一种有效的确定测试场地面最大反射位置的方法

本文介绍了在天线远场电性能测试时,通过测量待测天线所在测试场的地面反射波纹,来确定测试场地面最大反射位置的方法,以便对这些反射位置采取相应的措施,消除或减弱测试场地对天线远场电性能(特别是对测量低、超低天线副瓣)的影响,使测试结果能比较准确地反映天线的实际情况。将这种方法用于超低副瓣雷达天线的远场测量中,测出了较真实的结果。     

减小平面近场测量中多次反射误差的新方法

本文给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时,平面近场测量总误差与天线远场方向图副瓣电平的误差方程,并进行了计算机仿真;提出了减小平面近场测量中探头天线与待测天线间多次反射误差和微波暗室电特性误差对超低副瓣天线所引入的测量误差的"自校准法",实验结果说明该方法是解决平面近场测量中多次反射和微波暗室电特性误差较为理想的方法.     

P波段雷达天线室外远场测试

为了设计一个适用于P波段雷达天线测试的天线测试场,针对P波段雷达天线在室外远场测试时较难控制的地面反射问题,采用几何光学方法,结合具体实例,对斜距场法、等高场法、脉冲测试法和地面反射场法几种室外远场测试方法进行了分析;根据分析结果并结合实际地形条件,选取了地面反射场法作为测试方案;应用FEKO软件对测试场静区处的幅度和相位进行了仿真,得到该场地静区处的合成场能够满足天线远场测试要求的结论。     

一种天线远场反射消除的简便方法

天线远场反射会对天线测试有一定的影响。首先介绍了使用喇叭进行增益测试来判断天线远场反射的方法;然后根据电波传播的菲涅尔区理论,在天线测试远场的发射端和接收端进行削波,以避免电磁波照射到地面形成反射和减少接收反射信号,从而达到消除反射的目的。并在一个远场作了验证,结果证实方法可行。     

雷达天线测试中的若干结构问题

波瓣测试是低副瓣、超低副瓣天线研制中不可或缺的一个重要环节，结构人员积极介入其中是必要而有益的。本文就如何处理地面雷达天线远场测试中常见的若干结构问题阐述拙见，祈对测试工作和有关人员有所裨益。     

雷达天线测试中的若干结构问题

波瓣测试是低副瓣、超低副瓣天线研制中不可或缺的一个重要环节,结构人员积极介入其中是必要而有益的。本文就如何处理地面雷达天线远场测试中常见的若干结构问题阐述拙见,祈对测试工作和有关人员有所裨益。     

超低副瓣天线平面近场测量采样间距误差分析

基于超低副瓣天线测试对精度的要求,利用计算机模拟的方法研究了平面近场测量中采样间距误差对超低副瓣天线副瓣的影响,得到了一些规律和有用的结果,并证明了Nyquisty采样定理在超低副瓣天线测试中的适用性和正确性。     

极低副瓣天线远场测量的新方法

测试极低副瓣天线时，要求测量距离远远大于２Ｌ＾２／λ，其中Ｌ为天线口径尺度，λ为工作波长。为了解决现有远场测试场地测量极低副瓣天线所遇到的测试距离不够的问题，本文提出了一种远场测量修正方法。对在费涅耳区测量的天线波瓣图进行修正，可以获得被测天线的远场波瓣图。对极低副瓣线阵天线的计算机模拟计算表明，该方法是有效的，可以获得满意的校正效果。     

超低副瓣天线平面近场测量取样方式的新准则

采用实验的方法给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时收发天线之间的近区测试距离以及取样密度的选取准则 ,提出了超低副瓣天线测量对测试系统温度漂移的要求 ,并给出了满足系统温度漂移要求的测试方式。依据新的选取准则 ,实测了最佳角锥喇叭和波纹喇叭天线的 E面方向图。测试结果说明 ,该选取准则具有良好的重复性 ,且重复精度为 60 d B± 2 d B     

随机误差对超低副瓣天线平面近场测量的影响

导出了平面近场测量中近场幅相随机误差所引起的误差谱的解析表达式。利用计算机模拟和统计平均的方法研究了近场幅相随机误差对超低副瓣天线平面近场测量结果的影响 ,并给出不同口径尺寸的超低副瓣天线的平面近场测量 ,为保证- 5 5 d B副瓣± 5 d B的测试精度 ,所能允许的近场幅相随机误差的最大起伏度     

测试场地大型圆口径天线增益测量影响的研究

本文运用近区功率方程导出了圆口径天线近区增益与测量距离的关系，计算了圆口径改进广义Ｔａｙｌｏｒ位移分布和指数型分布的近场增益误差修正的数值结果，阐述了消除地面反射误差的方法，并提出了在斜测试场中减少地面反射误差的一种简易方法，最后，给出了测试实例，从而验证了理论分析和计算的正确性。     

用增益比较法测量大型反射面天线增益

介绍了用增益比较法测量大型反射面天线增益的方法，给出了存在地面反射时的修正公式，并对圆极化天线的增益测试进行了分析，对于实际工程应用有参考价值。     

基于近场场图的带罩天线近副瓣畸变分析

采用FEKO软件仿真带罩天线远场方向图和近场场图, 采用近场场图分析远场方向图近副瓣畸变的原因.仿真过程中采用等效源技术, 兼顾仿真精度和仿真效率.带罩天线方向图近副瓣畸变主要是由天线罩尖部区造成的, 近场场图表明三种效应导致近副瓣抬升:其一, 电磁波经过天线罩尖部发生明显的衍射, 波阵面分叉; 其二, 金属雨蚀头被激励出表面电流, 进而产生二次辐射; 其三, 部分电磁波能量经反射后透过天线罩尖部区域, 反射-透射电磁波能量叠加在副瓣方向上.针对上述效应, 对天线罩改进设计, 改进后可明显抑制带罩天线近副瓣的抬升.近场场图分析方法揭示了天线罩局部细节和远场方向图之间的联系, 对天线罩电性能优化设计有很好的指导作用.     

双频宽带大型微带反射阵天线设计

微带反射阵天线在性能上最主要的缺陷就是窄带,一般情况下其带宽小于5%,对电大口径短焦距馈电时更窄。本文设计并制作出一种由L波段和C波段两个反射面天线组成的6m×2m薄膜双频微带反射阵天线,两个频段的天线共用一层膜面。对该天线的电性能进行了测试,测试结果表明:该天线两个频段的相对带宽均大于10%(副瓣电平≤-18dB)。该天线具有折叠、可展开的结构特征,可以在卫星或航天器上广泛应用。     

基于矢量网络远场测量的移动通信基站天线测试

介绍了一种基于矢量网络远场测量的移动通信基站天线测试方法,该方法具有扫频测量、有效抑制场地反射信号和场外干扰信号等特点,保证了被测天线的测量准确性和可靠性,同时大幅提高了测试效率,较好地满足了移动通信基站天线的测试需求,并进行了验证。     

两种远场测试场天线方向图测试分析

根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从 微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测 试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。     

低副瓣机载偏馈抛物面天线

介绍了机载雷达低副瓣偏馈抛物面天线的设计，对天线投影口径场的计算机辅助设计、天线的交叉极化、馈源方向图逼近、偏馈角选取及馈源罩设计等问题进行了讨论。最后将天线的远场测试结果与理论计算方向图作了比较。     

超低副瓣天线测试中系统相位误差的仿真分析

文章利用计算机仿真的方式分析了平面近场测试中系统相位误差对超低副瓣天线副瓣的影响。通过建模分析,得到了系统相位误差对-50d B副瓣影响的量级,为超低副瓣天线测试中误差的分析提供一定的理论依据。     

相控阵天线远场测试场测量方法

对相控阵天线的特性需要选择合适的测试方法进行测试,为了研究相控阵天线的远场测试,采用远场的测试场测量,对相控阵天线的EIRP、G/T值以及方向图等指标特性的测量方法进行了介绍和研究,并进行了波束修正与电平补偿的说明,此测试方法可准确测量相控阵天线的远场性能并应用于工程实践.     

基于天线-罩体综合设计的反射面赋形设计方法

介质夹层式天线罩在保护内部天线的同时,使得透过罩体后天线口径场的幅度和相位分布发生变化,其中相位分布的变化是引起天线远场方向图畸变的主要因素.文章从天线罩体综合设计的角度出发,提出一种反射面赋形设计方法,通过赋形反射面来改变天线口径场的相位分布,使其与天线罩引起的相位分布的趋势相反,以保证透过天线罩后的口径场仍为同相场.对某地面卫星通信站的9.14m口径天线罩进行了数值实验,结果表明:所提方法可有效改善带罩天线系统的电性能,对于方向图畸变导致的副瓣和零深变化其效果尤为显著.