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相似文献
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1.
印建平 《光电工程》1994,21(4):42-47
提出了一种快速自动测试光栅光谱衍射效率的新方法。重点推导了测试平面光栅绝对光谱衍射效率与相对光谱衍射效率公式,介绍了双光束高精度自动测试光栅光谱衍射效率曲线的基本原理、方案与方法,并分析了测试精度。研究表明,本方案的测试速度和精度均比一般测试方法提高一倍,并能有效地消除光源波动对测量结果的影响,测量误差小于5×10-3。  相似文献   

2.
基于耦合波理论,提出了一种推导反射体布拉格光栅衍射效率方程的新方法。在被推导的衍射效率方程基础上,获得了平面单色和高斯光束反射体布拉格光栅衍射的详细理论模型,分析了平面单色、发散单色和多色光束的衍射效率。结果表明:平面单色波的角和谱选择性随光栅厚度和空间频率而变化,角选择性的范围从低于0.01mrad到超过100mrad,谱选择性的范围从低于0.1nm到超过100nm;当光束的角发散或谱宽等于光栅的角选择或谱选择性时,光栅能提供超过88%的衍射效率;当光束的角发散或谱宽远小于光栅的角选择或谱选择性时,光栅衍射效率下降不明显,不到平面单色波的1%。  相似文献   

3.
非相干组束中反射体布拉格光栅的衍射潜力(英文)   总被引:1,自引:0,他引:1  
基于耦合波理论,提出了一种推导反射体布拉格光栅衍射效率方程的新方法.在被推导的衍射效率方程基础上,获得了平面单色和高斯光束反射体布拉格光栅衍射的详细理论模型,分析了平面单色、发散单色和多色光束的衍射效率.结果表明:平面单色波的角和谱选择性随光栅厚度和空间频率而变化,角选择性的范围从低于0.01mrad到超过100mrad,谱选择性的范围从低于0.1nm到超过100nm;当光束的角发散或谱宽等于光栅的角选择或谱选择性时,光栅能提供超过88%的衍射效率;当光束的角发散或谱宽远小于光栅的角选择或谱选择性时,光栅衍射效率下降不明显,不到平面单色波的1%.  相似文献   

4.
在LiNbO3单模波导上利用双光束干涉可形成光折变波导光栅,针对粗波分复用系统提出了通过实时改变双光束之间的夹角进而改变光栅间距,实现可调谐滤波的方案.利用光折变动力学理论,得到光栅调谐时间在毫秒数量级.研究发现,适当提高光强和增加杂质掺杂浓度可提高衍射效率、减少光栅初次建立时间.基于耦合波理论的数值模拟结果表明,增大光栅长度能使衍射效率提高且带宽变小,而增加折射率调制度使衍射效率提高但同时带宽变宽.在折射率调制度为8×10-5,光栅长度大于12mm时,可获得91%以上的衍射效率和小于0.08 nm的带宽.  相似文献   

5.
分束器在集成光学等领域具有重要应用价值。随着对分束比、衍射效率及光束光强均匀性的不断提高以及工艺水平的改善,相继提出了各种变异型位相光栅。本文讨论了一种双层结构的光栅分束器的设计方法。双光栅分别蚀刻在介质层的两面。  相似文献   

6.
光电材料动态自动光谱测试仪的研究与应用   总被引:3,自引:0,他引:3  
智能式光电材料动态自动光谱测试仪已在实验室研制成功。该仪器不但能用于夜视器件与材料的光谱响应响应测试,。而且能通过光纤传输光束,解决夜视器件稆的光谱响应监控测试。除此之餐,该仪器还可用于0.4-1.5μm范围光学材料光透射比测试。配置紫外光源,还可用地紫外光电发射材料光谱响应测试。配制300/mm,100/mm光栅与红外光源,可解决热成像器件的光谱响应测试问题。  相似文献   

7.
张鹏  李洪滨 《光电工程》1996,23(4):60-64
针对用于激光阵列探测系统中的计算全息位相光栅,给出了在不同波长激光入射的情况下,衍射光束的空间分辨率随不同入射角的变化情况。用实验验证了用可见光代替红外激光进行初步测试与分析的可行性,为用于红外系统的整形光栅的测试提供了简捷,便利的实验方法。  相似文献   

8.
采用平面闪耀光栅作为光谱元件的远红外光谱测量原理,分析了四种主要的重复性误差:光栅常数制造误差、零点标定误差、转角测量误差、入射光束与衍射光束的夹角测量误差。 并分别以112.5mm、40.05mm、25mm和12mm的四种闪耀波长为例,计算出了它们的误差传递系数曲线,根据误差传递系数对光谱仪进行误差分配,分析和计算表明:当光栅转角测量精度为1,光栅常数误差为0.5mm时,光谱仪可以满足l/100的波长测量误差要求和l/200的波长重复性测量误差要求。  相似文献   

9.
衍射效率是评价二元光学器件质量性能的重要指标之一.针对反射性阶梯光栅,利用几何方法计算出斜入射情况下光束在台阶边缘的光程差的分布情况,根据多缝夫琅和费衍射推导出反射型阶梯光栅的衍射光强表达式.并在此基础上,讨论了台阶数N取2和N趋向于无穷两种极限情况下阶梯光栅光强公式的变化情况,得到区别于一般文献所表达的衍射效率公式.初步试验表明,反射型阶梯光栅的衍射效率与台阶数、蚀刻深度与入射波长的比值均有密切相关.  相似文献   

10.
探讨实现空间滤波的新方法,分析体布拉格光栅作为空间滤波器的可行性,基于Kogelnik一维耦合波理论,讨论影响体布拉格光栅衍射效率和角度选择性的主要因素.用全息法在光致聚合物中记录了体布拉格光栅,完成了激光光束二维空间低通滤波的实验.实验结果表明:在记录材料达到饱和状态之前延长曝光时间能提高衍射效率:增大入射角度能使角度选择性提高,但由于吸收加大,衍射效率反而会有所下降.因此,体布拉格光栅用作空间滤波器时要对衍射效率和角度选择性作综合考虑.  相似文献   

11.
要保证测量数据准确可靠,必须对测量过程进行控制。测点管理是测量过程控制的有效手段之一。文章介绍了计量检测点管理的方法及其优点。  相似文献   

12.
在电能计量工作中,能否正确选择与电力系统运行方式相匹配的计量方式是影响电能计量准确性的一个重要因素。根据电力系统中中性点接地运行方式的不同进行分类,分别对三相三线、三相四线两种计量方式在不同的中性点接地系统中计量的准确性、合理性进行理论计算和技术分析,为电能计量方案的制定提供一定的理论依据。  相似文献   

13.
It is shown that it is technically possible to use the boiling point of nitrogen when calibrating platinum resistance thermometers. An analysis of the origins and an estimate of the components of the error are given, and the limits of the error of the results of measuring the boiling point are calculated.  相似文献   

14.
为了提高露点温度的测量准确度,寻找不同露点温度对应的最佳变化量,设计并进行了光电信号特征参数试验。使用自主研制的精密露点仪,调整不同的电压变化量对露点温度进行测量,将测量数据与MBW373型参考精密露点仪采集得到的数据进行对比,并计算误差,得到-30~-10℃温度区间内的光电信号特征参数与露点温度对应的关系表,分析得出该温度区间的光电信号特征参数,证实了光电信号特征参数试验方案的可行性,为之后进一步研究露点测量过程提供了数据参考和理论支撑。  相似文献   

15.
目前各杂志所发表的关于凸轮测量的文章,所讨论的均是凸轮的顺序测量方法,有关凸轮的逆序测量(反求工程)方法,尚未见于文字。本文将对凸轮的逆序测量方法进行探讨。  相似文献   

16.
非接触式激光测量点云数据预处理   总被引:1,自引:0,他引:1  
作为逆向工程中形状表面数字化应用最广泛的方式,非接触式激光测量具有接触式测量无可比拟的优势。然而激光测量所得的数据点云存在明显缺陷无法直接应用于三维模型重建。本文重点讨论了激光测量所得点云数据的特点,并针对其缺陷提出一些处理方法进行改善,使之可以直接应用于三维模型的重建。  相似文献   

17.
快速、准确地检测硝酸铵溶液析晶点对乳化炸药生产质量控制十分重要。为研究硝酸铵溶液析晶点的快速、准确的测量方法,从理论上分析了利用温度变化测量硝酸铵溶液析晶点的原理,设计了相应的测量实验装置,对硝酸铵溶液降温过程的温度变化进行了测量。结果表明:硝酸铵溶液降温过程中,在温度降低到析晶点前,溶液一直保持降温状态,当到达析晶点并析出硝酸铵晶体时,溶液温度在短时间内会有一个小幅度上升,升温幅度在0.3 ℃左右。硝酸铵溶液在有水浴的条件下比在空气中降温的测量结果更为准确。根据此原理设计的自动测量装置可以快速测量硝酸铵溶液的析晶点,能够满足炸药生产企业对硝酸铵溶液析晶点快速、准确测量的要求。  相似文献   

18.
本文介绍MM与美国HART公司的两种不同系统的锡凝固点装置比对的方法,以供使用与参考.  相似文献   

19.
介绍了目前露点温度传感器领域的研究现状,阐述了光学式、谐振式、电学式、热学式、重量式、化学式露点温度传感器的原理及构造,指出光学式露点温度传感器测量精度极高,其中冷镜式露点仪可作为湿度计量标准;谐振式露点温度传感器具有体积小、成本低、响应时间短、灵敏度高、可靠性好的特点;电学式露点温度传感器灵敏度高、功耗小,便于实现小型化、集成化;重量法是准确度最高的湿度绝对测量方法;化学法常用来测量低湿环境下的有机混合气体。探讨了露点温度传感器在环境监测、工业制造、医疗诊断等领域的应用情况,指出未来露点温度传感器将会向高精度、高稳定性、高响应的方向发展,且应用范围将进一步拓展,以满足极端环境下的测量需求。  相似文献   

20.
利用电感测微仪的高分辨率和红宝石工作台的高灵敏度,在对传感器进行非线性修正的基础上,提出了垂直于标准硅片表面方向的点对点测量方法,研制了标准硅片厚度测量装置.整套装置适用于直径不大于305 mm标准硅片的厚度校准,对不同的直径和厚度的标准硅片,测量不确定度达到0.2μm.通过对不同厚度的标准硅片进行测量和比对,验证了装置的测量不确定度,具有结构紧凑、操作简便、准确度高、可靠性好的特点,实现了标准硅片厚度的量值溯源.  相似文献   

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