计算机在集成电路测试仪器中的应用

介绍使用计算机的集成电路测试仪的构成和工作原理。简述该仪器的技术特点和微型计算机在集成电路测试仪器中的应用。     

集成电路测试技术的新进展

近年来,半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步,其标志是跨入了毫微技术领域,其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点,这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪,它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪,还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力,包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是：IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFY测试、并发测试和开放式体系结构ATE。     

集成电路动态参数测试技术

数字集成电路动态参数的测试是集成电路的生产厂家和广大用户共同关心的问题。国外已有完全自动化的测试仪器,但价格高昂且难以购置。国内虽有厂家研制,也由于造价太高及功能的局限性,尚未大量投产。本文提出一种新的测试技术,可能使研制中的仪器具有性能优异、结构简单、造价较低的优点。对于中小规模的CMOS、TTL、ECL电路的动态参数测试,可以做成小型台式的自动测试仪。动态参数,也称交流参数。对于中小规模的数字集成电路,主要包括传输延迟时间     

超大规模集成电路的并行测试技术

本文介绍先进的VLSI并行测试技术的原理和实现方法,并行测试可显著提高ATE的测试效率。     

电子钟表集成电路测试技术探讨

一、前言电子钟表集成电路是一种CMOS低电压中大规模集成电路,芯片内含有数百至数千个MOS场效应晶体管,它是电子钟表的心脏。为了保证电子钟表走时准确性和使用寿命,必须对钟表电路各项技术参数进行一系列严格的测试,诸如电流、电压、频率、输出阻抗、脉宽、功能、笔划、符号等十多个参数的测试。但是,以往国内所使用的常规测试仪器,无论在精度和功能方面,都存在一定的问题。有必     

大规模数字集成电路测试技术研究

本文首先分析了大规模数字集成电路测试的特点,接着对几种常用的大规模数字集成电路测试技术作了评述,最后介绍了我们新研制成功的一种微处理器测试技术,着重从原理上对所采用的测试图形产生方法和实现技术进行了描述。     

浅谈EXCEL在计量测试中的应用

本文重点介绍了本人在计量测试工作中，应用EXCEL的功能软件，对计量测试的数据处理、整理、编制报告等的应用，感到比较方便快捷，更能与设计、工艺、加工者、调修设备者沟通。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的＂第74届中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会＂在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中引电子器材总公司联合主办的“第74属中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会”在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的“第74届中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会”在上海新国际博览中心隆重召开。     

电子信息技术与计量测试技术

本文评述电子信息技术主要方面的最新发展,指出电子信息技术的发展促进着仪器智能化、推动着计量测试自动化。个人计算机的出现为发展第三代ATE 提供了便利条件。并提出电子信息技术和计量测试技术是相互依赖、相互促进、相互影响和相互渗透的关系。     

虚拟仪器在导弹测试设备计量中的应用

本文从实际出发,介绍了一套基于虚拟仪器设计思想的导弹专用测试设备计量检定系统,分析了系统中测量仪器的选配原则,重点讨论了测试系统的硬软件实现方法。实际应用证明这套计量检定系统具有很强的灵活性和可扩展性。     

PXI总线技术在鱼雷测试设备自动计量系统中的应用

从实际出发,介绍了一套基于PXI总线的鱼雷专用测试设备自动计量检定系统,重点讨论了测试系统软硬件实现方法。实际应用证明这套计量检定系统具有很强的灵活性和可扩展性。     

PXI总线技术在鲁雷测试设备自动计量系统中的应用

从实际出,发介绍了一套基于PXI总线的鱼雷专用测试设备自动计量检定系统，重点讨论了测试系统软硬件实现方法。实际应用证明这套计量检定系统具有很强的灵活性和可扩展性。     

集成电路测试仪器述评

随着我国集成电路工业的迅速发展,集成电路的应用日益广泛。集成电路的测试问题也日益增多。为了解决这些问题,我国各部门的集成电路测试人员研制了各种各样的集成电路测试仪器,取得了很多成果。一九八○年举行了我国首届半导体集成电路测试学术交流会,交流了我国多年来发展集成电路测试技术和研制集成电路测试仪器的经验,涉及各种集成度的数字电路特别是中规模逻辑电路、大规模集     

集成电路测试理论综述

序言微电子技术是计算机技术发展的基础。集成电路的测试是微电子技术的重要组成部分,主要用于三方面: 1.设计验证。设计一个复杂的电路固然困难,验证你的设计是否正确无误也是很困难的。制造样机,作试验的办法,既费钱,又费时,对大规模集成电路的设计,用这种办法是不可想像的。用计算机模拟的办法,虽然现在还在用,但常被认为不是最有效的。如果不做设计验证就投产,一旦设计有错误,就会造成极大的浪费。 2.产品检验。生产集成电路的厂家必须     

2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知

国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件,极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目,要求紧密结合经济社会发展的重大需求,培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位,我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长,其在电子信息产业中的处于核心地位,对国民经济和社会发展发挥了重要作用。但是在我国目前集成电路产业格局中,测试是相对薄弱环节,国产集成电路设备市场占有率很低,研发严重滞后,与国外水平差距越来越大,已严重影响我国集成电路产业的发展。     

2009集成电路测试技术研讨峰会征文通知

国家中长期发展的规划纲要确定了核心电子器件、高端通用芯片及基础软件,极大规模集成电路制造技术及成套工艺等重大项目,要求紧密结合经济社会发展的重大需求,培育能形成具有核心自主知识产权、对企业自主创新能力的提高具有重大推动作用的战略性产业。受益于国内巨大的消费市场和中国制造业大国的地位,我国集成电路产业已经连续多年保持高速增长,其在电子信息产业中的处于核心地位,对国民经济和社会发展发挥了重要作用。但是在我国目前集成电路产业格局中,测试是相对薄弱环节,国产集成电路设备市场占有率很低,研发严重滞后,与国外水平差距越来越大,已严重影响我国集成电路产业的发展。     

数字集成电路测试设备量值溯源技术研究

为满足集成电路量值的溯源需要,结合数字集成电路测试设备的特点,研制了可用于数字集成电路测试设备现场溯源的交直流传递标准器和相应的数据处理软件包.较好地解决了集成电路测试设备测量量值的溯源问题.并根据MAP原理,在多台不同型号的设备上进行了比对实验,对实验结果进行了统计分析,取得了预期的成果.