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通过对真空断路器合闸时的触头受力情况进行的分析,推导出了弹跳过程的数学表达式。它不但阐述了弹跳参数与各影响因素之间的关系,而且据此计算的弹跳特性与实测结果相当吻合,这些表达式对真空断路器的设计有一定的参考作用。并对改善触头弹跳提出了一些建议。 相似文献
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真空断路器的合闸弹跳与分闸弹振 总被引:2,自引:3,他引:2
通过试验,分析了真空断路器的合闸弹跳与分闸弹振,说明产生的原因及克服的方法,触头材料硬度越大,合闸弹跳越大;而触头压力越大,合闸弹跳赵小,较大的合闸弹跳增加了触头熔焊的可能性,从而导致短路开断失败。总结了调试真空开关实践经验,给出了几种减小合闸弹跳的方法。目前真空开关向“小开距”的方向发展,在条件允许的情况下,适当缩小触头开距,增加超行程,可以提高分闸速度,因此可以提高开断短路电充的能力。分析指出:分闸速度过大,会产生不利于短路开断的负面影响-分闸弹振。 相似文献
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合闸弹跳是真空断路器机械特性的重要参数,它影响到灭弧室的电寿命。而采用缓冲机构减小弹跳的方法又会影响到断路器工作的可靠性。为此从真空断路器的工作机理出发,分析这几种因素之间的关系,找出主要矛盾。并提出减少弹跳的对策,以及对开关标准进行修订的新见解。 相似文献
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<35 kV户内高压真空断路器通用技术条件>(ZBK97004-89)将合闸弹跳时间定义为断路器在合闸时两触头刚接触至两触头稳定接触瞬间为止的时间.所有直读数据的开关特性测试仪都是按照这个定义来设计制造的.影响灭弧室电寿命的是电弧,而电弧只有在合闸瞬间动静触头不接触时才会产生,在动静触头接触时不会产生.大量实践及理论分析均表明,真正对真空开关的电寿命有影响的因索是:合闸过程中,触头刚接触至触头稳定接触瞬间为止,这期间的触头断开时间.供电部门在工程安装时,一般都在<电气装置安装工程电气设备交接试验标准>(GB50150-91)对设备进行验收,GB50150-91第11.0.7条规定:真空断路器合闸过程中,触头接触后弹跳时间不应大于2 ms,这与实际工作有差异.因为技术不断地在发展,新型触头材料抗熔焊极好,在发生熔焊时,熔焊点呈脆性,破坏熔焊点所需的力小于真空断路器的分闸力,目前许多国外同类产品如日本东芝公司10 kV断路器只要求弹跳小于10 ms,新型触头材料的应用已为合闸弹跳的时间突破2ms创造了条件.目前许多真空灭弧室规定的合闸弹跳时间都可大于2 ms,仅要求小于3 ms,甚至5 ms. 相似文献
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《35kV户内高压真空断路器通用技术条件》(ZBK97004—89)将合闸弹跳定义为断路器在合闸时触头刚接触直至触头稳定接触瞬间为止的时间。开关特性测试仪都是按照这个定义来设计制造的。影响灭弧室电器寿命的是电弧,而电弧只有在动静触头不接触时才会产生,在动静触头接触时不会产生。大量实践及理论分析均表明,真正对真空开关的电 相似文献
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智能真空断路器的同步关合控制 总被引:2,自引:1,他引:1
提出了同步开关智能化的概念并分析其工作原理。利用人工神经网络建模预测分、合闸时间及其在DSP上的实现方法,用Matlab对真空断路器关合空载变压器的暂态过程进行了仿真,建立了合闸时间预测的数学模型。仿真测试表明,所采用的算法具有精度高、收敛快等优点。 相似文献
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针对一般的触头装置在带选择性保护小型断路器(SMCB)中应用的不足,提出了一种自动闭合触头装置的技术方案。该方案不仅使触头弹簧对动触头的分断阻力影响降低到最低,且应用了旋转式双断点技术,使SMCB具有较高的分断能力。 相似文献
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考虑到双断口真空断路器存在操作分散性,一个断口先动作时,另一个断口上的均压电容会与该先动作的断口形成通路;同时均压电容上若提前储存有能量,是否会对涌流产生影响目前尚无研究。为解决该问题,文中展开了相关研究。首先通过建模,再进行数学公式推导并利用PSCAD/EMTDC软件进行仿真计算,分析了在此过程中,均压电容储存有能量的前提下,均压电容对涌流的抑制作用。并分析了后动作的断口的合闸相位对合闸涌流的幅值的影响。结果表明:在不考虑预计穿的情况下,合闸涌流的幅值由最后完成合闸动作的断口的合闸相位决定的;且涌流存在着稳态分量和高频暂态分量。运用选相合闸技术只能控制涌流的稳态分量的幅值,而高频暂态分量的振荡频率无法通过选相合闸技术进行控制。 相似文献
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大容量发电机断路器用真空灭弧室 总被引:2,自引:0,他引:2
随着真空开关技术的发展,采用新型纵磁均布式触头技术的真空发电机断路器成功地通过了严酷的12kV/6300A/80kA型式试验。结果表明,其真空灭弧室结构先进、性能优异、完全符合GB/T14824-93发电机断路器通用技术条件的规定。本文着重探讨满足发电机回路严酷条件下大电流真空灭弧室的核心设计和型式试验。 相似文献
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通过NYDK1低压真空断路器的触头系统结构力学模型理论计算和分析,对不同的真空灭弧室方案进行对比筛选,结合不同方案在型式试验中的表现和试验结果分析,探求提高NYDK1低压真空断路器性能指标的可能性. 相似文献
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