基于探测概率曲线的探测灵敏度测试方法

相对于传统直接测试探测灵敏度的方法,提出了基于探测概率曲线的探测灵敏度测试方法,详细阐述了测试方法和步骤以及数据处理方法.按照上述方法,对某高性能激光探测接收机的探测灵敏度进行了测试,测试过程及结果表明,该方法在操作的简便性和测试结果的准确度上均优于传统测试方法.     

Ⅰ—Ⅴ变换器在光电探测器件测试中的应用

一、引言目前对光电探测器件的光谱响应范围,响应度、量子效率、噪声电流、暗电流等参数的测试中,都遇到如何正确测试其器件“短路”电流的问题。不论是PIN二极管,还是APD二极管,本质上是一个电流源。为使器件产生的信号电流与入射光通量之间保持良好线性关系,其器件必须在低的阻抗线路中工作,最好是采用Ⅰ—Ⅴ变换器的方法。本文仅以Si—RAPD的响应度、响应范围为     

一种快速开短路测试算法

文章设计了一种快速开短路测试算法,利用短路群概念。对于N个引脚的连接器,只用N-1个量测步骤即能完成所有引脚两两之间的开短路测试。而通过传统的测试算法,两两引脚之间测试开短路,N个引脚至少需要N(N-1)/2个量测步骤。且随着连接器引脚数的增加,采用新算法节约的测试时间会呈几何级数增加。     

p-n结光伏探测器的工作体制

在p-n结光伏探测器的I-V曲线上选取与电压、电流轴的交点作为工作点,分析讨论输出短路或开路时的信号和噪声,继而得到探测率,进行比较得出最佳工作体制.     

全向多粒度的激光探测分辨力测试与评估方法

为了准确地测试和评估激光探测设备角度分辨力和探测范围指标,在研究分析常见测试评估方法的基础上,提出了一种全向多粒度的激光探测角度分辨力测试与评估方法,提出了跳区、有效探测范围比例等新概念。利用这一方法对某激光探测设备进行了角度分辨力和探测范围测试,并根据实验结果探讨了基于跳区的激光探测角度分辨力和探测范围指标评估方法。实验结果表明,该测试与评估方法能够更加方便地测试、更加准确地表征和评估激光探测设备的分辨性能,可为激光探测接收设备总体论证、设计生产和测试评估提供有益的技术参考。     

0.1～325GHz频段InP DHBT器件在片测试结构建模

给出了InP DHBT器件在片测试用到的开路和短路结构的等效电路模型.模型拓扑结构基于物理结构建立,并对其在亚毫米波段的高频寄生进行相对完整的考虑.模型的容性和阻性寄生采用解析提取技术,从开路结构低频测试数据中获取.模型的高频趋肤效应采用传统物理公式计算初值,并结合短路测试结构的低频解析提取结果对计算公式进行修正,使其适用于实际测试结构建模.模型拓扑结构和参数提取方法,采用0. 5μm InP DHBT工艺上设计所得开路、短路测试结构进行验证.模型仿真和测试所得S参数在0. 1～325 GHz频段内吻合地很好.     

元器件开短路测试应用

该文从开短路测试原理出发,使用A567测试台对二输入与非门54LS00的输入、输出管脚进行Open-Short测试,验证了此方法快速检测出被测器件是否存在引脚短路、断路、静电保护功能丧失等缺陷的可行性。     

改善FPGA互连阻性短路的测试能力

通过HSPICE模拟和理论分析研究了FPGA互连中的阻性短路缺陷行为.结果表明,阻性短路产生了时序故障,小电阻缺陷甚至产生了布尔故障.对于大电阻缺陷,当被测通路进行v-to-v转换,且引起短路故障的另一条通路保持v值时,最好检测方式发生.另外,使用静态分析可以很容易检测到小电阻缺陷.在最好检测方式下,评估了电源电压和温度对测试结果的影响.结果表明低电压有助于改善测试,短路材料有正温度系数时,低温测试较好,反之高温测试较好.     

变压器运行中的短路故障定位与原因分析

阐述变压器短路类型，变压器运行中短路损坏的问题与原因、应对的措施，包括控制变压器原材料、变压器制造技术、短路试验、继电保护系统、绕组变形测试。     

专用型测试夹具的制作

1 前言 所有量产PCB发货前都必须作电性能的开路和短路测试,通断测试是制作PCB程的一个十分重要环节。 在测试设备类型上,分为通用型、专用型、飞针型三种形式。专用型测试机不算最先进的形式,但设备价