产品可靠性的重新下降？

不久前，我们的行业遇到了元件可靠性问题，大批量产品用户发现美国公司的存储器IC的故障率比日本同类产品高。通过努力，现在各类IC都很可靠，硬IC故障也很少。我们的其它元件．比如无源元件、印线电路板等，情况也大多是如此。     

应用陶瓷印刷电路板的时代已经到来

<正> 一、引言表面安装技术(SMT)近年来对高可靠军用封装和互联具有很深远的影响。自70年代末期到现在,无引线芯片载体(LCC)一直被广泛认为是可靠性最高、性能最佳的一种封装。遗憾的是,封装的可靠性问题曾一度从LCC本身转移到板的互联。在热循环过程中,VLCC和常用的印制电路板材料之间的热膨胀系数(TCE)的失配将会导致焊接的失效。目前,我们认为采用陶瓷印刷电路板是解     

提高有线数字电视网的可靠性

1有线数字电视网的可靠性比较有线数字电视网与电信网、移动通信网相比,是故障率较高、可靠性较低、维修维护工作量较大的网,现在的有线数字电视网基本上是HFC（光纤同轴电缆混合网）,随着有线数字电视网发展数据业务以及电信网发展IPTV,相互的竞争会越来越激烈,用户对可靠性的要求也越来越高,在这种形势下提高有线数字电视网的可靠性以增强竞争力是很有必要的。     

低功耗ASIC设计技术

当前，ASIC设计的门数越来越多，芯片主频越来越高，导致ASIC的功耗越来越大。从而引起了一系列的问题，如封装、散热、成本和可靠性。由于芯片的功耗正比于芯片工作电压的平方，所以选用低电压工艺是一个很有效的解决途径。而我们现在讨论是在给定工艺条件下如何设计一     

电子设备的可靠性研究

随着电子技术的发展,电子设备已与我们的生活密不可分。而电子设备的质量好坏在一定程度上也直接影响着我们的生活水平质量。电子设备的可靠性是电子产品的一个重要指标,可靠性的提升是电子设备更稳定运行的保障。本文对电子设备可靠性进行研究,以指导电子设备的可靠性设计。     

中国电信信息安全

大家上午好，利用今天这个会议的机会跟大家交流一下，我们对网络安全，特别是我们认为网络的安全可靠是提供业务的基本保证。现在整个互联网的业务在飞速的发展，像资讯、搜索类的，新浪、百度、Google、还有在线交流类的，商务类和娱乐类的，互联网的发展也需要一个更可靠网络安全的基础设施。我的发言第一部分说一下网络技术演进的发展，还有安全可靠性的考虑。     

地铁综合监控系统可靠性分析方法研究

地铁的安全运行关系到地铁乘客的安全问题,因此对于地铁各项设施的监控工作就显得尤为重要,现在人们依靠先进的网络把地铁方面传统冗杂的各个系统全部集中到了一起进行管理,统称为地铁综合监控系统,而这个复杂且庞大的系统的稳定可靠关系到地铁的平稳运行,经常对地铁综合系统进行可靠性分析显得很重要。地铁综合监控系统过于庞杂,对系统的可靠性分析难度较大。而下文我们就据此对地铁综合监控系统可靠性的分析的方法进行详细的分析,研究出对系统可靠性分析的合适方法。     

良好的桥梁

编辑部:我们是《可靠性与环境试验》刊物多年的热心读者。长期以来,该科技杂志以求实、严谨的科学态度,一直坚持为科研服务,为科技人员服务,为厂家与用户服务,努力促进电子产品质量与可靠性提高的办刊方向,使贵刊成为了我国电子产品可靠性试验研究领域具有一定先进性、实用性、学术性和权威性的科技刊物,深受广大科技工作者的欢迎与喜爱.我们也是从事可靠性工作的科技人员,因多年订阅贵刊,从中受益匪浅.贵刊使我们能及时了解、掌握国内外可靠性领域的发展动态和研究方向,在可靠性设计与工艺、可靠性物理与失效分析、可靠性与质量管理、可靠性与环境试验等多方向得到很好的学习,还为国内同行工作之间的相互学习、交流起到了良好的桥梁作用。     

九、同轴传输系统的可靠性

随着同轴电缆传输系统通话路数的急剧加多,对可靠性提出了更严格的要求。根据过去工艺上的经验和进展,应该定出一些现实的和必要的可靠性指标。在扩建新系统的初期,尤其需要对可靠性工程做定量研究。因此,现在感到迫切需要考虑可靠性的基本理论问题。     

VPN技术在现代通信领域的应用分析

VPN技术是现在社会的最佳选择,有较强的安全性和可靠性,本文对VPN技术进行阐述,分析VPN技术在现代通信领域的应用。     

一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间（FT50）评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

Competing causes of failure and reliability tests for Weibull lifetimes under type I progressive censoring

For many high reliability products where very few items are expected to fail during the test period, testing under normal conditions is not feasible. Further, the requirement for high reliability increases the need for test procedures which yield valuable degradation and other useful information for improving product reliability. Thus in some manufacturing and other experiments, various types of failure censored and accelerated life tests are commonly employed for life testing. In this paper we discuss Type I progressively censored variable-sampling plans for Weibull lifetime distributions under competing causes of failure. The proposed procedure is attractive as it yields useful degradation-related information for improving product quality. In addition, the procedure is useful when a test is conducted under severe time constraint and/or when the experimenter wishes to save costly specimens or scarce test facilities for other use.     

HALT 测试综述

HALT(highly accelerated life testing)测试,主要应用于产品研发设计阶段,对于暴露产品的潜在缺陷效果明显,是设计工程师提高产品可靠性的重要实验手段.目前该实验方法已被国内外电子业界充分认可并逐渐推广使用.本文介绍了HALT测试对提高产品可靠性的重要性,阐释了与HALT实验相关的一些术语和定义,并就如何进行HALT实验进行了较详细的论述,内容涉及实验前的准备工作、实验参数的规格指标、实验设备的能力要求以及实验步骤和实验细节等.文章还对HALT实验后关于测试报告和后续整改及验证的要求进行了概括.     

Model-based reliability analysis

Testing has typically been a key means of detecting anomalous performance and of providing a foundation for estimating reliability for weapon systems. The objective of model-based reliability analysis (MBRA) is to identify ways to capitalize on the insights gained from physical-response modeling both to supplement the information obtained from testing and to better-understand test results. Five general MBRA processes are identified which can capitalize on physical response modeling results to make both quantitative and qualitative statements about product reliability. A case study that explores 1 of these 5 processes was completed and is described in detail. It had the benefits: MBRA can be used to determine a performance baseline against which current and future test results can be compared; during the design process, MBRA can provide tradeoff studies such that development time and required test assets can be reduced; MBRA can be used to evaluate the impact of production and part changes, as well as aging degradation, if they arise during the product life cycle; and MBRA lays the foundation to evaluate anomalies that are observed in a test program. Typically it has been challenging to determine how anomalous behavior can manifest itself under different-but still valid-conditions. One can use modeling to inject hypothesized behaviors under different conditions and observe the consequences     

收放式光电复合缆的研制与可靠性试验

从产品结构、材料选用、工艺参数等方面简述了收放式光电复合缆的可靠性设计,分析了工艺设计对产品性能的影响。列举了一些可行的疲劳试验方法,提出通过模拟使用工况的试验装置来验证产品可靠性的试验设想,以便作出可靠性评估,从而提高产品可靠性和使用寿命。     

LED组件寿命评估方法的研究

由于LED技术的飞速发展,其应用产品不断扩大到人们生活的各个方面,因此LED产品的可靠性问题也日益受到人们的关注。在可靠性工程常用的寿命分布中,指数分布是应用广泛的一种分布,进入偶然失效期以后都可以认为产品失效分布是指数分布。LED产品的寿命试验有定时截尾和定数截尾2种方式,由于定数结尾需要较长的试验时间,因此采用定时截尾的试验方法来获取试验数据。给出了LED组件的寿命评估方法,该方法对LED模块和应用产品同样适用。     

Thermally accelerated aging of semiconductor components

The rising interest in the use of elevated temperatures to accelerate the life of semiconductor components warrants a review of the mathematical basis of the technique. Starting from the four reliability probability functions, the lognormal density function is featured showing how the temperature dependence of the associated cumulative failure function leads to a prediction of the component median life under service conditions through the construction of Arrhenius lines. Both steady and incrementally raised temperatures can be employed to gather test data, the latter-the "step-stress" method-involving a correction procedure. The analysis is illustrated by its application to test results from bipolar and MOS transistors.     

软件产品保证--系统策划与分阶段任务

软件产品保证是产品保证的重要组成部分，较详细地阐明了软件产品保证的策划过程，系统地归纳了软件研制各阶段的软件产品保证活动，对软件开发人员和质量管理人员有一定的指导作用。     

Reliability growth from the customer perspective[telecommunications]

Reliability growth is considered from the customer/user perspective. It is emphasized that the reliability that the first customer observed with the first customer shipping can be quite different from the reliability that a customer will observe with a unit or system produced five years later. A basis for controlling reliability growth and the elapsed time of growth for the various product life cycles is provided. It allows product management to adjust for breakthroughs or setbacks per phase to assure on-time delivery of products with selected reliability levels