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纳米微孔SiO2薄膜的Sol—Gel制备及气孔率控制 总被引:6,自引:1,他引:6
本文报道了纳米微孔SiO2薄膜的溶胶-凝胶(sol-gel)制备工艺,利用椭圆偏振光测试仪(Ellipsometer)直接测量了薄膜的厚度、折射率、从而得到了SiO2薄膜的气孔率及气孔大小分布。研究了合成工艺条件及浓H2SO4表面修饰对SiO2薄膜气孔率及稳定性的影响。 相似文献
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对近几年透明氧化物薄膜的制备进行了综述,重点介绍了溶胶-凝胶法、电沉积法、水热电化学法和喷雾热解法等方法的制备特点、性能评价以及透明氧化物薄膜的应用领域,并对今后透明氧化物薄膜的制备发展趋势进行了预测。 相似文献
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ZAO透明导电薄膜的制备及性质 总被引:1,自引:0,他引:1
ZAO(ZnO:Al)透明导电薄膜是一种具有高的载离子浓度和宽禁带的半导体氧化物,电学和光学性能优异。极具应用前景。本文介绍了ZAO薄膜的制备现状、特性、磁控溅射参数对其电学和光学性质的影响以及今后研究的方向。 相似文献
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有机改性硅溶胶及疏水膜的制备 总被引:1,自引:0,他引:1
以硅酸钠为原料,经水解制得了硅酸低聚体(PS),再以六甲基二硅氮烷(HMDS)与PS反应引入硅三甲基,制得了有机改性硅溶胶(PSH),并采用浸提法在玻璃上涂胶制备了疏水膜.本文采用FT-IR、1H-NMR和TG-DTA对硅溶胶进行了分析表征.研究结果表明:聚硅酸中羟基被硅三甲基取代,制得的PSH热稳定性较好,涂膜玻璃具有疏水性且疏水性随着HMDS投料量的增加而增强. 相似文献
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本文通过磁控溅射锡镓合金靶(Ga/Sn=0.2)及热氧化的方法,成功地制备了p型透明导电的锡镓氧化物(TGO)薄膜.X射线衍射(XRD)测试结果表明,TGO薄膜保持SnO2的金红石结构.吸收谱测试表明TGO薄膜在可见光范围内透过率可达到85%以上,其光学禁带宽度Eg约3.8 eV.霍尔效应测试结果表明,TGO薄膜的载流子类型及其浓度与热处理温度密切相关.热氧化温度过高或过低均不利于空穴浓度.当热氧化温度处于(600~700) ℃之间时,可以获得p型透明导电的TGO薄膜,最高空穴浓度高达8.84×1018 cm-3. 相似文献
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P. J. Sebastian 《Materials and Manufacturing Processes》1995,10(4):795-805
The formation of photoconducting ZnO and transparent conducting CdO films by high temperature oxidation and thermal decomposition of chemically deposited ZnS and Cd(OH)2 precursor films respectively is reported. The ZnS to ZnO and Cd(OH)2 to CdO conversions were confirmed by x-ray diffraction (XRD)2 electrical and optoelectronic studies. As deposited ZnS and Cd(OH)2 films exhibited very low dark conductivity and no photoconductivity. Air oxidation of ZnS films at about 400°C for at least 15 minutes converted them to ZnO films with higher dark and photoconductivity. Cd(OH)2 to CdO conversion occurred at about 300°C. CdO films exhibited a dark conductivity of the order of 103 (Ωcm)-1 and an optical transmittance in the range of 90%. These characteristics of ZnO and CdO films make them suitable candidates for the development of low cost photoconductors and solar cell structures. 相似文献
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