雷达数字电路的故障检测方法

本文详细介绍了数字电路的特征分析技术,并叙述了利用特征分析原理设计的BILBO(机内逻辑块观察器)在雷达数字逻辑电路故障检测中的应用方法。     

基于二维非参数特征分析的SAR图像目标识别

在分析传统Fisher线性鉴别分析局限性的基础上,由图像的行信息和列信息提出了两种形式的二维非参数特征分析(2DNFA)的特征提取方法,并应用于SAR图像目标的识别。直接在SAR图像矩阵上使用非参数特征分析提取特征不仅能充分发挥非参数特征分析的性能而且保留了图像矩阵的结构信息,大大降低了散度矩阵的维数,减小了运算量。使用美国MSTAR计划录取的数据对算法进行了仿真验证,实验结果显示两种形式的二维非参数特征分析在较低特征维数下的识别率均可以达到98%以上,表明所提方法的有效性和正确性。     

特征分析技术的新进展

特征分析方法是数字系统测试中的一个研究课题,并且日益显示其重要意义。本文综述近年来国际上在这方面研究的新进展,其中包括特征分析技术在理论上的不断完善,特征分析中真伪混淆概率计算方面的进展,以及对近年来出现形式多样特征分析器本质的揭示等。     

高k棚介质中电荷俘获行为的脉冲特征分析

本文介绍了电荷俘获的原理以及直流特征分析技术对俘获电荷进行定量分析的局限性,同时介绍了脉冲I-V分析技术,其能够对具有快速瞬态充电效应(FTCE)的高k栅晶体管的本征(无俘获)性能进行特征分析.     

Python在闪电监测资料分析中的应用

利用Numpy、Pandas和Matplotlib对闪电监测资料进行统计分析和可视化，介绍了雷暴日数、雷电个数、月分布、时分布、雷电强度等雷电特征分析和雷电月变化图、雷电时变化图、雷电流强度分布图制作的方法，完成了四川省2020年雷电活动特征分析。     

新产品

测试与测量实现更快捷半导体测试的集成测试系统Keithley发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工     

基于特征分析的卷积神经网络烟雾识别

针对烟雾特征提取误差较高的问题,提出了一种烟雾特征与卷积神经网络结合(Characteristic Analysis Net_CNN,CAN_CNN)算法.CAN_CNN算法包含特征分析与目标识别两部分.特征分析部分主要利用烟雾的运动方向特征与颜色特征过滤烟雾图像中的其他运动物体,目标识别利用卷积神经网络获取烟雾深层次...     

吉时利宣布推出4225-PMU超快I-V测试模块

吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块．进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流／电压测量功能,实现了业界最宽的电压、电流和上升／下降／脉冲时间动态量程．大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。     

科利登打造业界领导者新形象

日前，科利登公司(Credence)在上海和北京举办了系列研讨会，向业界发布了重要信息：2004年5月公司完成了对NPTest的收购，其产品列表中加入了关键的高端SoC产品，提高了公司在调试与特征分析方面的实力。至此，科利登的产品涵盖了调试、特征分析和生产测试的整个市场。科利登也开始显露半导体资本设备领域业界领导者的新形象。     

香港科技园运用科利登先进的工具完善其诊断和特征分析能力

<正>2006年3月20日,科利登系统有限公司宣布:香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础上,增加了激光调试和先进的发射显微镜,进一步完善其特征分析产品系列。这些新技术可以为香港科技园提供一个完整的失效分析实验室,从     

数字源表仪器平台

2600A系列是吉时利数字源表平台的最新版本。该平台囊括了精密电源、真流源、DMM、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器,带有测量、电气负载和触发控制功能。2600A系列的应用涵盖高速生产环境到多通道半导体特征分析系统中的台式Ⅰ—Ⅴ测试／特征分析以及多通道Ⅰ—Ⅴ测试系统等。     

可视化技术与信号细微特征分析

细微特征分析是一种电子战的新技术，可视化技术是一门崭新的交叉学科，可视化技术在细微特征分析中的应用使得雷达信号的“指纹”侦收成为可能，由此形成的“士兵与信息界面”使电子战设备发挥其最大的作用。     

单机实现三大基本特征分析功能的吉时利超快C-V测量系统

吉时利仪器公司推出最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流,电压测量功能,实现了更宽的电压、电流和上升／下降,脉冲时间动态量程,大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是,     

基于特征分析的多协议自识别解码器设计

分析了多种视频监控系统通信协议,设计了一种基于协议特征分析能自动识别多种协议的解码器,介绍了该解码器的软硬件实现.     

高性价比元件测试解决方案

特征分析和曲线绘制软件ACS基础版是吉时利自动特征分析套件系列的最新产品,集成了量程极宽的源测量单元——吉时利数字源表系列。ACS基础版结合吉时利成熟的数字源表产品,为用户提供了一套具有基本曲线绘制功能／支持参数化测试且极大突破成本的元件测试解决方案,将彻底取代原有曲线绘制软件。该测试系统简单易用、     

吉时利推出混合信号互连解决方案

吉时利仪器公司推出利用一套线缆即可处理I—V、C—V和脉冲I—V信号的互连解决方案，能大大加快并简化从任意半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流I—V、C—V和脉冲I—V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200一SCS半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。方案适合需要在不同测量类型之间频繁切换的特征分析应用，包括两种线缆套件，     

模式识别的特征优化专家系统研究

首先对模式识别中常用的几种特征分析方法的特点与应用范围进行了分析,基于此,开发了应用于特征优化、求取较优特征集的专家系统,对特征优化专家系统的关键问题——规则库内容作了初步确定,并给出具体的推理过程。试验证明,该专家系统能根据前端数据的特点与具体特征分析方法的特点,选择最佳特征优化方法,给出表征能力较好的特征集,应用于目标识别时能大大提高识别准确率。     

吉时利推出4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7．1

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。     

数字时代现代图书馆的音像服务研究

文章通过对数字时代的特征分析,探讨了数字时代现代图书馆开设音像服务业务的必要性,分析了其音像服务业务的种类和发展对策.     

小波神经网络对风力发电机组功率变流器的故障诊断

研究了永磁同步风力发电机组网侧功率变流器开关器件的开路故障问题,提出一种新的开路故障诊断方法,以实现对单个或两个开关器件同时开路的多种故障进行诊断.首先采集不同故障下网侧功率变流器的电压信号作为原始信号,利用小波变换对此信号进行分解和重构,再对小波变换后得到的数据进行特征分析和判定,将特征分析和判定后的数据作为BP神经...