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SRAM的高成品率优化设计技术 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种嵌入式SRAM的高成品率优化方法:通过增加冗余逻辑和电熔丝盒来代替SRAM中的错误单元。利用二项分布计算最大概率缺陷字数,从而求出最佳冗余逻辑。将优化的SR SRAM64 K×32应用到SoC中,并对SR SRAM64K×32的测试方法进行了讨论。该SoC经90 nm CMOS工艺成功流片,芯片面积为5.6 mm×5.6 mm,功耗为1997 mW。测试结果表明:优化的SR SRAM64 K×32在每个晶圆上的成品数增加了191个,其成品率提高了13.255%。 相似文献
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本文提出了一种新颖的8管抗SUE,高噪声容限的SRAM单元。通过在每个访问晶体管上增加了一个并联的晶体管,上拉PMOS的驱动能力可以设计的比传统单元的PMOS的驱动能力更强,读访问晶体管可以设计得比传统单元的读访问晶体管更弱。因此保持,读噪声容限和临界电荷都有较大提高。仿真结果表明,与传统的6管单元相比,合理设计上拉晶体管尺寸后,临界电荷提高了将近3倍。保持和读静态噪声容限分别提高了72%和141.7%。但该新式单元的面积额外开销为54%,读性能也有所下降,适用于高可靠性应用,如航天,军事等。 相似文献
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叙述了最近几年来国外研制超高速高电子迁移率晶体管集成电路的进展情况。现在用该器件做成了直接耦合场效应晶体管逻辑电路,在77K下,环形振荡器的延迟时间已经缩短到5.8ps/门,1/2分频器的输入频率是13GHz。因此,研制结果表明高电子迁移率晶体管是当前已知的半导体器件中速度最快的一种器件,这种器件非常适合制造高速LSIC,对开发超高速电子计算机有重要意义。 相似文献
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盛柏桢 《固体电子学研究与进展》1990,(1)
<正>据日本《电视学会志》1989年第1期报道,日本东芝公司在实验中首先发现双极晶体管具有双稳态特性,并根据这种现象研制成由两种器件构成的新概念SRAM.该公司着眼于减少构成SRAM的器件数,根据偏置条件(基极和收集极电压)使双极的基极电流反转,发现并确认所产生的双稳态特性.具体情况是:基极电压在0.5V以下和0.9V以上时,电流从基极向发射极流动,在0.5~0.9V范围内电流从收集极向基极反向流动.为了存贮信息,以前的SRAM单元由双稳态多谐振电路的6个元件(4个MOS晶体管 相似文献
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Veena Kondapalli 《电子设计应用》2006,(9):100-102
引言同步S R A M的传统应用领域是搜索引擎,用于实现算法。在相当长的一段时间里,这都是SRAM在网络中发挥的主要作用。然而,随着新存储技术的出现,系统设计师为SRAM找到了新的用武之地,如:NetFlow(网流)、计数器、统计、包缓冲、队列管理和存储分配器。如今,人们对所有路由器和 相似文献
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分析了高阻多晶硅隔离的电学和工艺可能性,介绍了用高阻多晶硅隔离制造ECL超高速电路的主要工艺技术和结果,分析了这种隔离结构的某些特点和优越性。 相似文献
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本文从多个角度介绍了在无线芯片日益高集成化的趋势下,各种无线技术集成在一起带来的市场发展新机遇以及遇到的具体问题,力求从多个公司的角度探讨无线芯片未来发展的主要方向。 相似文献
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以高电子迁移率晶体管,异质结双极晶体管和微波/毫米波集成电路为例,介绍化合物半导体器件的特点,封装,测试及其应用。 相似文献
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