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相似文献
 共查询到17条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
李海山  唐海艳  梁栋  韩军 《包装工程》2021,42(23):170-177
目的 提取样本图像颜色直方图特征对卷积神经网络进行训练,达到快速、高准确率检测图像颜色缺陷的目的.方法 将标准图像从RGB颜色空间转换至HSV颜色空间,通过改变图像H,S,V三分量值获取训练样本和测试样本;在HSV颜色空间中非均匀量化图像的颜色直方图,得到所有训练样本和测试样本的颜色直方图特征;利用样本图像颜色直方图特征训练卷积神经网络,然后对测试样本进行检测,研究检测的速度、准确率,并将该检测方法与逐像素、超像素、BP神经网络和支持向量机方法进行对比.结果 对于图片尺寸为512×512的彩色图像,卷积神经网络检测单幅图片的平均检测时间约为57.66 ms,训练样本图像为50000张时,卷积神经网络方法对10000张测试样本进行检测的准确率为99.77%.结论 卷积神经网络方法在保证高准确率的前提下大幅提高检测精度,对于印刷品色差缺陷在线检测具有良好的应用价值.  相似文献   

2.
赵鹏  唐英杰  杨牧  安静 《包装工程》2020,41(5):192-196
目的针对传统无纺布缺陷分类检测中人工依赖性强、效率低等问题,提出一种能够满足工厂要求的卷积神经网络分类检测方法。方法首先建立包括脏点、褶皱、断裂、缺纱和无缺陷等5种共计7万张无纺布图像样本库,其次构造一个具有不同神经元个数的卷积层和池化层的神经网络,然后采用反向传播算法逐层更新权值,通过梯度下降法最小化损失函数,最后利用Softmax分类器实现无纺布的缺陷分类检测。结果构建了12层的卷积神经网络,通过2万张样本进行测试实验,无缺陷样本准确率可以达到100%,缺陷样本分类准确率均在95%以上,检测时间在35 ms以内。结论该方法能够满足工业生产线中对于无纺布缺陷实时分类检测的要求。  相似文献   

3.
4.
杨欧  郭宝平  胡涛  郭轩 《包装工程》2007,28(3):55-57,68
提出了一种新的模板匹配方法,能够有效的去除剪影图像中的轮廓伪影,保存真正的印刷缺陷.其模板制作过程简单,匹配算法高效,能够满足在印刷品线检测的实时性要求.  相似文献   

5.
目的 针对锂电池极片涂布缺陷种类多,传统方法分类检测精度不高,以及人工依赖性强等问题,提出一种基于卷积神经网络的锂电池极片涂布缺陷自动分类算法。方法 首先对网络结构以及模型参数进行优化,接着在网络中加入跳跃连接结构,将空洞卷积提取到的多尺度特征与高层特征进行融合以获取更多缺陷特征,并采用LeakyReLU(Leaky Rectified Linear Unit)激活函数保留图像中的负值特征信息,最后通过构建的数据集训练模型,实现锂电池极片涂布缺陷的准确分类。结果 实验结果表明,当前方法识别准确率能够达到99.34%,平均检测时间为51ms。结论 改进后的方法能够准确分类出锂电池极片18种涂布缺陷,满足工业生产中实时分类检测的要求。  相似文献   

6.
高军  陶娜娜  张建 《包装工程》2006,27(5):111-113
提出了运用数字图像处理和模式识别技术的印品质量检测系统,论证了其可行性,并对其主要模块,即图像采集、模板制作以及图像匹配比较进行了分析研究.研究表明,该方案可用于国产印刷机的数字化改造,极大地提高我国印刷机的自动化水平,因而具有重要的实际意义和广阔的应用前景.  相似文献   

7.
印刷品在线检测系统在应用中出现的问题及解决方案   总被引:1,自引:2,他引:1  
潘全玲  张蕾 《包装工程》2007,28(4):45-47
论述了印刷品在线检测系统在实际应用中出现的几个问题,以及企业工人对印刷品在线检测系统的认识,并对在线检测系统以后的改进提出了自己的观点.  相似文献   

8.
针对印刷品缺陷检测问题,通过对经典缺陷识别算法的研究,提出了一种边缘点与非边缘点分开处理的印刷品检测缺陷识别算法。算法以统计过程原理为出发点,根据边缘点和非边缘点不同的像素特征,对非边缘点采用统计阈值法处理,对边缘点采用邻域平均值与梯度值相结合的算法处理。该算法经过实验证明,能够有效地剔除伪疵点,提取出真正的缺陷。  相似文献   

9.
PCB缺陷图像检测是确保PCB生产质量的重要环节,但传统的人工PCB缺陷检测具有劳动强度大、工作效率低等不足.为此,本文研究了一种基于卷积神经网络的PCB缺陷图像识别方法,建立了包括三种PCB缺陷和无缺陷图像的数据集,基于ResNet101网络模型搭建了PCB缺陷图像识别分类模型.引入迁移学习的方法,基于在大数据集上充...  相似文献   

10.
王胜  吕林涛  杨宏才  陆地 《包装工程》2020,41(5):214-222
目的二维Gabor滤波器含有多个参数,在印刷品套印缺陷检测中,二维Gabor滤波器使用不同参数增强图像特征的效果差别较大,为了获得二维Gabor在某印刷品套印缺陷检测下的优化参数。方法在印刷品套印缺陷检测中,提出一种PSO-Gabor-CNN算法,采用Sobel算子对印刷品图像进行边缘检测,以粒子群算法(PSO)对二维Gabor滤波器的中心最大频率kmax、带宽σ、模板窗口window进行参数寻优,处理后的图像与模板图像采用加权欧式距离进行评价。然后用优化后的Gabor滤波器对图像进行滤波,最后采用卷积神经网络(CNN)对印刷品套印缺陷进行检测和分类。结果通过粒子群算法,确定了二维Gabor中心最大频率kmax为6.0476、带宽σ为0.1444、模板窗口window为27×27取得最佳效果,此时加权欧式距离为1.1927×10-33。卷积神经网络经过70次训练的均方误差为0.0035,测试样本正确率为96.93%。该方法与无数据预处理的BP神经网络(BPNN)、Sobel预处理的BP神经网络(Sobel-BPNN)、无数据预处理的卷积神经网络(CNN)、Sobel预处理的卷积神经网络(Sobel-CNN)对比,表现出了较好的识别效果。结论该方法可以获取二维Gabor滤波器的较优参数,从而获得较好的滤波效果,将其应用于套印缺陷检测,具有一定的应用价值。  相似文献   

11.
简川霞  陈鑫  林浩  张韬  王华明 《包装工程》2021,42(15):275-283
目的 针对目前印刷套准识别方法依赖于经验人工设计特征提取的问题,提出一种不需要人工提取图像特征的卷积神经网络模型,实现印刷套准状态的识别.方法 采用图像增强技术实现不均衡训练集的均衡化,增加训练集图像的数量,提高模型的识别准确率.设计基于AlexNet网络结构的印刷套准识别模型的结构参数,分析批处理样本数量和基础学习率对模型性能的影响规律.结果 文中方法获得的总印刷套准识别准确率为0.9860,召回率为1.0000,分类准确率几何平均数为0.9869.结论 文中方法能自动提取图像特征,不依赖于人工设计的特征提取方法.在构造的数据集上,文中方法的分类性能优于实验中的支持向量机方法.  相似文献   

12.
张雷洪  熊锐 《包装工程》2019,40(13):252-258
目的 针对当前印刷缺陷检测系统中存在的低对比度印刷缺陷检测精度不高等问题,基于HSV颜色空间,提出一种增强的低对比度印刷缺陷识别方法。方法 首先,将标准样张图像与采集到的印刷图像由RGB颜色空间转换到HSV颜色空间,并提取视觉上变化敏感的亮度分量V作为待检测对象;其次,将对比度受限的局部直方图均衡(CLAHE)与数学形态学相结合,来增强显现待检测图像中的缺陷;再次,使用连通域分析方法来获取缺陷的面积、周长、离心率、长宽比和圆形度等5种特征信息,并以此建立15个特征模型;最后,构建基于PNN的印刷缺陷识别神经网络,并在Matlab中实现对低对比度印刷缺陷的识别。结果 15个模型的平均耗时为475 ms,都控制在毫秒级别,满足了现代印刷缺陷检测对于实时性的要求。其中模型2的测试正确率为95%,能够识别污点等点缺陷,模型3和模型12的测试正确率为93%和93.3%,能够识别刮痕等线缺陷,模型5的测试正确率为93.1%,能够识别墨迹等面缺陷,且测试正确率高于基于BP神经网络的缺陷识别方法。结论 从缺陷检测的实时性和精确性上来讲,提出的方法能够对低对比度印刷缺陷进行实时和精确的检测。  相似文献   

13.
目的针对在印铁过程中缺陷检测系统存在不同缺陷类型检测精度不高,对于产品整体质量无法实现智能判断的问题,基于GRNN-PNN神经网络,提出一种适用于印铁在线检测的分类算法。方法对平面印刷铁片进行小波变换提取低频信息,在低频信息中进行缺陷定位并对缺陷区域进行标记和分割。通过缺陷面积、周长等评价指数和缺陷形状构建GRNN神经网络,对缺陷进行分类。通过构建PNN神经网络智能化判别整体产品是否属于合格产品。结果 GRNN-PNN平均耗时0.69s,达到了厂方对于缺陷在线检测的响应时间要求。GRNN-PNN多分类的准确率为86%,能够对印铁过程中产生的主要缺陷进行分类。二分类的灵敏度为96%,可以准确地判断产品整体的合格性。在5%的椒盐噪声干扰下,准确率为63%,具有良好的鲁棒性。结论该设计能够对印铁缺陷进行精确的分类和智能的判断,GRNN-PNN神经网络可以在印铁过程中进一步提高检测精度,GRNN-PNN神经网络可帮助质检员及时判断生产质量。  相似文献   

14.
    
In semiconductor manufacturing, wafer testing is performed to ensure the performance of each product after wafer fabrication. The wafer map is used to visualize the color-coded wafer test results based on the locations. The defects on the wafer map may be randomly distributed or form clustered patterns. The various clustered defect patterns are usually caused by assignable faults. The identification of the patterns is thus important to provide valuable hints for the root causes diagnosis. Solving the problems helps improve the manufacturing processes and reduce costs. In this study, we present a novel convolutional neural network (CNN)–based method to automatically recognize the defect pattern on wafer maps. Our method uses polar mapping before the training of CNN to transform the circular wafer map into a matrix, which can be processed within CNN architecture. This procedure also reduces the input size and solves variations in wafer sizes and die sizes. To eliminate the effects of rotation, we apply data augmentation in the training of CNN. Experiments using the real-world dataset prove the effectiveness and superiority of our method.  相似文献   

15.
基于神经网络的桥梁损伤位置识别   总被引:15,自引:1,他引:15       下载免费PDF全文
损伤位置识别是对大型桥梁结构进行损伤检测的重要一步.以汲水门斜拉桥为背景,对应用神经网络的模式分类技术识别桥面结构损伤位置的方法进行了研究.使用了两种类型的网络,简称动态网络和GA网络,探讨了这一方法的可行性.动态网络的网络结构是根据训练进程而动态地确定的.GA网络是在训练中引进了遗传算法.比较了两种网络对损伤位置的识别效果.结果表明,应用神经网络的模式分类技术对桥梁桥面结构损伤位置识别的方法是可行的.只需要较少的输入数据,两种网络均可产生较好的识别结果.  相似文献   

16.
目的为了准确而快速地自动检测医药玻璃瓶的外观缺陷。方法基于YOLOv3算法,建立深度卷积神经网络学习检测模型,通过将神经网络结构浅层和深层特征向量连接并标准化,提取玻璃瓶多尺度特征信息。采用K-means聚类方式获得锚点框初始大小,提高模型对边界框预测的准确性;利用多尺度训练策略,增强模型对不同尺寸图像的鲁棒性。结果实验结果表明,提出的医药玻璃瓶缺陷检测方法能够准确检测识别玻璃瓶上的管端残损、气线、气泡、划伤、污渍和结石等缺陷种类。与主流的目标检测方法相比,提出的方法在处理速度和准确度上都有提高,缺陷目标检测精确率达到96.23%,召回率为93.82%,平均精度为89.35%。结论该方法已经在国内几家大型医药玻璃包装生产公司成功应用,显著提高了医药玻璃包装产品的质量和合格率,降低了人工成本。  相似文献   

17.
B Yegnanarayana 《Sadhana》1994,19(2):189-238
This tutorial article deals with the basics of artificial neural networks (ANN) and their applications in pattern recognition. ANN can be viewed as computing models inspired by the structure and function of the biological neural network. These models are expected to deal with problem solving in a manner different from conventional computing. A distinction is made between pattern and data to emphasize the need for developing pattern processing systems to address pattern recognition tasks. After introducing the basic principles of ANN, some fundamental networks are examined in detail for their ability to solve simple pattern recognition tasks. These fundamental networks together with the principles of ANN will lead to the development of architectures for complex pattern recognition tasks. A few popular architectures are described to illustrate the need to develop an architecture specific to a given pattern recognition problem. Finally several issues that still need to be addressed to solve practical problems using ANN approach are discussed. This paper is mostly a consolidation of work reported by several researchers in the literature, some of which is cited in the references. The author has borrowed several ideas and illustrations from the references quoted in this paper.  相似文献   

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