同位素吸水剖面测井影响因素分析

同位素吸水剖面测井受诸多因素的影响，各种影响因素都会对资料的解释精度产生一定的影响。根据大量的测井资料对同位素套管污染、地层污染、同位素颗粒密度、同位素释放深度及时间、测井时间、施工方式、管柱腐蚀变形等进行了探讨分析，对各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法。     

同位素吸水剖面测井影响因素探讨

同位素吸水剖面测井受诸多因素的影响,各种影响因素都会对资料的解释精度产生一定的影响.根据大量的测井资料对同位素污染、地层污染、同位素颗粒密度、粒径、同位素释放深度及时间、测井时间、施工方式、管柱腐蚀变形等进行了探讨分析,并对各种影响因素的识别与校正提出了相应的方法和依据.     

注水剖面测井精细解释

注水剖面测井由于受到示踪剂微球颗粒直径大小，同位素粘污以及储层长期注水造成的内部孔隙喉道结构的变化等多种因素的影响，使常规测井解释遇到非吸水层位的同位素污染，主力吸水层同位素异常幅度太低，射孔井段的腐蚀穿孔或窜槽吸水等问题的困扰，致使测井解释精度大大降低，提高测井解释精度应注重同位素污染校正中水流方向确定和污染系数的校正，正确划分吸水层，对于非均质较为严重的储层必须开展厚层细分，对测井系列要不断改进和完善，例举了实例进行分析。     

同位素注水剖面测井资料深度校正的几种方法

在同位素示踪注水剖面测井中，根据注水井中不同的管柱结构，短套管位置，自然伽马基线等因素，提出了自然伽马对比法，磁定位短套管接箍对比法，磁定位与自然伽马曲线综合对比法和注水层位残留放射性和同位素曲线辅助校深法等4种不同的测井资料深度校正方法，并阐述了其各自的特点，认为在资料深度校正时，自然伽马对比法是普遍适用的，磁定位短套管法是最为简单的，为了要准确地进行资料的深度校正，应综合运用多种校正方法，以满足各种井况下同位素注水剖面测井解释之需要。     

同位素注水剖面测井相关影响因素的实验与分析

从油田测井资料测试与分析中存在的一些实际问题出发，通过对同位素注水剖面测井中相关影响因素所做实验的研究分析，总结出了一些有助于提高同位素测试成功率与剖面解释精度的方法和结论。     

表面活性剂在同位素注水剖面测井中的应用

同位素注水剖面测井受多种因素，特别是管柱沾污的影响，使得测井资料质量差或根本无法解释。实践表明，利用表面活性剂预处理井筒，可有效降低同位素管壁沾污，提高测井资料质量。     

江汉油田^131Ba—GTP微球井下释放测井工艺

江汉油田从二十世纪七十年代开展同位素吸水剖面测井工作，近三十年来测井一千多井次，使用过银（^110Ag)、锌（^65Zn)、碘（^131I）、钡（^131Ba)等同位素。由于油田规模和经济能力的限制，长期以来一直采用自然注水，井口倒入的测-注-测工艺，即在家里配同位素，上井先测基线，井口倒入同位素，自然注水等1-3天再测同位素GR曲线，由于井口倒入同位素、注水时间长，同位素的悬浮、沉淀、失踪“污染频频发生，一井测几天，有时还测不完，测井效率极低，且造成井场，井口，井筒内各种污染，九十年代中期各大油田采DDL、AT^ 、CSU等先进设备进行密闭测井，而江汉仍用JD-581，井口倒入法，被戏称为同位素吸水剖面测井的“原始森林”。     

五参数注入剖面组合测井资料解释

通过对比分析组合测井资料，提出了五参数注入剖面组合测井资料解释方法。与常规三参数注入剖面测井相比，不仅可以提高解释精度，而且可以通过综合分析同位素测井资料、井温测井资料与电磁流量计测井资料确定地层大孔道、窜槽等影响因素，使注入剖面测井资料在油田注水开中发挥更大作用。     

一种新型同位素示踪剂载体及应用

同位素沾污、低注井同位素示踪剂因沉降造成的上返速度慢或无法上返、大孔道地层同位素示踪剂失踪等是影响注水开发油田后期吸水剖面测井资料质量的主要问题。同位素示踪剂载体的物理参数，尤其是其密度，是产生上述问题的重要因素。通过对同位素示踪剂载体技术指标优选而生产的一种新型同位素示踪剂，可以解决低注井同位素上返速度慢的问题，并能有效识别大孔道地层，减少同位素沾污。这种同位素示踪剂载体已在河南油田吸水剖面测井中应用，并见到了很好的效果。     

同位素测井曲线异常的影响因素分析

本文主要是从测井曲线的影响因素出发,包括同位素污染和注水井井况,分析影响测井曲线异常的机理,并探讨相关措施来提升同位素测井资料解释的准确性。