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注水剖面同位素测井影响因素分析 总被引:1,自引:0,他引:1
同位素吸水剖面测井受诸多因素的影响,各种影响因素都会对资料的解释精度产生一定的影响。根据大量的测井资料对同位素污染、地层污染、同位素粒比重、同位素释放深度及时间、测井时间、施工方式、管柱腐蚀变形等进行了探讨分析,并对各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法和依据。 相似文献
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分析了同位素注水剖面测井技术的局限性,介绍了流量计注水剖面测井技术的仪器特性、管柱要求、施工方法,研究了在不同注水方式下流量计测井资料的解释方法。该技术在识别大孔道地层、检查井下管柱情况、判断套管漏失、提高注水剖面解释精度等方面取得了良好的应用效果,采油厂根据解释结果对部分井采取相应措施后,对应油井见到了明显的增油效果。 相似文献
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五参数注水剖面组合测井资料的应用 总被引:1,自引:1,他引:0
注水剖面测井资料是油田开发不可缺少的动态监测资料,文章介绍了江苏油田在低渗和非均质严重储层条件下如何利用五参数注水剖面资料对注水量进行综合解释、判断大孔道、消除粘污和检查管柱漏失状况等。五参数注水剖面资料在江苏油田开发中取得了较好的应用效果,具有广阔的应用前景和推广价值。 相似文献
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本文通过详细分析同住素注入剖面和连续流量组合测井资料,提出了影响同位素注入剖面测井解释成果的主要因素。通过利用多条同住素曲线选幅解释与分析技术,确立了用以提高同住素吸水剖面测井成果解释准确性的合理方法。 相似文献
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注水剖面多参数测井资料的应用分析 总被引:3,自引:1,他引:3
主要对注水剖面多参数组合仪(连续流量、温度、伽马、压力、磁性定位)测井资料与浮子流量、同位素示踪成果进行统计、对比和应用分析,并结合其处理问题井的实例,给出应用组合测井这种新技术能为油田开发录取到更加准确可靠的监测资料这一事实,阐明了多参数组合仪是今后测吸水剖面的新思路和新方向,具有较广阔的应用前景。 相似文献
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注水剖面测井由于受到示踪剂微球颗粒直径大小,同位素粘污以及储层长期注水造成的内部孔隙喉道结构的变化等多种因素的影响,使常规测井解释遇到非吸水层位的同位素污染,主力吸水层同位素异常幅度太低,射孔井段的腐蚀穿孔或窜槽吸水等问题的困扰,致使测井解释精度大大降低,提高测井解释精度应注重同位素污染校正中水流方向确定和污染系数的校正,正确划分吸水层,对于非均质较为严重的储层必须开展厚层细分,对测井系列要不断改进和完善,例举了实例进行分析。 相似文献
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测井曲线间的深度误差几乎是不可避免的。依据测井曲线间的某些相关性,利用计算机可以实现测井曲线自动深度校正。文中采用相关分析、频率分析与动态规划相结合对测井曲线进行深度校正,即先用相关分析法找出对比曲线与标准曲线间的深度对(即深度位移量);然后用频率分析法对已找出的深度对进行筛选;再用动态规划法对筛选后的深度对分类,以其中最优的作为深度校正的深度对;最后根据确定出的深度对,将对比曲线相对于标准曲线作相对位移,便可将一口井的各测井曲线的深度对齐.利用由该方法编制的深度校正程序,对实际测井曲线进行自动深度校正的试算表明,可获得较好的结果。 相似文献
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同位素吸水剖面测井资料在水驱深度调剖效果评价中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
试验表明,通过应用同位素吸水剖面测井资料,可以较好地评价水驱深度调剖效果。调后注水井吸水层数增加,目的层相对吸水量下降,相同配注情况下注入压力上升;连通采油井产液未变,含水下降,产油上升。 相似文献
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同位素测井一直存在两个重要的技术问题;同位素测井的粘污问题和同一注水井各渗透层吸水量相差较大的测试问题,吸水剖面只能做定性解释。采用一口井释放两次同位素的施工新工艺,用两次释放同位素各测得的动态曲线和稳态曲线叠合,分别用差值法,均值法可以达到对吸水剖面的定量解释。 相似文献
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大庆油田部分区块注入井配注层段多、注入量低,其同位素测井一直采用常规的一次释放工艺,资料反映注水井底部层位吸水比例明显偏低,测试结果与地质开发数据差异较大。研制了一种可以分时控制同位素释放的多级同位素释放器,说明了释放器的总体结构、工作原理以及施工工艺。通过与一次释放工艺对比,多级释放器井下测量准确性高,并且测井效率高。采用多级释放器进行同位素测井,测试资料显示吸水比例明显上升,释放器在射孔井段长、配注层位多的注入井中有广阔的应用前景。 相似文献
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