计算机系统电磁泄漏的安全防护技术

计算机系统会产生电磁泄漏,泄漏的电磁信号会还原为有用的信息,造成泄密.文中论述了电磁泄漏的两种途径,给出了一个计算机站电磁泄漏的参数,最后提出了防护电磁泄漏的几种方法.     

信息技术设备电磁泄漏建模与防护

通过建模方法对信息技术设备存在的电磁泄漏及其安全防护问题开展了研究.对比分析了电磁干扰和电磁泄漏两类问题,确定两者区别在于电磁干扰注重电磁能量转移造成的后果,而电磁泄漏则侧重于电磁波形式无意的信息传输.通过与通信系统进行对照分析,建立电磁泄漏模型,引入信道容量的概念并给出了窃收还原需要满足的条件.在此基础上深入分析了泄漏源与泄漏路径上的防护方法,研究结果可指导电磁泄漏防护的实践,为信息安全提供更全面的保障.     

计算机系统的电磁泄漏及其防护初探

综述了计算机系统信息电磁泄漏与耦合的机理,及其在电子战环境中可能带来的危害。讨论了抑制电磁泄漏辐射与传导发射的方法和ＴＥＭＰＥＳＴ技术的相关问题,展望了电磁泄漏防护的发展趋势和今后进一步研究的课题。     

计算机系统的电磁泄漏及其防护初探

综述了计算机系统信息电磁泄漏与耦合的机理 ,及其在电子战环境中可能带来的危害。讨论了抑制电磁泄漏辐射与传导发射的方法和TEMPEST技术的相关问题。展望了电磁泄漏防护的发展趋势和今后进一步研究的课题。     

计算机电磁信息泄露分层防护策略的研究

计算机系统工作时所发射的电磁波,有可能造成信息泄漏,会严重威胁到信息安全.本文首先以电磁学和天线理论为基础分析了电磁信息泄漏的机理,然后针对电磁信息泄露的过程提出了以“防辐射泄漏”、“防电磁截获”、“防电磁复现”的三层防护模型.最后从硬件防护以及软件防护两个方面,详细论述了计算机电磁信息泄露三层防护模型的具体实现手段.     

基于深度学习的计算机显示器电磁信息泄漏识别

本文以计算机显示设备泄漏电磁信号为研究对象,对于人工提取特征识别电磁泄漏信号存在的主观性强、特征冗余的问题,区别于传统基于经验的人工特征提取模式,利用人工智能深度学习方法,使用处理图像的深度学习技术应用于电磁信息泄漏特征识别,提出了一种基于卷积神经网络的识别方法.该方法首先提取电磁泄漏信号的时频谱信息作为卷积神经网络模型的输入,然后利用模型的自学习能力提取深层特征,实现对不同分辨率来源电磁泄漏信号的识别,识别准确率达到98％,单信号检测时间仅需40 ms,验证了卷积神经网络应用于电磁泄漏信号识别的有效性,为电磁泄漏预警与防护提供了重要依据,为电磁泄漏视频信号还原复现提供有力支撑.     

电磁泄漏防护技术——TEMPEST技术

本文阐述了电磁安全在现代化战争中和日常工作中的重要性,介绍了电磁泄漏危害和电磁泄漏的途径,重点研究电磁泄漏防护技术,并对其涉及的措施进行详细描述和总结。     

计算机键盘电磁信息泄漏及其防护研究

在研究PS/2键盘控制模块的时钟与数据信号接口电路结构特征的基础上,利用电路等效的方法研究了键盘电磁泄漏发射与信息还原机理,通过测试实验验证了该方法的有效性;进一步提出了两种电磁泄漏防护方式,具体设计了一种电磁泄漏防护方案。实验测试结果表明,该方案能够有效抑制键盘的电磁发射,防止按键信息通过电磁发射被还原。     

传输线电磁信息泄漏防护相关噪声方法设计

针对传输线电磁信息泄漏问题,在泄漏数字信号频谱特征研究基础上,采用基带频谱覆盖混淆思想,通过增加冗余同步脉冲数字信号传输,设计传输线电磁信息泄漏防护的相关噪声方法,并对该方法的安全性进行理论证明。在此基础上,结合传输线辐射发射模型对相关噪声的频域发射频谱进行仿真分析。仿真结果表明,该方法可对传输线电磁信息泄漏发射进行有效防护。     

抗差分电磁分析逻辑电路研究

动态差分串联电压开关逻辑(DDCVSL)、SABL等逻辑电路抵御差分电磁分析时,其防护能力受到电路布局布线的限制。针对该问题,在DDCVSL的基础上引入掩码机制,提出一种改进的防护逻辑(MDDCVSL),并给出一种双轨门电路电磁信息泄漏分析方法。实验采用TSMC 0.18 μm工艺设计MDDCVSL、DDCVSL、SABL等逻辑的与非门,结果表明,MDDCVSL能有效去除电磁信息泄漏,具有较小的功耗、面积和时延。     

密码系统差分电磁分析研究

针对AT89C52和P89C668两种单片机实现的DES密码系统,采用差分电磁分析的方法对其进行了密码破译实验,成功获得了DES第16轮48位子密钥.分析了CMOS门电路中数据与电磁辐射的相关性,建立了寄存器电磁信息泄漏模型,比较了汉明重量模型和汉明距离模型的攻击效果.实验结果表明,CMOS集成电路在工作时存在着电磁信息泄漏,不同的指令在两种泄漏模型下具有不同的泄漏特征,为密码系统实施相关防护措施提供了依据.     

电磁屏蔽效能稳定性研析

电磁兼容性是嵌入式应用系统设计的重要内容.产品研制中的诸多因素会造成严重的电磁发射和信息泄漏.解决电磁屏蔽要正确选择屏蔽材料,要有良好的屏蔽接口工艺及安装方法,要注意保护屏蔽防护层并注意克服屏蔽体的基本设计缺陷.     

电磁屏蔽效能稳定性研析

电磁兼容性是嵌入式应用系统设计的重要内容。产品研制中的诸多因素会造成严重的电磁发射和信息泄漏。解决电磁屏蔽要正确选择屏蔽材料,要有良好的屏蔽接口工艺及安装方法,要注意保护屏蔽防护层并注意克服屏蔽体的基本设计缺陷。     

集成电路电磁辐射与数据相关性研究

为了减少集成电路密码芯片工作时的电磁信息泄漏,设计具有防护能力的加密芯片.在研究CM06集成电路电磁辐射原理的基础上,分析了电磁辐射产生数据相关性的机理.以电偶极子为模型,简化了电磁计算的方法,对基本的CMOS电路工作过程进行分析.采用TSMC 0.18工艺设计CMOS反相器,并对该反向器进行电磁辐射仿真.建立评估模型并对金属层电磁辐射的信息泄漏进行评估.结果表明,电路工作时NMOS金属层、PMOS金属层和输出线的金属层产生的电磁辐射均会导致信息泄漏,长度相等时,输出线金属层的电磁信息泄漏更强.     

信息设备电磁辐射信息泄漏的可检测距离估计方法研究

信息设备在工作过程中会产生电磁辐射,通过截获电磁辐射信号可重建信息设备中正在处理的有用信息,这给信息安全带来了巨大风险。本文从信息设备电磁辐射的可检测距离来估计信息设备电磁信息泄漏风险,结合理论和实验分析,从辐射泄漏源、电磁环境信道以及接收设备三个方面,分析了信息设备电磁辐射泄漏可检测距离的影响因素,提出了一种信息设备电磁辐射信息泄漏的可检测距离估计方法。并以传真机为实例,利用本文所提方法估计了使用现场环境下传真机的电磁辐射可检测距离。本方法充分考虑各信息设备电磁泄漏特征和环境的差异,适用于不同信息设备、不同使用现场环境下,对可检测距离的合理估计,从而避免对信息设备的过防护和欠防护。     

数据加密标准的相关电磁分析

分析了CMOS逻辑门电路在运行时的电流特征,阐明了集成电路中数据与电磁辐射的相关性,建立了寄存器级电磁信息泄漏汉明距离模型.通过针对P89C668单片机实现的DES密码系统的攻击实验,介绍了相关电磁分析(Correlation Electronlagnetic Analysis,CEMA)算法的设计与实现,分析了攻击点D的选择和计算方法,成功获得了DES第16轮48位子密钥,验证了电磁信息泄漏汉明距离模型.实验结果表明,工作状态下的CMOS集成电路存在电磁信息泄漏现象,相关分析比差分攻击更有效,DES每一轮的异或操作可以成为攻击点,为密码系统实施相关防护措施提供了依据.     

电磁屏蔽效能稳定性研所

电磁兼容性是嵌入式应用系统设计的重要内容，产品研制中的诸多因素会造成严重的电磁发射和信息泄漏，解决是屏商要正确选择屏蔽材料，要有良好的屏蔽接口工艺及安装方法，要注意保护屏蔽防护层并注意顾报屏蔽体的基本设计缺陷.     

电磁信息泄漏测试新技术

该文针对目前使用现场的信息技术设备电磁泄漏测试中存在的最大泄漏信噪比测试不准等问题,提出了基于泄漏区正确识别和根据测试目的不同接收机相应参数正确设置的测试方案。实际实验结果表明：该方案较好地解决了电磁泄漏最大信噪比测试结果不易求得及不易复现等问题,具有读数容易、测试结果准确、效率高等优点。该测试方案对于使用现场的信息技术设备电磁泄漏发射防护具有重要指导意义,具有较好的实际应用价值。     

针对AES密码算法FPGA实现的CEMA攻击

通过分析密码芯片的电磁信息泄漏和近场采集原理,构建了电磁信息采集平台,并研究了相关性电磁分析攻击方法,对基于现场可编程门阵列(FPGA)实现的高级加密标准(AES)密码算法进行了近场相关性电磁分析(CEMA)攻击。攻击结果表明,该平台能够获取密码芯片工作时的电磁信息泄漏;相关性电磁分析攻击方法能够获得正确密钥。     

高级数据加密标准的差分电磁分析

为研究高级数据加密标准(AES)针对电磁旁路攻击的脆弱性,分析了微处理器的电磁信息泄漏模型和攻击AES时D函数的选择问题.针对PHILIPS 89C51实现的AES-128密码系统,采用差分电磁分析的方法进行了密码破译实验,成功获得了128位密钥.经分析发现AES的字节替代变换可产生密钥泄露,为密码系统实施相关防护措施提供了依据.