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LED光色电综合性能分析测试原理与仪器 总被引:5,自引:4,他引:1
光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义。本文介绍了LED光色电综合性能分桥测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIK推荐标准条件。 相似文献
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LED器件一般采用光谱仪对其光谱参数进行测试,利用公式计算出色品坐标,再利用色品坐标计算得到主波长。传统计算主波长的方法是通过先求斜率再查表得到结果,计算过程不够直观。本文提出一种新的可以准确计算LED主波长的方法,并利用软件编程实现,整个计算思路和过程简单直观,易于理解接受。最后对几种单色LED器件进行了实际测试和计算,验证结果证明本方法有较高的准确性,并且可以方便的切换参考光源,得到不同的计算结果。 相似文献
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文章基于瓦级大功率白光LED在照明领域应用的广泛性和重要性,展开了瓦级大功率白光LED光色电特性的研究。采用大功率LED封装设备与紫外-可见光-近紫外光谱分析系统,制备并测量了瓦级大功率白色发光二极管(LED)在不同正向电流IF驱动下的光通量、电功率、发光效率、发射光谱和色品坐标等参数。研究表明,光通量与电功率随耳的增大呈亚线性增长的趋势,而荧光粉转换效率下降是影响其辐射功率的主要原因之一。当电流增大时,白光LED光谱的蓝光峰值出现先蓝移后红移的现象,而黄光部分光谱形状无明显变化。此外,色坐标x、y值均随着IF的增大而降低,主波长减小,色温值升高。 相似文献
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发光二极管光谱参数测试方法的研究 总被引:6,自引:2,他引:4
影响发光二极管(LED)颜色的光谱参数有:峰值波长、带宽、主波长和质心波长。峰值波长和带宽反映了LED发光的物理特性,主波长反映了LED发光的目视感觉,质心波长是LED的几何对称波长。用分光光度法和CCD器件测量LED的光谱参数,精度达1nm。用质心波长来估算主波长,误差小于3nm。 相似文献
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引言 以LED为代表的创新光源,消耗的功率极低,基本上没有热量产生,适合多种家用和商用照明.LED的使用寿命长,这相当于节省了维修成本.与普通照明灯相比,LED照明技术有很多优势:能效高(每瓦流明);直接光束可以提高系统性能;动态光色控制技术,亮度完全可调,无色调变化;低压操作适合SELV系统的安全目的. 相似文献
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提高LED的光学和电学参数的测量精度与效率对于确保LED的产品质量、满足市场需求具有重要的意义.根据企业中LED的实际生产情况,给出了一种基于.NET平台的LED/板上芯片(COB)光电参数快速测量系统的软硬件设计方案.该系统通过可替换结构实现LED/COB多规格测量;通过与上层生产过程执行系统(MES)系统或企业资源规划(ERP)系统数据交互实现在线测量;通过设备各个独立运动部件的协同配合实现快速测量;通过光谱仪中线性电荷耦合元件(CCD)各个像素与LED波长的对应关系,实现了全光谱同时测量;通过对测量数据的处理,实现了基于LED光电和色度参数的自动分选.实验验证结果表明,系统能够有效提高LED光电参数测量的精度与效率. 相似文献
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为了提高电力电缆测温系统的测量精度和速度,提出了以光纤梳状滤波器代替参考光栅提供拟合数据参考点,采用最小二乘法拟合光纤Bragg光栅波长和F-P可调谐滤波器调谐电压的线性关系,通过F-P可调谐滤波器解调FBG传感器中心波长变化的方法,完成对电力电缆温度的测量.研究表明,光纤梳状滤波器能够代替多个恒温参考光栅实现波长标定,对反射波长的测量误差<5pm,温度均方误差≤0.7 ℃. 相似文献
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热学特性是影响功率型LED光学和电学特性的主要因素之一,设计了一套基于脉冲式U-I特性的功率型LED热学特性测试系统,可以测试在不同结温下LED工作电流与正向电压的关系,从而获得LED的热学特性参数。该系统通过产生窄脉冲电流来驱动LED,对其峰值时的电压电流进行采样,同时控制和采集LED的热沉温度,从而获得不同温度下LED的U-I特性曲线。与其他U-I测试系统相比,文中采用了窄脉冲(1 s)工作电流,LED器件PN结区处于发热与散热的交替过程,不会造成大的热积累,大大提高了测量精度。实验中,对某功率型LED进行了测试,获得了该器件的电压、电流和结温特性曲线,并利用B样条建立该器件的U-I-T模型,进而实现了对其结温的实时在线检测。 相似文献
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LED芯片的定位精度直接决定了LED制造装备的生产质量和效率,为了提高LED芯片的定位精度,提出了一种基于亚像素边缘检测的芯片定位算法.该算法首先采用Gamma变换方法增强图像的对比度,并利用Blob算法获取芯片有效区域;接着采用Canny算法进行芯片亚像素边缘轮廓的提取;最后,通过拟合芯片边缘轮廓,获取芯片位置中心,完成芯片位置的精确识别.该算法不需要人工训练模板进行匹配,提高了边缘提取的定位精度,实验表明,该算法能在平均4 ms内完成一颗芯片的识别,且重复精度达到0.1 pixel,满足LED芯片高速高精度定位需求. 相似文献
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针对LED显示屏以模组为最小单位进行拼接而出现模组发生空间畸变的问题,提出了基于CCD相机采集并利用图像处理技术定位检测LED显示屏模组畸变度的方法。首先,根据LED像素在采集图像上的光型分布,利用canny边缘检测方法结合闭合填充算法将LED点阵像素分割;然后,利用被分割出的空间区域信息和灰度信息,采用加权质心法对每个LED像素进行亚像素级的加权定位。接着,以模组拼接的LED显示屏为例,构建了模组畸变模型,并根据畸变模组和理想模组的线性关系利用最小二乘法进行拟合;最后,利用梯度下降法求得每个模组的畸变参数。实验结果表明:采用这种方法测量多种模组LED点间距的精度为0.5mm,模组畸变特征参数的测量过程中,角度测量精度为1.3°,位移测量精度为2.2mm,基本满足自动影像测量的稳定可靠、精度高、抗干扰能力强等要求,并可在户外机械检测无法测量的情况下应用。 相似文献