了铜在铝中扩散问题,发现不同添加元素对铜扩散的影响。 1.添加0.2％Ni后,铜在铝中扩散速率减慢。 2.添加0.2％的混合稀土,当温度超过500℃时,发现有抑制铜扩散的作用。 3.添加1％Mn能使铜在铝中扩散加快。 4.添加0.2％Zn,0.2％Zr,0.2％Mn,1％Re后,铜在铝中扩散速率无明显变化。     

用电子探针定量分析元素化学状态

本文介绍了一种用电子探针波谱仪对元素化学状态进行定量分析的方法：分析元素不同化学状态相关特征X射线的差异,选取有代表性的波长值作为检测点采集一系列强度值,结合线性最小二乘计算,最终可得到单独一种价态的含量。电子探针具有微米级的空间分辨率和激发深度,在状态分析上可以成为X射线光电子能谱的有益补充。     

电子探针仪用流气正比计数管

本文讨论在电子探针中用于探测超软x射线的流气正比计数管的特性,其关键是如何提高计数管输出脉冲幅度和能量分辨本领。分析满足这些要求的条件并介绍装校计数管阳极丝和制作窗口薄膜的一些经验。     

新型防锈润滑添加剂的合成与红外光谱研究

以壬基酚聚氧乙烯醚、顺丁烯二酸酐和二乙醇胺为原料合成了一种具有防锈、润滑双重性能的水基合成切削液添加剂-琥珀酸壬基酚聚氧乙烯醚酯二乙醇酰胺.采用红外光谱法对原料、中间体和产物进行了研究,确定了最佳的合成反应工艺条件.     

用电子探针测定碳的X光光谱

用电子探针测定了六种碳的同素异性体和七种碳化物中的ＣＫα光谱。结果表明，六种纯碳物质的ＣＫα光谱的波长、外形以及强度等均互不相同。七种碳化物的ＣＫα不仅不同于各种纯碳物质的，而且其波长、半高宽、对称系数等随化合物中的金属元素的原子序数作周期性变化。为探讨ＣＫα光谱与电子结构的关系提供信息及碳化物的电子探针定量分析提供了有用的数据。     

电子探针分析用合金标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用合金标准样品的制作方法。其中包括:(1)合金材料的熔炼方法。(2)合金材料成份的测定方法。(3)合金标准样品的制作方法。(4)合金标准样品均匀性和稳定性的检验方法。(5)用电子计算机自动测试标准样品均匀性和稳定性的程序。(6)自己研制的几种合金标准样品和部分检验数据。(7)标准样品的保护和修理方法。     

热浸镀铝工艺及稀土添加剂的影响

研究热浸镀铝工艺,并向热浸镀铝液中添加微量混合稀土（RE）元素,探讨了RE对热浸镀铝层的影响。结果表明,适量的RE可以提高镀层的质量和镀件的抗氧化性。     

镀铜用的添加剂

本文概述了酸性硫酸铜镀铜用的添加剂组成,可以改善低电流密度部分的镀层的均镀能力和光亮性,适用于孔金属化印制板的光亮镀铜。     

电子探针分析用人工晶体标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用人工晶体标准样品的制作方法。其中包括:(1)人工晶体的制作方法。(2)晶体标准样品的制作方法。(3)材料结构对于标准样品信号的影响。(4)自己研制的几种人工晶体标准样品。(5)使用标准样品进行定量分析应注意的事项。     

电子探针分析用单质金属标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用单质金属标准样品的制作方法。其中包括:①电子探针分析对标准样品的要求。②单质金属标准样品材料的制备方法。包括:材料的熔炼,杂质的检验,加工成形等。③标准样品的制作方法。包括:样品柱和样品座的设计,样品与样品柱之间的接合,样品工作面的研磨和抛光等。④标准样品的检验方法。包括:平面性,粗糙度,均匀性,稳定性,污染等。文中还介绍了自己研制的几种单质金属标准样品,以及部分检验数据。     

电子探针分析用标样检验中的一些问题

作为电子探针分析用标样,必须具有微米尺度空间范围的成份均匀性,用高于探针分析精度和准确度的分析方法加以定值,并且在真空中,电子轰击下具有良好的稳定性,能长期保存、使用。为了正确地鉴定这些属性以进一步判断标样的质量和实用性,应当有一套较为完善的检验方法和合理的判据,根据几年来标样工作的实践,提出以下几方面和大家一起讨论、研究。     

纯铜渗铝层的电子探针研究

纯铜渗铝层的电子探针研究马永庆于志伟（大连海事大学金属材料研究所，大连１１６０２６）本文用ＪＸＡ－７３３电子探针研究了纯Ｃｕ渗Ａｌ层的Ａｌ浓度分布和相组成，为制备Ｃｕ－Ａｌ２Ｏ３复合材料的研究提供前期工作。实验用纯Ｃｕ（９９．９％）试样尺寸为２０×１...     

用电子探针分析法研究催化剂活性组份分布中的样品制备问题

本文介绍一种用电子探针分析法研究负载型催化剂中活性组份分布的制样方法。它能满足:(1)用X-射线分光谱仪法测定特征X-射线强度的分布,(2)用X-射线能谱法逐点进行元素的定量分析,(3)用X-射线能谱法的线扫描方式测量X-射线强度的线扫描分布来测定催化剂中的活性组份分布。文中叙述了样品磨平、抛光的步骤,以及有关的实验技术。     

电子探针的维修

电子探针已被广泛地用来观察各种物质表面超微结构形态和成份组成。我院EPM-810电子探针从1984年安装使用以来,共完成了试样成份分析4千余件,摄片3千余张。下面是我们对该仪器维修情况进行介绍:一,维修前的准备工作:1.全面热悉仪器各系统工作原理、电路图,特别是各种信号的流向、处理及相互关系。我们根据制作该仪器的岛津公司提供的资料及实际部件分为:①,主体部分;②,X射线谱仪、X射线信号和样品台控制系统;③,电子光学和电子信号控制系统;④,真空系统;⑤电源系统;⑥M_(243)微机控制系统;⑦显示记录系统。2.故障出现后,详细了解全面观察内外现象,尽量缩小故障范围。根据测试参数正确判断故障部位,勿不经慎重考虑任意动手换元件,调整工作点等,否则给检修工