低频振动台激励系统负反馈控制的研究与应用

针对低频大位移振动激励系统非线性等因素造成输出波形失真度大的问题,对中国计量科学研究院低频垂直向副基准装置分频段采用位移、速度和加速度负反馈控制技术,实现激励系统的闭环控制,改善了低频标准振动台的动态特性,提高了系统抑制外界干扰的能力.给出的开环与闭环状态下传感器的校准数据,证明负反馈技术的应用降低了装置的测量不确定度.     

武器装备可计量性设计评价技术研究

根据可计量性设计技术要求,梳理总结了武器装备的可计量性设计评价主要内容及典型应用特殊评价要求,通过对装备可计量性设计方案的分析评价,可实现优化设计方案,提升装备质量的目的。     

光栅单色仪波长校准装置可计量性设计研究

针对基于连续光谱光源和傅里叶变换光谱仪的光栅单色仪波长校准装置开展计量需求分析,梳理并提取了波长示值误差、光谱带宽、波长重复性等作为实现可计量性的参数。开展可计量性设计,着重介绍了波长示值误差的测量方法、溯源途径、光机接口等可计量性设计的核心要素,通过实验进行可计量性设计的验证。按照该装置的全寿命流程开展可计量性设计,通过多个利益攸关方的视角进行各个场景下的深入分析。可计量性研究确保计量仪器的各项需求都经过了完整的考虑与准备,对各项潜在问题进行先后排序后,引导逐项实施落实,从而可以避免项目推进过程中出现的管理死角,提升计量装置研制项目的成功概率。     

军用ATS的可计量性论证

由可计量性的概念出发,立足于装备可计量性设计和验证中亟待解决的问题,指出了可计量性论证的必要性.从指标的约束条件、定量参数指标、合同指标和定性要求四个方面阐述了军用ATS论证内容,并给出了可计量性论证的程序、原则、评审方法等.     

论装备可计量性设计专业化的必然性

论述了装备计量性及计量性设计的内涵,分析了计量性设计的研究方向及贯彻计量性设计对装备性能的优化作用,初步探讨了计量性与可靠性、保障性之间的关系,在综合各方面因素的前提下,提出了武器装备计量性设计的专业化发展预计.     

复杂系统的计量性设计与评估

从产品的计量性概念出发,以用户的视角和愿望,提出了计量性的14个设计要素构成的指标体系及设计原则,用以指导产品的计量性设计;对于计量性设计的优劣,使用了相同的14个要素进行评估,并可用于比较不同的计量性设计的优劣。     

基于VB.NET计量标准器分配管理系统的设计与实现

为更好地解决计量标准器使用混乱问题,以建立智能化标准器分配管理系统为目标,本文以VB. NET作为开发平台,以Access2010作为后台数据库,给出了智能化标准器分配管理系统的详细设计方案。系统采用了安全高效的策略,并以面向对象的界面形式来实现对数据库的操作。     

低频超低频振动计量技术的研究与展望

从低频和超低频振动测量多个应用领域的角度讨论研究建立低频超低频振动幅相特性计量基标准溯源体系的重要性,介绍国内外研究发展状况,提出低频电压测量的溯源性问题,分析了超低频振动计量基标准实现精确测量的若干关键技术。     

基于DDWS技术的飞机270 V直流畸变标准信号源设计

通过对飞机270 V直流供电特性参数中畸变信号校准方法的研究,结合校准过程中的实际需求,设计出一种基于DDWS技术的飞机270 V直流畸变标准信号源,并从硬件设计方面给予了详细介绍。     

PDF标准在数码印前设计中的应用研究

针对目前PDF标准在数码印前设计工作中出现的常见应用问题,通过PDF标准版本规范的发展历史,分析了各种PDF标准的技术特点;论述了正确使用PDF标准参数的重要性;并在应用实践的基础上,提出了在平面设计和数码印前处理工作中对于PDF标准主要参数的使用建议。从而系统准确地解决数码印前设计和相关平面设计工作中常见的PDF标准参数应用的问题。     

基于双屏吹气偶的现场K型参考温度传感器设计

以双屏吹气式热电偶为基本结构,采用计算与试验相结合的方式,设计了一种适用于航空发动机试车台现场的K型参考温度传感器,用以对现场测温的传感器进行校准,以期解决涡轮后气流温度传感器的校准问题,并为此类参考温度传感器的设计提供一定的参考.     

机械产品运输包装设计的标准化流程研究

阐述了机械设备产品的包装设计流程,并通过具体实例进行了说明。重点对重型机械台套产品进行了详细分析说明,详述了包装方案的制定以及明确的设计流程。在包装形式研究方面,结合国家标准对机械产品包装木箱标准结构(框架木箱)进行了分析。最终得出了机械设备包装的标准化设计流程及工艺标准。     

中文设计字体创造发展的基本准则

通过一些实例,论述了中文设计字体创造的4个基本原则,并指出了中文新字体的创造有益于现代信息传播等观点.     

标准样品浓度的设计及使用

样品的浓度有多种不同的表示方法。系统讲述了不同的浓度单位及样品状态(气态和液态)下,标准样品的浓度如何正确设计及使用,并提供了一些典型的应用实例,为标准样品的使用及设计提供技术支持。     

利用关联关系的标准件参数化设计方法

分析了产品几何建模的参数化设计方法,提出了一种基于关联关系的标准件参数化设计方法。阐述了参数化设计方法的原理,即采用关联参数建立多个组件间的关联,以实现标准件的参数化设计。利用CATIA平台,给出了圆锥滚子轴承基于关联关系的参数化设计过程,证明了该设计方法的可行性。     

Interlaboratory Study on the Lithographically Produced Scanning Electron Microscope Magnification Standard Prototype

NIST is in the process of developing a new scanning electron microscope (SEM) magnification calibration reference standard useful at both high and low accelerating voltages. This standard will be useful for all applications to which the SEM is currently being used, but it has been specifically tailored to meet many of the particular needs of the semiconductor industry. A small number of test samples with the pattern were prepared on silicon substrates using electron beam lithography at the National Nanofabrication Facility at Cornell University. The structures were patterned in titanium/palladium with maximum nominal pitch structures of approximately 3000 μm scaling down to structures with minimum nominal pitch of 0.4 (μm. Eighteen of these samples were sent out to a total of 35 university, research, semiconductor and other industrial laboratories in an interlaboratory study. The purpose of the study was to test the SEM instrumentation and to review the suitability of the sample design. The laboratories were asked to take a series of micrographs at various magnifications and accelerating voltages designed to test several of the aspects of instrument performance related to general SEM operation and metrology. If the instrument in the laboratory was used for metrology, the laboratory was also asked to make specific measurements of the sample. In the first round of the study (representing 18 laboratories), data from 35 instruments from several manufacturers were obtained and the second round yielded information from 14 more instruments. The results of the analysis of the data obtained in this study are presented in this paper.     

基于LabVIEW的光耦低频噪声成分估计研究

半导体的噪声成分估计是利用噪声进行器件可靠性筛选的前提条件。为此,组建了一套基于虚拟仪器的半导体噪声测试系统,在应用该系统对大量的光电耦合器件（OCD）进行测试基础上,提出了采用LabVIEW对实测噪声功率谱进行噪声成分估计及参数拟合的新方法。该方法的特点是不需要被测器件低频噪声的先验知识,为改进OCD及其他半导体器件的生产工艺和提高器件的可靠性提供了指导性的数据。