信息与动态

2003年第十届全国可靠性物理学术讨论会定于2003年9月21～25日在青海省西宁市西宁大厦召开,特向广大电子产品可靠性物理工作者征集学术论文。征文内容:1)可靠性物理研究分析的方法、技术与手段;2)元器件及材料在各种应力或非应力条件下的失效模式及机理的研究分析与对策;3)DPA技术与方法;4)电子产品静电损伤、辐射损伤与对策;5)FMECA、FTA技术;6)软件评价技术;7)筛选及老练方法与技术;8)可靠快速评价与方法等。 今后,中国电子学会可靠性分会举办的一切学术会议,将得到《电子产品可靠性与环境试验》杂     

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会征文及会议通知

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会定于2011年11月1~5日在苏州市福马大酒店召开,特向全国广大可靠性物理工作者征集学术论文。     

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会征文通知

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会定于2009年10月19～22日在江西省玉山县贵源宾馆召开．特向全国广大电子产品可靠性物理工作者征集学术论文。征文内容：     

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会通知

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会定于2009年10月19—22日在江西省玉山市桂源宾馆召开．特向全国广大电子产品可靠性物理工作者征集学术论文。征文内容：     

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会征文通知

2009年第十三届全国可靠性物理学术讨论会定于2009年10月19-22日在江西省玉山县贵源宾馆召开．特向全国广大电子产品可靠性物理工作者征集学术论文。征文内容：     

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会征文及会议通知

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会定于2011年11月1～5日在苏州市福马大酒店召开,特向全国广大可靠性物理工作者征集学术论文。征文内容如下:1)可靠性物理研究分析的方法、技术与手段及仪器、设备,故障诊断技术,DPA技术;2)各类应用材料、元器件、零部件在各种应力或非应力条件下的失效模式、机理及对策;     

可靠性工程与环境工程

Y2002-63138 02124552001年 IEEE 国际可靠性物理会议录=2001 IEEE in-ternational reliability physics symposium proceedings[会,英]/IEEE Electron Devices Society and the IEEE Relia-bility Society.—2001.—464P.(E)本会议录收集了于2001年4月30日～5月3日在佛罗里达州 Orlando 召开的可靠性物理会议上发表的66篇论文,内容涉及半导体产品可靠性,微电子机     

第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会通知

第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会定于2003年10月21～24日在四川省乐山市就日峰宾馆举行。会议就“寿命与可靠性试验方法     

可靠性工程与环境工程

01182501998年 IEEE 国际可靠性物理年会论文集论文摘要(3)[刊]//电子产品可靠性与环境试验.—2001,(4).—44～48,封底(E)     

IC新品专讯

业内对芯片可靠性的关注上升 Hans stork在国际可靠性物理论坛上发表主题演讲时表示,当他1982年在IBM公司开始其工程师生涯时,业内对可靠性的担心“还微不足道”,离开发新工艺技术的实际行为远不可及。     

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会会议通知

2011年第十四届全国可靠性物理学术讨论会定于2011年11月1~5日在苏州市福马大酒店召开。本次会议召开的同时,还将合并召开中国电子学会可靠性分会第十六届会员大会和第七届委员会成立大会。     

紧急通知

原定2003年5月21～24日在四川省乐山市就日峰宾馆召开的《第四届电子产品可靠性与环境试验技术交流会》因“非典”推迟到2003年10月21～24日。希望有关与会人士相互转告。论文集     

中国赛宝实验室（信息产业部电子第五研究所）可靠性研究分析中心

中国赛宝实验室（CEPREI，信息产业部电子第五研究所）始创于1955年，是中国最早进行电子产品质量与可靠性研究的权威机构。可靠性研究分析中心（RAC）是中国赛宝实验室的核心技术部门，是一个按国际标准ISO17025管理和运行的国家级重点实验室，也是目前国内最具实力的电子产品可靠性物理研究与质量保证技术应用开发基地，拥有众多先进的精密仪器设备，以及七十余位长期从事可靠性研究与质量分析的研究人员。赛宝可靠性研究分析中心经过多年的发展和建设，在可靠性物理分析技术、电子封装可靠性技术、电子产品组装工艺可靠性技术、电子组装辅料质量可靠性检测、研究和分析领域具有很强的技术能力，是目前国内最先进、综合技术能力最强的失效分析与电子制造技术支持实验室。     

可靠性工程与环境工程

02078881999年 IEEE 国际可靠性物理年会论文集论文摘要(1)[刊]//电子产品可靠性与环境试验.—2001,(6).—46～49(E)用于大气环境监测的 YAG 激光雷达技术的现状与动向(见0208917)     

可靠性工程与环境工程

01146701998年 IEEE 国际可靠性物理年会论文集论文摘要(1)[刊]//电子产品可靠性与环境试验.—2001,(2).—45-48(E)光缆线路障碍的查找与处理(见0115314)手机故障全攻略(见0115149)     

中国电子学会可靠性分会通知

1 第二届电子信息系统质量与可靠性学术讨论会 2005年5月21-25日在山西平遥县城南关大 街8号昌桐宾馆召开。2005年5月21日报到,平 遥火车站乘1路公共汽车在大南门站下车。征文截 止时间2005年4月1日。 2 第十一届全国可靠性物理学术讨论会     

电子元器件可靠性物理及其应用技术的发展趋势与对策

1 可靠性物理及其应用技术研究是提高元器件可靠性的关键电子元器件是电子装备的重要基础.随着现代电子仪器设备的电子化程度越来越高,系统越来越复杂,电子元器件的可靠性问题也显得越来越突出,成为影响整机性能和质量的重要因素。目前在各个专业技术上,可靠性指标已被提到至少与性能指标同等重要的程度.提高电子元器件可靠性根本途径是研究掌握先进的失效分析技术与方法,深入研究有关的失效模式、失效机理和可靠性评价与预测技术,在设计、工艺、原材料以及安装使用方面采取相应的对策措施.这也就是可靠性物理特定的研究领域.通过可靠性物理研究可以从根本上找到提高电子元器件固有     

电子元器件可靠性增长的分析技术

从元器件可靠性物理分析技术角度,系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、密封器件内部气氛分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术。将元器件质量与可靠性分析技术融入元器件产品设计、制造过程是实现元器件可靠性增长的必然趋势。     

电场成像器件MC33794与应用

电场成像器件MC33794是Freescale Semiconductor公司2003年推出的产品,可广泛应用于非接触式物理检测和测量.各种应用举例如下:     

国家保密局通过技术鉴定(验收)、检测的产品

起止2003年5月至2003年一牙月序号 产品名称网络安全隔离与信息交换系统S晚Door vl.o汉邦安全审计系统HBAudit vZ、0证书编号(2003)05 无证书3}华堂网络安全防御系统V4.O一百兆防火墙LSSTEC20O3YTOO34东方物理隔离卡DF一NsI0o速通防火墙vl‘o北信源违规联网安全监控系统V3o红旗防火墙vl刀安全隔离一与信息交换系统W七bST3.O信息安全平台安达物理隔离卡Plc一I文件保护工具(文件防弹衣)vl .0龙马一卫L防火墙vZ .1“黑盾”网络入侵检测系统V王1联想网御515一100。物理隔离卡‘。S‘一2000线路选择器一SAWO05神威千兆防火墙SWF…