凸度仪钢板厚度分布重建算法研究

X射线热轧钢板凸度仪利用双X射线源、双排电离室阵列探测器获取钢板横截面厚度分布的两组投影数据。本文利用双X射线源与双排阵列探测器的几何布局，以及对钢板横断面厚度分布连续性的先验条件，使用钢板横断面厚度分布的两组投影数据，在钢板横断面两边缘位置确定后，完成对钢板横断面厚度分布的重建。该重建算法目前已在实际的凸度仪系统样机中使用。     

凸度仪系统机械参数确定方法研究

在双X射线源、双电离室阵列探测器构成的钢板凸度仪系统中,射线源、探测器阵列以及钢板之间的位置关系（凸度仪的机械参数）,是决定系统精度的关键因素之一。本研究基于实际的凸度仪系统,结合X射线源的实际张角能力,利用噪声分析的方法,研究系统的机械参数对测量精度的影响规律。通过对该影响规律的分析,即可根据系统精度需求、所需达到的分辨率,以及X射线源的张角大小,获取优化的凸度仪机械参数。在凸度仪样机的构建过程中,该方法得到了实际应用。     

基于ElecNet的凸度仪电离室电场分布模拟

凸度仪对探测器响应时间有很高的要求,对于高压充气电离室探测器,电离室内电场分布是决定其响应时间的一个重要因素。本文通过有限元电场模拟软件ElecNet对凸度仪电离室内部的电场分布进行了仿真,根据仿真结果从理论上分析了高压充气电离室电场分布对其输出波形信号的影响,解释了出现“拖尾”现象的机理,为凸度仪电离室的设计和改进提供了指导。     

凸度仪电离室探测器响应时间的估算方法

为了实现凸度仪对热轧板带材的在线凸度检测功能,研制能快速响应的高压充气电离室探测器是一项关键工作。通过可靠的方法估算电离室的响应时间可以为凸度仪电离室的研制提供指导,降低研发成本。论文提出一种基于范式方程修正的估算方法,估算出了凸度仪电离室的响应时间。分析结果表明,该方法能够有效地估算电离室的响应时间,对凸度仪电离室探测器的研制具有参考意义。     

凸度仪系统机械系统加工精度对重建误差的影响研究

双X射线源、双电离室探测器阵列构成的热轧钢板凸度仪,其机械部件多、尺度大,加工和安装难度高。在加工和安装过程中不可避免地存在误差,且误差会逐渐累积,表现为机械参数与设计值有偏差。本文基于实际凸度仪系统,研究机械参数的精度对凸度仪测量精度的影响规律。结果表明,适当加大射线源间的距离,以及提高射线源相对探测器的位置,可降低机械参数的精度对测量精度的影响;同时,如果系统的测量精度为0.1%,在忽略准直等问题后,则允许的机械加工的精度范围在数十mm。     

凸度仪系统中确定钢板边缘算法的研究

为了在双X射线源、双电离室阵列探测器构成的热轧钢板凸度仪系统中重建钢板横截面的厚度分布,必须对钢板横截面的两个边缘进行准确计算。本研究基于实际构建的凸度仪系统,应用X射线在物质中衰减的规律,对X射线在钢板边缘处的衰减进行准确建模,并利用对应于钢板边缘的探测器的输出信号,完成了钢板横截面边缘的准确计算。研究结果表明,利用该算法得到的钢板边缘正是钢板边缘的中点位置,边缘计算的算法准确。     

凸度仪电离室探测器时间响应特性研究

本文利用脉冲X射线机发射宽度很短的脉冲射线,通过分析数字示波器记录的电离室负载电阻上的电压信号,测量电离室内的离子漂移时间。利用该方法对凸度仪电离室探测器的时间响应特性进行了研究,给出了不同内部结构、不同电压及不同气压的电离室离子漂移时间的测量结果,并分析了误差产生的原因。实验结果表明,凸度仪电离室的时间响应满足在线测量热轧钢板的要求。     

二维阵列电离室探测器数据采集系统设计

介绍了用于对肿瘤放射治疗进行剂量验证的二维阵列电离室探测器的数据采集系统的设计与开发。文章描述了该二维阵列电离室探测器系统的构成以及工作原理,重点讨论了该探测器的数据采集子系统的设计过程,并完成了由前置放大器、前放控制器、数据采集控制器构成的数据采集子系统的开发。用户端可通过TCP/IP方式对探测器系统的参数进行设置,并进行数据高速采集、获取和进一步的处理。     

一种新型小像素气体电离室阵列探测器

介绍了一种新型小像素气体电离室阵列探测器的结构，性能指标，由于阵列探测器具有优越的综合性能，因此已作为核心器件应用于^60Co工业无损检测系统，还对此类型阵列探测器的应用做了展望。     

60Co集装箱阵列背散射辐射成像系统研究

与透射辐射成像相比,康普顿背散射成像技术更适用于爆炸物、毒品等低密度违禁品的检测.据此,提出了一种大型客体阵列背散射辐射成像方案,设计、开发了一体化阵列气体电离室探测器,搭建了1/3规模实验样机,并对有机物加亮效应、背散射图像校正、复原等相关技术问题进行了仿真与实验研究.     

透射电离室作为低能质子束流监测器的研究与应用

为有效监测低能质子的束流强度,研制了一种透射型电离室,用于HI-13串列加速器上低能质子束流的监测。研究了它的基本计量学性能,结果表明,各项性能均满足工作级电离室的要求。与传统的侧向束流监测用金硅面垒探测器测量结果相比,基于同向测量的透射电离室作为监测探测器明显优于金硅面垒探测器,提高了测量结果的准确度。     

X光电离室标准探测器研制及应用

在电离室的内部设置探测器并采用大的电离室腔体,可直接测量气体吸收、降低气体密度分布梯度、避免由于气压不稳、窗膜吸收和窗口尺寸等引起的不确定性.本文分析了引起X光强度测量不确定度的各个因素,给出X光电离室标准探测器的测量不确定度好于5%.     

电荷积分放大电路对测量电离室时间响应速度的影响

测量放大器的时间响应速度直接影响电离室时间响应速度的测量研究。本文介绍了选用电荷积分放大器设计测量电路的原因,分析了用稳定辐射源照射电离室单元产生阶跃电流信号的机理,提出了通过测量电流信号变化的过程来研究放大器时间响应速度的方法。通过实验研究了放大器的时间响应速度与探测器单元极间电容、放大器输入端保护电阻以及反馈积分电容大小的关系,得出放大器的时间响应速度与电离室极间电容和保护电阻的时间常数有关,而与反馈积分电容大小无关。这为电离室和测量电路的设计提供了理论指导。     

基于DCS改造最小验证平台的稳压器压力控制回路比对测试研究

通过试验研究了工作气体的压力和种类对涂硼电离室坪特性、中子灵敏度和γ感应度等性能的影响。试验结果表明,随着工作气体压力的增大,电离室坪区会向高电压方向移动,即电离室的工作电压会增大;工作气体为10%CH4+90%Ar（P10）时,当工作气体压力（从0.025 MPa 增加到0.15 MPa）增大,电离室中子灵敏度会迅速增大,继续增大工作气体压力,电离室中子灵敏度保持不变;电离室中子灵敏度会随着工作气体中高电离能气体成分增加而减小;P10气体压力在0.1~0.4 MPa范围内,电离室γ感应度与工作气体压力成正比。      

凸度仪X光机参数设置有效性的实验验证

X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180kV、电流为11mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。     

A Gamma Compensated Neutron Ionization Chamber Detector for the Nerva Reactor

A compensated ionization chamber, the WX-5362, has been developed for use in the NERVA program as a neutron flux detector for reactor control. The chamber has been designed to withstand the extremes of radiation, temperature, shock and vibration associated with the NERVA reactor.     

基于微通道板的电离室及其在同步辐射中的应用

在同步辐射装置中,气体电离室是定标光束线能量和评估能量分辨率的一个重要实验装置。为了摆脱电极探针式电离室的气体展宽对束线能量分辨率测定的限制,本文将微通道板(Microchannel Plate,MCP)应用于同步辐射光束线中的电离室,研制成功了具有高能量分辨率的电离吸收谱的探测系统。利用此系统测量标准气体在X射线入射时的电离吸收谱,通过分析测量所得谱线中吸收峰的展宽,可获得光束线的仪器展宽,本文以Ar的吸收谱为例给出了测量结果。     

用于重离子核反应实验测量的纵向电场气体电离室

本文报道了一种新型的大动态范围，多叠层探测器系统组件之一的纵向电场气体电离室的构造，性能和在中能得离子核反应实验中的应用。