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张月文刘玉杰潘熠霄张愿成王训春 《电工材料》2016,(3):3-7
通过在银粉中添加不同的分散剂并调节其配比,探索分散剂对银粉的分散效果以及对背面银浆电性能的影响。以银浆细度、附着力、相对电阻率等表征其性能。结果表明:银粉的最佳分散剂为A01,占银粉总量比例为1.0%,此时银粉分散性好,银浆烧结致密。 相似文献
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介质损耗试验时,传统做法和理论分析均采用正接法,因为正接法对并联在被试设备两端的电容有良好的屏蔽作用。但试验发现并联电容易造成介损值偏大。通过试验和理论分析发现,由于套管氧化层电阻的影响。如果在回路中串联了接触电阻,则并联在被试设备两端的电容就会对整个测量系统造成影响,且电容量在回路中占总电容量的比例越大,对介损值的影响也就越大。 相似文献
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《电工材料》2015,(6)
分别研发了适用高方阻和低方阻晶硅太阳能电池的正面银浆A和B,并将两者应用到尺寸为156 mm×156 mm,方块电阻分别为60Ω/sq、85Ω/sq的多晶硅电池片上。结果显示两种银浆制备的60Ω/sq多晶硅电池片性能十分接近,而85Ω/sq多晶硅电池片性能差异明显。在利用A、B两种浆料制备的85Ω/sq多晶硅电池片中,B的Rs较A高8.15 mΩ,FF低8.1%,Eff低2.28%,接触电阻率是A的5倍以上。并将A、B两种银浆印刷于已经扩散、镀膜的抛光单晶片上,烧结后再使用HNO3、HF依次腐蚀银和玻璃,观察玻璃、硅界面的状态。结果表明A在硅上留下的腐蚀坑较B的数量多、分布均匀、腐蚀深度均一,且A的玻璃层厚度更小,对氮化硅的开孔率更高。 相似文献
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前言目前我国低压并联电容器正处于更新换代时期,采用国际上七十年代的金属化聚丙烯膜电容器代替四十年代的油浸纸电容器的工作已在开展。金属化电容器的各项电性能及比特性均大大优越于油浸纸介电容器。但是金属化电容器的工艺比较复杂,特别是元件端头的接触电阻对产品质量影响尤为严重。本文试图就控制元件端头接触电阻进行初步探讨。 相似文献
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利用数字式恒定功率测试系统(DCPS)对多晶硅微电阻进行恒定直流功率负荷下电阻随时间变化特性的测量实验。用标准CMOS工艺和后续和腐蚀工艺制成悬浮结构多昌硅微电阻。测试结果表明,在恒定直流功率条件下工作的微电阻的稳定性由临界功率Pcri值决定,当负荷于电阻上的恒定直流功率P≤Pcir时,电阻值在负荷时间内保持常量;当P〉Pcir时,电阻值随时间增加而增加。临界功率值决定于流过电阻的电流密度、电阻结 相似文献
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Hong Yang He Wang Xiandao Lei Chuanke Chen Dingyue Cao 《International Journal of Numerical Modelling》2014,27(4):649-655
According to the potential barriers generated by the silver, glass layer, and N+ emitter, an analytical model is developed to explain interface contact performance between the printed thick‐film silver paste and emitter for crystalline silicon solar cells. According to the model, the front contact resistance between the sintered silver and N+ emitter is simulated at different doping concentrations, temperatures, and density of state. The quantitative expression of interface contact resistance between the printed thick‐film silver paste and N+ emitter is derived for the first time. The results in this study unify different viewpoints about the current transport mechanisms at the sintered silver–silicon interface. If the glass frit chemistry and silver particle size are carefully tailored, the silver consumption per watt can be reduced, and the efficiency of crystalline silicon solar cells can be further improved. The results lay the foundation for studying the screen‐printed crystalline silicon solar cell front contact metallization system. Copyright © 2013 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
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通过应用数字成像与图像识别技术,提出一种对银金属氧化物电触头材料金相结构进行量化分析的方法。通过外界因素对分析结果的讨论,验证了该方法的有效性,实现了银金属氧化物电触头材料金相结构的量化宏观评价。 相似文献
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分析了中、大容量交流接触器节银触头、断路器节银触头、无银背触头、铆接式元件触头、铆钉型触头的节银模式和节银效果。针对铆接式元件,提出了节银实施方案,同时比较了各种铆钉型触头的节银效果,以达到在保证电器产品可靠性前提下降低成本的目的。 相似文献
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对接触器触头支持与基座导向槽接触面进行力学及结构分析,找到在基座的导向槽下方与触头支持接触面上添加垫块的方法。倾斜的触头支持降低了触头支持的磨损,减小吸合瞬间的摩擦力;上侧触头开距大于下侧触头开距倾斜的触头支持,更有利于分断灭弧。确定了垫块的高度及与导向槽的距离尺寸的临界点,控制垫块结构,使其达到最优的力学性能。通过试验验证了研究的正确性和合理性。 相似文献
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Thermomechanical Reliability of Low-Temperature Sintered Silver Die Attached SiC Power Device Assembly 总被引:2,自引:0,他引:2
A thermomechanical reliability study was conducted on a low-temperature sintered silver die attached SiC power device assembly. The silver die attachment was formed by sintering nanoscale silver paste in air at 300 degC to form a strong bond between silver- or gold-coated direct-bond-copper substrates and silver-metallized SiC Schottky diodes. Using the 50% drop in the die-shear strength as the failure criterion, an accelerated thermal cycling experiment between 50 degC and 250 degC showed that the silver die attachment can survive more than 4000 cycles, indicating its high thermomechanical reliability at the interested temperature range. Established mainly by scanning electron microscopy/energy-dispersive spectroscopy, the drop of the die-shear strength during the thermal cycling was attributed to the pile-up of creeping dislocations to form microcavities at the grain boundaries of the sintered silver 相似文献
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随着全球经济一体化,我国加入WTO,国家放开白银市场,国内银价正逐步与国际银价接轨。白银价格的波动上涨,对以白银为主要原材料的低压电触头行业产生了很大的影响。本文尝试探讨白银价格波动上涨对国内电触头行业的采购、生产、成本、销售和研发产生的影响。 相似文献