四机部电子管长寿命技术攻关经验交流会专集目录预告

{改进EY一501行波管寿命的初步工作提高CKM一99磁控管寿命及可靠性的几点体会宽频带连续波速调管KF一115试制情况BB一1110型返波管的研制关于FU一1 042寿命终了电子管的解剖和提高寿命的一些措施长寿命、高可靠的可控高压整流管—ZGI一35/20型汞气闸流管利用充汞提高平面型辉光放电多位数码管的寿命等离子体显示器件关于延长彩色显象管寿命的情况汇报9”黑白显象管寿命试验的分析与研究电子束管加速寿命试验小结寿命试验的数据处理问题{巫三亚{长寿命阴极与长寿命电子管粉敷镍阴极在显象管中的应用影响阴极寿命的因素及长寿命阴极的测…     

一种推断显象管寿命分布的方法

1 引 言 电子束管的寿命是指管子开始工作一直到失效为止所经历的时间。电子束管常见的寿命分布有威布尔分布、指数分布和正态分布。我公司从日本东芝公司引进生产47cm彩色显象管,(以下简称显象管)时,未得到该管子的寿命分布及有关的可靠性特征量。 为此,我们在不影响正常试验的情况下,挖掘现有试验设备的潜力,开展试验工作,终于使问题得已解决。 2 加速寿命试验方案     

示波管“边缘寄生放射”的探讨

按四机部《电子束管寄生放射的测试方法》(SJ460-73)中的定义:电子束管各电极加上规定的电压后,使管子处于截止状态或规定亮度;规定扫描光栅尺寸时,由杂散电子引起荧光屏发光的现象,称为寄生放射。在实际生产中发现:具有螺旋后加速电极的示波管,当把扫描光栅沿水平扫描(X)方向,位移至电子束扫描到荧光屏边缘时,屏上会出现烟火状的发光现象。此现象同样影响对     

空间行波管长寿命加速评价法研究

本文开展了对高可靠长寿命空间行波管的长寿命评价技术的研究,提出了基于空间行波管电子枪短管的加速寿命试验及评价方法,对空间行波管短管试验样品开展了加速寿命试验,获得了相应的试验数据,并提出了短期无失效数据的寿命预估方法,基于上述加速寿命试验获得的数据,获得了在阴极支取电流密度为1.5 A/cm²下某长寿命M型空间行波管的预估寿命为25.33年,从而实现了高可靠长寿命空间行波管的寿命评估。     

电子元器件加速寿命试验方法的比较

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.     

用扫屏放气性能表征彩显管真空质量的测试方法及其应用研究

简介了测试扫屏放气性能的原理、装置、方法、数据处理过程与误差分析.应用研究表明,寿命初期(25 h内)的扫屏放气性能就能表征彩显管的真空质量,用它可判断或比较制屏工艺与材料(包括排气工艺与设备)的优劣,预估因真空因素导致失效的整管寿命水平.这种快速信息反馈方法,比"加速寿试"更能及时地反映工艺或材料变更对成品管带来的影响.     

第四章 恒定应力加速寿命试验及数据处理

对于长寿命高可靠器件体寿命特性的评估,用常规的长期寿命试验是非常困难的,这要耗费大量试验样管,很长的时间,有的甚至来不及做完试验,这种器件就被淘汰了,即使采用截尾试验,要达到一定失效数,也需很长时间。解决这个矛盾的办法是采用加速寿命试验。所谓加速寿命试验就是将待试样管置于高于正常工作的应力水平下进行试验,加快样管的失效过程,缩短试验周期,以便在较短的时间内预测正常应力条件下的寿命特征。加速寿命试验的理论基础实质上是反应率动力学。     

高可靠性机载行波管内涂复浸渍阴极的加速寿命试验方法

一种加速寿命试验方法建立在采用Ｍ－型阴极机载行波管上。这种方法指出能有效的预计行波管的可靠性。这种Ｍ－型阴极有两个限制寿命因子：一个是浸渍剂的减少而另一个是阴极表面涂层的退化。这些因子在加速条件下的理论计算是通过这些寿命试验的结果来证实。最高加速是在阴极温度为１１００℃Ｂ上，具有阴极电流密度为０．６Ａ／ｃｍ＾２得到的。这时取得加速因子是３１，采用取得这些加速因子预计在最佳阴极温度上行波管的使用寿命     

温差电致冷组件寿命加速试验方法研究

针对现有标准中温差电致冷组件寿命试验方法缺失,通过开展不同热面温度(60℃、65℃、70℃、75℃)下的加速试验验证,分析了最大温差、电阻、最大温差工作电压等关键参数的变化,确定了加速因子,研制形成温差电致冷组件寿命加速试验方法,显著缩短了寿命试验的验证时间,满足了应用发展需求。     

JEM-2000FX电镜电子束发生系统故障分析及检修

ＪＥＭ 2 0 0 0ＦＸ透射电镜 (ＴＥＭ)在使用时经常出现电子束闪动 ,经过检修 ,更换了ＪＥＭ 2 0 0 0ＦＸ电镜加速管分压电阻、灯丝 ,清除了高压电缆接入端等处的放电痕迹并将拆开的所有部件做了彻底清洗 ,最终排除了电子束闪动故障。分析全部检修过程可知 ,暗电流增加为加速管分压电阻阻值减小所致 ,在检修过程中发现有多处放电痕迹 ,说明存在系统放电现象 ,这势必导致整个电路电流 (包括灯丝电流 )的不稳定。故障现象 :据使用者反映 ,ＪＥＭ 2 0 0 0ＦＸ透射电镜 (ＴＥＭ)在使用时电子束经常闪动 ,即使在 1 2 0ｋＶ电压下使用电子束闪动也…     

指数步降加寿试验分组数据的MLE与模拟分析

加速寿命试验在高可靠、长寿命的产品寿命估计中的应用愈来愈广泛,而步降应力试验方法能在较短的时间内获取足够统计精度的失效寿命数据,在很大程度上改善了加速寿命试验效率。对简单步降试验（即两步步降试验）所获得的分组数据进行统计分析,估计加速模型方程参数,给出了指数分布情形下的极大似然估计。模拟实例充分验证了该理论的可行性和有效性,为高可靠长寿命产品的评估提供了更为高效、低资的寿命试验解决方案,完善了加速寿命试验理论。     

移动通信手机电池的发展及测试

用户在面对种类襞多的手机电池的同时,提出了使用安全、大容量、长寿命、可快速充放电、无记忆效应、体积小、质量轻等系列要求。手机电池的广阔市场使得各种品质的产品纷纷涌入。为了防止其中夹杂的假冒伪劣电池给手机用户带来损失,规范手机电池的生产并为检测工作提供依据,原邮电部颁布了YD／T856-1996《移动通信手持机电源技术要求和试验方法》及YD／T998-1999《移动通信手持机用锂离了电源及充电器》,原电子部也颁布了SJ／Tl1194-98《移动通信手持机电池(金属氢化物镍电池)规范》和SJ／Tl1195-98《移动通信手持机电池(镉镍电池)规范》。     

内光电导靶摄象管中电子束着靶时的自变尖效应

本文对Vidicon型摄象管中电子束着靶时的自变尖效应及其对电子束分辨能力的影响进行了计算机数值分析。所采用的数学物理模型为电子束中电流密度在横截面上的分布为Gauss分布;电子束中电子的能量分布为Maxwell分布;电子束读出靶面信息的模型为电容放电模型。在电子束截面为一维模型时,计算了1¼、1、2/3PbO管(plumbicon)1Sb2S3管和1硒砷碲管(saticon)中电子束自变尖的情况及其对电子束幅度响应函数(AR)的影响。分析了束电流、信号电流、束等效温度、靶面电容、扫描速度等因素在自变尖效应中所起的作用。本文还以1 ¼PbO靶管为例,给出了电子束截面为二维模型时,电子束有效着靶截面的自变尖情况。     

印制电路板加速寿命试验方法综述

寿命试验是一种重要的可靠性试验,基于加速寿命试验方法和大数据分析的印制板可靠性评估技术,未来应用前景广大.文章综合阐述了可应用于印制板加速寿命试验的常用加速寿命试验模型、加速因子计算和加速寿命试验方法,希望能够为业内相关研究和应用者提供一定指导和帮助.     

威布尔分布下VFD恒定应力加速寿命试验与统计分析

为了精确地估计真空荧光显示器(VFD)的可靠性寿命,节省试验测试时间,通过建立加速寿命试验模型开展了4组恒定应力加速寿命试验,采用威布尔函数描述VFD寿命分布,利用最小二乘法(LSM)估计威布尔参数,完成了试验数据的统计分析,并自行开发了寿命预测软件,确定了加速寿命方程,实现了VFD的寿命估计。数值结果表明,试验设计方案是正确可行的,VFD的寿命服从威布尔分布,其加速模型符合线性阿伦尼斯方程,每个加速应力水平下VFD的失效机理不变,精确计算出的VFD寿命对其生产厂商和技术人员具有重要的指导意义。     

可靠性问题讲座——第三讲 可靠性试验(下)

(3)加速寿命试验长期寿命试验方法需要很长的时间,统计寿命试验方法需要大量的样品,这两种方法都有其优点和缺点,多年以来人们就想寻找一种多快好省的试验方法来解决这个矛盾。经过人们的长期实践,终于     

一种步进应力加速寿命试验数理统计分析法

本文提出了处理步进应力加速寿命试验的“时间等效”数学模型,并用它把寿命分布服从对数正态分布(或威布尔分布)、有m步的一次步进应力加速寿命试验变为有m级应力的恒定应力加速寿命试验来分析处理.并且推导出了它们之间的变换计算公式.用本法处理质子轰击隔离WC56型砷化镓场效应管步进应力加速寿命试验,获得了满意的结果.     

简单步进加速寿命试验下指数寿命产品的BAYES统计分析

1 问题的提出与基本假定1.1 问题的提出步进应力加速寿命试验是产品进行可靠性寿命试验的常用方法,对其试验数据的统计分析,通常是要求知道产品的寿命分布的有关参数与所施加的应力之间有已知的加速寿命模型,而一切的统计分析方法均以此为依据,但在一些实际问题中,加速寿命模型并不知道。本文针对这一情况,采用Bayes分析技术,给出在步进应力加速寿命试验下产品寿命数据的统计分析方法.1.2 基本假定本文给出的统计分析方法是建立在下面几个基本假定之下的。假定1 正常应力水平的S_0,加速应力水平为S_1,S_2,满足     

大功率LED加速寿命试验及问题分析

采用国家标准(GB1772)规定的电子元器件加速寿命试验方法,选择了工作环境温度作为加速应力,设计了四个应力等级的大功率LED加速寿命试验方案并进行试验.试验结果为每个应力等级下的失效模式有2～3种,不同应力级别确定的激活能有一定的差异.通过对金丝引线球焊处开裂、金属化层失效等主要失效机理的产生原因以及温度、电流密度之间关系分析,认为基于Arrhenius模型进行大功率LED加速寿命试验存在不足和缺陷,不能准确地预测稳态温度下的LED寿命,应当对Arrhenius模型进行修正.     

环保电子节能灯加速寿命试验数据的统计分析

提出一种利用加速寿命试验对环保型电子节能灯进行寿命检测的新方法.该方法采用威布尔分布函数描述其寿命分布,利用最小二乘法结合阿伦尼斯加速模型完成了对试验数据的统计和分析.试验和分析结果表明,该方法能极大缩短寿命检测时间,实现了在短时间内对正常应力下环保型电子节能灯寿命的科学估计.