基于平均位移kerma因子方法的位移损伤计算

根据硅位移kerma函数表,针对传统的基于平均能量的kerma因子取值方法在位移损伤计算中的不足,提出了不同能量中子分群方式下硅位移kerma因子取值的新方法--平均位移kerma因子法.使用该方法计算了几种典型辐射源的位移损伤.结果表明:不同分群方式下,采用平均能量法获得的损伤结果相差17%左右,采用平均位移法得到的损伤结果相差4%左右;采用平均位移法时,群内中子分布模式对损伤结果没有显著影响.     

HL-1M装置机械位移测量

1 测量方法 位移测量系统由探头、信号连接线、电源连接线、配套仪器、显示纪录仪器、支架等组成。探头和配套仪器自制。测量原理为直流电桥法。实际测量则采用了对称位置比较测量的方法,测量了环向场径向(2个测量点)、环向场环向(4个测量点)、真空室径向(1个测量点)、内欧姆上线圈垂直方向(1个测量点)共8个点的机械位移量和方向。     

基于CPLD的CCD通用驱动电路设计方法

建立CCD通用测试平台有助于系统研究各类CCD器件的辐射效应及损伤机理。探讨了一种基于CPLD的线阵CCD通用驱动电路设计方法与实现途径。利用MAX-PL USII开发系统,选用MAX7000S系列CPLD芯片,设计实现了核心驱动主控制器,用于读取外部存储器驱动文件,设置相关参数寄存器,并产生符合参数要求的驱动时序脉冲。在此方法的基础上,完成了基本驱动模块电路的设计。基本驱动模块电路输出波形的测试结果表明,这种设计方法是完全可行的。     

线阵CCD总剂量辐照效应离线测量系统设计

建立了线阵CCD器件总剂量辐照效应离线测量系统,并利用该系统对一种商用线阵CCD进行了辐照效应研究,给出了暗电流输出电压信号和饱和电压信号的变化曲线。结果表明,该测量系统能够满足线阵CCD辐照试验要求。     

全帧CCD探测器CT扫描数据读出与拖影校正研究

以光纤耦合全帧CCD方式制作的X射线探测器在实验室高精度X射线CT扫描中广泛应用。由于X射线的强穿透特性,全帧CCD探测器通常工作在无快门模式,图像拖影是该模式下必定存在的伪影。本文针对全帧CCD探测器CT扫描图像拖影校正进行研究,提出了非曝光行校正法校正投影图像拖影,避免了利用暗像元校正法校正投影图像拖影时可能会带来的条形伪影;针对动态曝光CT扫描,设计了基于辐射屏蔽的投影图像感兴趣区域快速读出模式,通过降低电荷转移时间有效抑制投影图像拖影的产生,提高探测器有效信号动态范围。实验结果表明：应用非曝光行校正法能有效校正投影图像拖影、提高投影图像质量;采用投影图像感兴趣区域快速读出模式可有效解决动态曝光CT扫描图像拖影校正难题。     

丝扫描探测器测量同步辐射X光的位置和尺寸

丝扫描探测器可用于同步辐射光束线站光束位置和光斑大小的测量,论文简述了该探测器的结构和设计中的注意事项,同时给出了不同的数据处理方法对探测器测量结果的影响效果;可指导设计不同要求的丝扫描探测器,其测量精度最高能达到10μm。论文还介绍了丝扫描探测器的拓展应用,以及此类探测器在上海光源光束线上的使用情况,所设计的丝扫描探测器全部满足了各条光束线站的测量要求;并进一步提出了开展此类探测器研究的内容及其作用。     

基于CZT探测器的SPRD采集系统研究

介绍了一种用于SPRD的多道采集系统设计方案.方案采用集成电路搭建各功能模块,实现了系统体积小,功耗低的要求.采用CPLD进行信号间的逻辑控制,通过一片低功耗单片机实现能谱数据的处理以及与监控系统的通信.最后,配合eV公司的SPEAR型CZT探测器进行了137Cs的能谱采集测试.     

一种线阵CCD显微测量系统的标定方法

使用参数分离标定的方法对微小物体的在线高精度测量控制系统进行标定。研究了线阵CCD显微相机的成像模型,提出相机的内外参数分离标定方法,在实验室模拟工业环境下和工业现场分别标定相机的内参数和外参数。参数分离标定的方法简化了工业现场的标定任务,相机可应用于多种测量环境,且标定模板容易制作。实验证明该标定方法精度较高,标定后相机的极限误差为2.05μm。     

半导体探测器噪声的测量

一、引言半导体探测器是近几年内迅速发展起来的新型探测元件。与其他探测元件相比,它具有很多的优点。主要优点之一,是有良好的能量分辨率。但是,器件给出的讯号幅值较小,在它本身的噪声的干扰下,能量分辨率变坏。为了能够充分发挥器件固有的高能量分辨率这一优点,所以要对探测器的噪声进行研究。半导体探测器最为重要的电性能是结电容与漏电流。结电容降低了讯号的幅值,漏电流会发生起伏,从而引起了噪声。由漏电流起伏所引起的噪声包括:由体漏电流的起伏所引起的散粒噪声和两种由频率倒数所表征的闪烁噪声。一种闪烁噪声是由探测器表面的复合中心     

线阵探测器CT系统调校及参数获取方法

为了解决线阵探测器CT系统存在结构偏差、参数不准确偏离设计值,影响重建质量的难题,提出了一种基于简单模型和少量DR投影的线阵探测器CT系统调校和参数获取方法。该方法采用一个正交金属细丝模型,通过设计一系列的投影,依据投影图像对系统结构进行调整并进行简单计算,即可完成偏差校正及参数获取。计算和实验表明,通过该方法得到的系统参数误差小于5‰,满足使用要求,重建图像质量很高。     

滤片—X光二极管阵列探测器的同步测量技术

本文描述了滤片－Ｘ光二极管阵列探测器的同步测量技术，在利用同步时标建立的的归一化坐标系中，不需要明确测量延迟时间，即可恢复由示波器记录的信号脉冲的时间同步特性，然后通过同校正后时间信号还原Ｘ光能谱的时间演变过程。     

大面积中子探测器阵列研制

"神光Ⅲ"原型是国家在建的ICF诊断装置,它的建设给我们提出了ICF中子诊断方面的新的研究课题.分析了"神光Ⅲ"原型中中子探测需求,讨论了ICF实验中中子探测方法,设计了基于中子飞行时间测量技术的电子学读出和记录系统.     

Research of Calibration System for CDEX 10 kg Detector Array

<正>The high-purity germanium detector is very competitive in both frontier research,the direct detection of dark matter and the neutrino-free double-beta decay experiment.And a same detector system may be used for both of the two experiments.In the second stage of China Darkmatter Experiment (CDEX),     

束流漂移对硅条探测器阵列测量的影响

为研究束流漂移对结构紧凑、覆盖立体角较大的硅条探测器阵列测量的影响,利用蒙特卡罗方法,模拟了不同方向、不同大小的束流漂移对熔合蒸发残余核α衰变和卢瑟福散射角分布的影响,表明束流漂移距离小于3.0 mm时,探测器阵列的对称性能将计数误差控制在10%以下。开展了25 MeV和40 MeV ⁶Li+²⁰⁹Bi体系的实验测量,利用监视器数据研究了束流漂移的情况,结果表明,所有轮次的束流漂移均未超过3.0 mm。对束流漂移进行修正后,用3种不同的立体角刻度方法得到了弹性散射角分布,感兴趣的40 MeV数据与文献数据基本一致。     

高纯锗探测器液氮自动补给系统研制

文章介绍高纯锗探测器液氮自动补给系统的总体结构、控制原理以及电路的选取和特点，并简要说明了软件实现的功能。     

怀柔EAS阵列的方向测定系统

本文介绍了由9路快时间测定通道构成的怀柔EAS阵列方向测定系统的测定原理、设备组成,描述了它的标定和使用方法,讨论了它的时间和方向测定精度。光脉冲模拟测量给出通道的分辨时间不大于1ns,对实际观测事例的统计分析表明,系统对EAS的时间分辨约为3ns。该系统已连续运行约一年,并产生了首批物理结果。     

金属漏装线阵辐射检测系统的设计

采用线阵辐射探测器检测包装箱中金属的漏装。该系统以CPLD为核心器件建立了多道数据采集并处理的硬件系统,硬件系统主要由一维线性阵列NaI辐射探测器、弱信号前置放大器、窗口比较器、数据采集部分和传输部分等组成。采用铅准直器获得不含散射射线的射线线带,以射线在物质中的衰减规律作为测量方法,由一维线阵NaI辐射探测器检测衰减后的射线,经过前置放大器和窗口比较器对信号调理,然后由CPLD进行数据的采集并传输给计算机处理分析。系统脉冲通过率可达300kcps,功耗低,最快金属包装箱传送速度50 cm/s,载重500 kg。实验结果表明该装置工作可靠、安全、操作方便,适合于批量包装箱漏装检测中应用。     

基于FET开关阵列的GEM成像探测器电子学系统设计

针对实验室GEM实时成像平板探测器多通道实时数据采集的需要,设计了一套基于FPGA和网络接口芯片的数据采集系统.该系统具有精度高、速度快、通道多、通用性强、安全可靠的特点,具有较高的应用价值.     

用于加速器质谱测量的Bragg探测器

文章涉及1台用于加速器质谱(AMS)测量的Bragg探测器的建立及其调试结果。该探测器是1台全阻止型的气体电离室,电场方向与入射粒子方向平行。用241Am源的α粒子对该探测器的主要性能进行了测试,并将该探测器用于AMS实验进行总能量测量和Z的鉴别。对于能量为49.7 MeV的26Mg离子,能量分辨达到1.4%,Bragg峰值的分辨好于4.1%。