X荧光光谱法测定有机肥中的金属元素砷、铬、铅

为了快速、准确地分析有机肥中砷、铬、铅的含量,更好地为农业土壤污染防治服务,营造一个健康的农业生态环境,保证农产品的安全性。采用X荧光光谱法测定有机肥中的砷、铬、铅,测定结果中砷、铬、铅的精密度（RSD）分别为2.5%～6.2%、2.6%～5.6%、3.4%～7.8%;方法检出限分别为0.5 mg/kg、3.3 mg/kg、Pb为1.8 mg/kg,其满足质量规范要求。与标准NY 525—2021作方法比对,数据一致性好,可靠。充分解决了操作繁琐、测定周期长、精密度差、成本高、污染环境等问题,值得研究借鉴,具有一定的应用推广价值。     

比色法快速测定钢中铬

1　前言铬是钢中常见的元素,它的含量直接影响着钢的机械性能和其它物理性能。因而钢材的生产厂家非常重视铬的分析。铬的分析方法很多,高铬一般采用容量法,低铬一般采用比色法。例如,比较普及的“用二苯氨基脲与Ｃｒ6 作用生成紫色络合物”比色法。但该方法中用Ｆｅ3 的掩蔽剂Ｈ3ＰＯ4对显色有抑制作用,必须采样量要小,这样又极易产生较大的相对误差。本文采用Ｈ3ＰＯ4与ＨＦ混合溶液法做Ｆｅ3 的掩蔽剂,加大称样量,以高氯酸为氧化剂,借鉴容量法控制氧化程度信号,用二苯氨基脲与Ｃｒ6 作用生成紫色络合物,比色,快速测定钢中残余铬,并用于炉…     

X射线荧光分析仪在玻璃工业中的应用

本文探讨了在玻璃工业中,应用X射线荧光分析仪测定原料以及产品成分的意义,介绍了粉末试样制作方法,用日本RIGAKUX射线荧光分析仪测定硅砂及玻璃产品多种化学成分含量的方法,本方法简单、快捷、准确。     

一种快速测定铬的分光光度法

本文介绍一种快速直接测定铬(Cr~(3+))的分光光度法——EDTA法。该法可不分离铁,即在PH=0.6～1.0范围内,将铁离子(Fe~(3+))用抗坏血酸还原。本法以测定钢样中铬(Cr~(3+))为例,并与标准钢样比较。     

玻璃着色元素铁、钴、镍、硒的同时测定

研究了利用电感耦合等离子体原子发射光谱仪同时测定玻璃中着色元素铁、钴、镍、硒的分析谱线、射频发生器功率、雾化气流量等工作参数的选择,建立了ICP-AES法同时测定玻璃中铁、钴、镍、硒的方法,方法的相关系数在0.999以上,RSD值不大于10%,各元素回收率在86.0%至106.7%之间,可满足生产及科研的需要.     

X荧光法测定玻璃原材料硅砂

硅砂是我公司玻璃生产用量最大且最重要的原料，一直采用化学方法分析，具有取样量少、分析结果代表性差、不稳定且分析时间长的缺点。为改变硅砂分析现状，适应生产要求，经过多次实验，以粉末压片，利用X44软件中的函数功能成功实现了硅砂分析过程元素间的经验a系数校正，Si02的含量采用差减法求出，从而达到用X荧光分析硅砂的目的，提高了分析结果的代表性及准确性，降低了分析难度，缩短了分析时间。     

X射线荧光光谱快速分析浮选磷矿中的P2O5和MgO

使用Thermo Fisher公司AREADVANT’XP型X射线荧光光谱仪，采用粉末直接压片和基本参数法校正基体效应的方法，实现了浮选磷矿中控样主要指标P2O5、MgO的快速分析，各组分的精密度（n=7）RSD〈1．0％.监控样的分析结果与化学法或熔融-XRF法的结果基本吻合。     

X射线荧光光谱法测定浮选磷矿中的主次组分

采用压片制样、X射线荧光光谱法测定浮选矿中磷、镁、铁、铝、硅、钙,选择了适合该矿种的测试条件,用经验系数和理论α系数法进行基体效应校正,各组分的标准偏差(SD,n=10)均小于0.04%,结果与化学法吻合。     

X射线荧光光谱仪无标样分析测定磷矿浮选样品组成

采用粉末压片法制样,应用X射线荧光光谱仪,按无标样分析方法测定磷矿浮选样品中的P2O5、CaO、MgO、SiO2、Al2O3、Fe2O3含量,并对测定结果进行经验校正。该方法简便快速,灵活高效,适用性强,有较高的准确性和可靠性。     

X射线荧光光谱法快速测定钛合金中的Al、V

本文研究了X荧光光谱仪快速测定钛合金中Al、V元素的方法。通过试验确定仪器最佳测试条件,应用基体元素校正公式对标准工作曲线进行校正,结果表明,该方法快捷、简便、准确度高、稳定性好。     

X-射线荧光光谱分析仪在水泥生产控制中的应用要点

X-射线荧光光谱分析技术具有分析快速、准确、不破坏样品、分析物料种类多以及分析范围广等特点，所以在水泥行业得以迅速发展。本文就水泥生产控制中应用荧光仪的要点作简单介绍。     

原子荧光光度计测定水中汞的方法研究

对原子荧光光度计检测水中汞进行了研究,发现使用5%的盐酸做载流液,10 g/L的硼氢化钾溶液做还原剂等检测条件下,其实验结果令人满意。     

铜基金刚石工具中铬的快速测定

文章提出了采用硝酸溶样,高氯酸直接冒烟氧化Cr3+为Cr2O72-,硫酸亚铁铵氧化-还原快速滴定来测定铜基金刚石工具中铬的新方法.试验表明,该方法省时、操作简便,减少了环境污染,是一种有效的实用方法.     

X射线荧光光谱仪测定磷矿石中P2O5基底滤纸制样条件研究

磷矿石样品分析中采用薄膜法、滤纸片法等[1-3],其优点是,制样手续简便,试样用量少,数据处理时所用计算公式简单,吸收-增强效应可不考虑。在薄膜法制样中,选取最佳试样厚度和控制液斑面积,可进一步节省试样,获得更满意的分析结果。本文研究用滤纸片制样——XRF法测定磷矿石中P2O5时,滤纸片吸附磷矿石的总量(即厚度)和磷矿石液的扩散面积对分析结果的影响。     

纸析法X射线荧光光谱测定湿法磷酸中的杂质

以滤纸为载体,实现液体样品固体化,在X射线荧光光谱仪上通过标准工作曲线法,定量测定湿法磷酸中CaO、MgO、Fe2O3、Al2O3等组分,介绍测定条件、试样制备、工作曲线的校正和数据处理。本法制样和分析过程具有简单、快速、准确及成本低的特点,能满足化工生产需要。     

Axios-PW4400型X射线荧光仪的曲线漂移校正方法

本文介绍了Axios-PW4400型X射线荧光仪的曲线漂移校正方法,从监控荧光仪稳定性入手,当仪器状态发生变化时使用标准化样对漂移的荧光强度进行补偿校正,消除仪器状态变化对荧光仪检测结果的影响,并通过检测标样完成对工作曲线准确性的验证.该校正方法代替了用手工滴定进行比对的传统方法,大大提高了工作效率,降低了劳动强度.