NI最新推出200MS／sPXI数字化仪和任意波形发生器——NI模块化仪器的采样率和板载存储容量获得双倍提高

美国国家有限公司(National Instruments，简称NI)宣布推出2款最新的采样率为200MS／s的模块化仪器，将混合信号测试的性能提升至一个全新的高度。这2种全新的模块是基于NI的同步和存储核心(Synchronization and Memory Core，简称SMC)架构成功开发的，使得NI数字化仪和任意波形发生器系列产品的采样率和板载存储容量获得双倍提高。结合了NI高精度DC、RF和高速数字PXI仪器，这2款模块是一系列应用，例如消费电子、半导体、军事／航空和科研的理想之选。