HC／HCT系列电路测试程序设计

目前，在整机系统上，HC／HCT类电路应用还十分广泛。严格测试电路的功能及交、直流参数十分必要。在多年测试实践基础上，文章提出了HC系列电路测试程序设计概要，对于一些关键测试技术亦作了较为详细地阐述。     

模拟电路测试系统的设计方法研究

对模拟电路的测试，本文首先讨论测试系统的一般结构，然后研究测试系统的模型与方法，采用面向对象的程序设计技术（OOP）来设计模拟电路测试系统，显著提高了测试系统的开发效率。     

HDTV编码器测试系统的设计与硬件实现

高清晰度电视（HDTV）编码器测试系统用于HDTV编码器各模块电路的调试与故障诊断，是HDTV编码器研制过程中不可缺少的测试设备。该系统通过向HDTV各模块电路发送测试用的数字视频码流，并接收和分析经过各模块电路处理后近视频码流，从而确定HDTV编码器各单元电路是滞正常。该文提出并实现了一个HDTV编码器测试系统，主要介绍了硬件部分的设计与实现。     

板级电路测试诊断技术研究及典型设备研制

针对某典型弹载单机及其板级电路进行测试与故障诊断技术研究,利用模拟电路无损伤自动化测试技术,结合性能监测、故障定位与模糊故障诊断算法等方面的研究,进行典型电路测试设备的研制,并对研制过程中遇到的难点进行分析;主要研究内容包括:模拟电路故障诊断算法研究、板级电路测试点规划、探针板卡及夹具的设计、数据采集系统的设计选型、信号调理电路的设计实现及软件系统的模块化设计等,最终实现板级电路测试诊断设备的研制;实测选择某型军用产品板级电路为测试对象,结合工程上易于实现的故障字典法,根据测试点测量得到的响应向量计算隶属度大小,进而准确实现了数字电路和模拟电路故障的定位。     

印制板级边界扫描接口线的测试

边界扫描设计正逐步成为可测性设计的主流。本文首先简要介绍边界扫描器件的结构，然后详细讨论印制板级边界扫描接口线的故障模型和测试原理，并给出相应的测试电路和测试算法。最后通过一个测试实例说明测试算法的时间特性。     

基于串行通信的逻辑信号发生器

在一些设备的电路板测试工作中，需要多通道逻辑信号发生器输出测试向量。本文介绍一种多通道逻辑信号发生器的设计。该系统采用虚拟仪器思想，由通用微机和信号产生电路组成，信号产生电路则由89C51单片机和外围电路组成。利用微机完成命令的控制，测试向量的编辑和参数的设置，利用89C51单片机管理测试向量输出电路产生需要的逻辑图形。具有测试向量编辑方便、测试方法灵活的特点。     

基于网络的混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

将边界扫描技术与网络技术结合,解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题,可实现远程测试与故障诊断;设计了一种基于网络的混合信号边界扫描测试软硬件系统,硬件部分设计了边界扫描测试控制器、网络接口电路并实现了硬件底层驱动程序,软件部分实现了边界扫描测试系统程序和网络接口功能函数;对被测电路进行测试验证,测试结果表明系统可完成混合电路的远程边界扫描测试,具有较好的应用前景。     

光点测试仪阴极脉冲放大器的改进设计

介绍光点测试仪阴极脉冲放大器的改进设计,将原光点测试仪阴极脉冲放大器加入电路自控设计和保护电路设计后,使它从基本型电路改进为实用型电路,以满足实际应用中的测试需要。     

容易产生测试的电路

集成电路技术的快速发展带来了集成电路芯片测试的困难。可测试性设计(DFT)技术被提了出来。这些技术的主要缺点是影响电路性能,而且要求长的连续测试方法。本文给出容易产生测试(ETG)电路的概念。ETG电路是这样一种电路,产生它的完全测试集的计算复杂性与电路大小成线性关系。本文首先解释了ETG与其他DFT方法的区别,然后简单地描述了ETG组合电路、ETG时序电路,特别详细地介绍了ETG PLA。给出了把给定PLA修改为ETG PLA的算法,以及一些新的实验结果。ETG PLA作为ETG电路的一个例子说明了ETG技术的可行性。     

单链扫描可测性设计中存储元件的排序

本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法，采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解，对于确定的测试向量集，用该方法的构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。     

测试仪器检测锁存电路的原理与应用

介绍一种消除零点漂移和读数不稳对测试仪器不良影响的实用电路．该设计采用锁存型数显表头、采样保持电路、读数／锁存控制电路等一系列配套电路，达到了自动跟踪漂移的零点、输出检测变化值。读数自动锁存的工作方式，从而提高了测试仪器的操作性能。     

基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模型研究

IEEE 1149.4混合信号电路边界扫描测试总线标准为模拟电路的可测性设计提供了一个基本的框架,但具体的实现方法需要研究人员进行设计。用开关矩阵、单片机、dds芯片构成了基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模式。经可控性、可观性试验,能够反映IEEE 1149.4标准中针对模拟电路的边界扫描构架与思想,为更多将边界扫描应用于模拟电路的可测性设计中去,打下了良好的基础。     

危化品运输监控探测器终端测试平台电路设计

本文介绍了危化品运输监控系统探测器终端测试平台电路的设计.本测试平台以MSP430F169为核心进行设计,包括电压信号模拟电路、电流信号模拟电路、多路电子开关和其它外围电路.本文给出测试平台电路的整体设计方案,详细叙述各个功能模块的工作原理和没计方法并设计出各部分的电路图.     

智能卡测试仪器的设计与开发

本文介绍了一种针列ISO7816智能卡电气特性和逻辑特性检测原理所设计的新型智能卡测试仪器。该仪器以片上系统为基础,采用集成了多种功能设备的C8051微控制器,并外扩电气参数测试电路、逻辑特性测试电路、及测试数据存储及显示电路,买现了检测与存储通信一体的测试系统。本文介绍了该测试仪器的整体结构设计及细化,逻辑功能测试过程,及模拟调试过程。该过程列同类设计具有启发和借鉴作用。     

基于TPS40平台的降压型DC-DC电源设计和测试

在TPS40平台上设计降压式DC-DC直流电源电路,对电路进行了验证测试。设计中电路选用了TPS40021为控制芯片,给出了设计电路原理图,并进行了电路相关数据分析,电源转换效率分析和幅频特性分析。     

吕晓明:1149.1到1149.7标准在边界扫描技术中的应用

电子产品的微型化使得传统的物理接触方法所能进行的测试访问机会越来越少,测试变得越来越复杂和困难,形成测试"瓶颈",使故障诊断因信息量不足导致虚警率增高。而解决测试"瓶颈"的唯一途径就是加强测试性设计(DFT),即采用"并行工程"的思想,在产品的设计阶段就考虑测试性,通过添加一些特殊的电路结构,来提高原电路内部节点的可控性和可观测性,从而实现对内部电路的测试。     

基于虚拟仪器技术的电路测试和诊断系统

介绍了一个智能电路测试和诊断系统的软硬件设计。该系统基于虚拟仪器技术设计而成,由测试模块、诊断模块和使用帮助模块组成,测试模块是通过实际测量得到的电路输出信号和测试库中的参考信号进行比对来判断该电路功能的正确性,而故障诊断模块则是采用故障树的方法自顾问下地逐步定位电路中的故障点,系统还可以对单独的元件和导线进行测试和诊断。本系统利用LabWindows/CV1作为开发平台,实现了对一些常见实验电路的分析。     

光电耦合器测试电路

光电耦合器种类多,型号多,用途广,内部电路与管脚排列各不相同。因此在使用中无论是选购、维修测试,都很不方便。本文介绍的光电耦合器测试电路,是在工作实践中依据不同的光电耦合器的内部电路、管脚排列设计制作的,电路简单实用,测试方便,常见的光电耦合器都能测试,下面分别说明电路原理、测试方法及制作。一、电路原理     

基于TPS40平台的降压型DC-DC电源设计和测试

本文在TPS40平台上设计降压式DC-DC直流电源电路,对电路进行了验证测试。设计中电路选用了TPS40007为控制芯片,给出了设计电路原理图,并进行了电路相关数据分析,电源转换效率分析和幅频特性分析。     

基于嵌入式内核SOC IDDQ可测试设计方法

由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高，导致电路的静态漏电流不断升高，深亚微米工艺SOC(系统芯片)IC在IDDQ测试的实现方面存在巨大挑战．虽然减小深亚微米工艺亚阈值漏电开发了许多方法，如衬底偏置和低温测试，但是没有解决因为SOC设计的规模增大引起漏电升高的问题．首先提出了SOC设计规模增大引起高漏电流的可测试性设计概念．然后制定了一系列适合于SOC的IDDQ可测试设计规则．最后提出了一种通过JTAG指令寄存器控制各个内核电源的SOC IDDQ可测试设计方法．