X射线能量变化对其在炸药中衰减规律的研究

在管电流和药柱一定的条件下,通过改变X射线源能量对某炸药进行了X射线穿透检测,利用回归分析方法对测得的X射线在某炸药中的穿透率进行拟合。通过对拟合结果分析得出了X射线在某炸药中的衰减规律符合二次拟合。同时得到杂质的密度越大,衰减越明显;不同厚度的同一杂质,厚度大的衰减明显,但当管电压达到一定值时,射线衰减趋于不变。     

60Co γ射线在炸药柱中衰减规律的实验研究

利用最小二乘法对测得的不同厚度的炸药柱的计数率进行拟合，得到γ射线在某炸药中的衰减服从指数规律，且线性吸收系数为1．007。     

使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究

复合光导管组成的Ｘ光透镜可将发散的Ｘ光束聚至直径φ０．５ｍｍ,聚束后的功率密度增加１０４倍．这种新型的Ｘ光透镜已用于Ｘ射线荧光分析研究,使用Ｘ光管功率仅２Ｗ,而探测限可达１０－９—１０－１０ｇ．     

部分种子成分的特征X射线在等效生物材料中衰减的测定

用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器实现了Ｎａ、Ｍｇ、Ｓ、Ｃｌ的特征Ｘ射线在有机膜中的相对衰减以及与Ｏ、Ｋ元素的特征Ｘ射线能量相当的Ｘ射线或轫致辐射在有机膜中的相对衰减，分别得出了它们减的数学描述，并把实验得到不同能量的Ｘ射线在有机膜中的质量吸收系数与Ｂｅｒｋｅｌｅｙ的ＯＣＧ软件计算出的结果相比，相关都小于３０％。     

直流X射线模拟电缆X射线响应的可行性

本文对电缆X射线辐照响应的机理和模拟方法进行了研究,分析了电缆直流和脉冲X射线辐照响应的异同。建立了带状电缆X射线辐照响应一维计算模型,该模型包含电缆屏蔽层和介质层间隙、介质层瞬态辐射感应电导率等计算模型,模拟了带状电缆直流和脉冲X射线辐照电流响应。模拟结果表明,在X射线注量相同的条件下,电缆直流和方波脉冲X射线响应具有类似的波形特征及相同的间隙电压。因此,在该计算模型描述的电缆X射线辐照响应机制下,可利用直流X射线开展相应的脉冲X射线辐照响应机制模拟。     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧光效应,散射效应进行了研究,并对合金钢样进行了分析。用标准样品检验,表示分析准确度的相对误差小于±3%;表示方法精密度的相对偏差小于±6%。     

X射线荧光光谱仪的现状

综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能.     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

本文使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在~(238)Pu同位素源激发的Si(Li)探测器组成的X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道分析器联机的EMG666微机上进行计算,最后打印出结果。文中对入射角的变化、一次荧光效应、二次荧光效应和散射效应进行了研究;对核电站的合金钢样进行了分析,用标准样品检验方     

利用TNA方法进行爆炸物检测软件系统中的能谱自动分析

主要研究利用TNA方法进行爆炸物检测中的能谱自动分析算法,包括在干扰环境下对能谱进行稳谱,利用已完成能量刻度的标准谱对探测器采集的能谱进行自动能量刻度,以及对刻度后的能谱进行快速拟合或积分,计算样品中的N和H元素的含量.通过不同的数值分析算法,能够对能谱进行快速、准确的自动分析处理,为最终实现爆炸物检测奠定基础.     

利用脉冲快热中子分析方法和神经网络识别爆炸物

研究利用PFTNA方法和人工神经网络来识别爆炸物的方法。该方法利用PFTNA来获取被检测样品的热中子俘获γ谱和γ快中子非弹性散射谱,然后通过已知能谱对人工神经网络进行训练后识别未知样品。利用这种方法,能够快速的对未知样品进行定性分析。     

Homogeneity study of an Fe impurity in unalloyed Zn using PIXE

We have studied the distribution of an Fe impurity in unalloyed Zn material along line scans in spots of 1 mm diameter each using PIXE. In order to achieve the necessary precision (1%) in the determination of this low Fe content (about 100 mg/kg), a sufficient counting rate of Fe X-rays is needed without overloading the counting electronics with Zn X-rays at the same time. Therefore, the development of our PIXE analysis system had to take into account: (a) optimising the thickness of a Ni absorber foil in order to selectively reduce the counting rate of Zn without adding an unproportionally high Ni counting rate, (b) implementing a triggered ion beam deflection system capable of handling very high counting rates (up to 8 kcps), (c) developing the spectrum evaluation code to take account of the selective absorption by the Ni foil. The results of our PIXE measurements showed an inhomogeneity in Fe of up to 10%, considered too high to accept this zinc material as a new reference material.     

用TNA方法进行爆炸物检测软件系统设计

主要描述利用TNA方法进行爆炸物检测系统中的软件模块化设计,由于在系统开发过程中需要对算法进行调试,因此要求软件能够实现算法调整的灵活性以及自由的扩充性。整个系统共分为数据获取、元素分析以及识别定位三大模块,各个大模块又细分为不同的小模块。通过模块化的设计,能够在系统的搭建过程中自由的改进算法以及增加功能,提高开发效率。     

小型X光二极管的研制

研制了小型X光二极管(XRD),可用于小型软X光能谱仪。小XRD与大XRD相比,体积为1／30。在“神光Ⅱ”上对小XRD进行了实验考核,结果表明：小XRD与传统的大XRD的时间响应和灵敏度基本一致．达到了预定的目标。对XRD的电路进行了分析．计算出XRD的时间响应和线性饱和电流。     

Coated boron layers by boronization and a real-time boron coating using an impurity powder dropper in the LHD

In the Large Helical Device(LHD),diborane(B2H6)is used as a standard boron source for boronization,which is assisted by helium glow discharges.In 2019,a new Impurity Powder Dropper(IPD)system was installed and is under evaluation as a real-time wall conditioning technique.In the LHD,which is a large-sized heliotron device,an additional helium(He)glow discharge cleaning(GDC)after boronization was operated for a reduction in hydrogen recycling from the coated boron layers.This operational time of 3 h was determined by spectroscopic data during glow discharges.A flat hydrogen profile is obtained on the top surface of the coated boron on the specimen exposed to boronization.The results suggest a reduction in hydrogen at the top surface by He-GDC.Trapped oxygen in coated boron was obtained by boronization,and the coated boron,which has boron-oxide,on the first wall by B-IPD was also shown.Considering the difference in coating areas between B2H6 boronization and B-IPD operation,it would be most effective to use the IPD and B2H6 boronization coating together for optimized wall conditioning.     

静电加速器离子束杂质成分的测定

静电加速器广泛应用于离子的X射线分析、背散射、核反应和研究离子与物质的相互作用等等。静电加速器的离子由离子源产生,极端部高压进行加速。离子源所产生的离子往往不是很纯净的。为此,通常依靠磁分析器来排除那些被加速而又不需要的离子,并挑选出所需要的离子。但是,磁分析器要区分开那些荷质比相近的离子是十分困难的。在磁分析器所挑选出的离子束中,往往含有一些荷质比相近的其他离子。例如,在选择氘离子源的D~-离子中伴随有H_2~ 离子;相反在选择氢离子源的H_2~ 离子却伴随有D~ 离子。~4He~ 离子中可能伴随D_2~ 和~(12)C~(3 )离子。离子束中的杂质成分往往被人们所忽视,但在有些情况下,却是不容忽视的。例如,在利用D~ 离子分析表面氢含量时,D~ 离子束中含有H_2~ 离子就会直接影响到分析的灵敏度;在研究H_2~ 离子与固体膜相互作用时,H_2~ 离子中含有的D~ 离子的数量大小也会影响到测量的精度;在背散射分析、离子溅射、辐照损伤研究以及核反应截面测量时,有时也不能忽视离子束中的杂质成分。