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相似文献
 共查询到13条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
基于PCI总线的RS422并行数据接口   总被引:4,自引:0,他引:4  
介绍一个基于PCI总线的RS422并行数据接口。改接口用于高速获取具有14位并行RS422接口设备输出的数据,叙述了PCI总线数据获取的方法、芯片的性能和应用及软硬件设计思想。  相似文献   

2.
介绍了FPGA与PCI总线在氡室检测系统中的应用优势、总体设计原理。并对PCI总线在氡室检测系统中的具体硬件系统结构、控制芯片与驱动软件设计,与PCI总线对核谱转换的传输性能作了阐述。  相似文献   

3.
基于WinDriver工具的PCI卡驱动程序开发   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了WinDriver驱动程序开发包的特点、工作原理以及利用该工具开发驱动程序的方法和步骤.以X-Scan线阵X射线探测器帧捕获卡驱动程序编写为例,介绍了基于VC 6.0环境,使用WinDriver开发Windows设备驱动程序的一种简捷而高效的方法.  相似文献   

4.
基于PCI总线直接MASTER模式的高速数据采集   总被引:3,自引:0,他引:3  
介绍在PCI总线上直接进行MASTER模式高速数据采集的设计和应用。  相似文献   

5.
介绍了新近研制开发的一种实用计数卡,该计数卡基于PCI总线,采用单片机8051AH、计数器芯片LS7031等器件构建;最大计数范围为109-1,最大计数时间1×106s,最高的计数频率为20MHz。  相似文献   

6.
以基于PCI9054的CCD数据采集系统为例,介绍了WDM驱动程序的基本结构,分析了利用DDK开发的WDM驱动程序的主要例程,完成了PCI设备的中断响应和DMA传输功能.  相似文献   

7.
为满足Υ射线工业CT的高速多通道数据采集要求,设计了针对性的高速数据采集系统实现数据的采集和处理.Υ射线转换为放大的电流信号后,经信号处理电路进行放大、甄别、分频处理,然后信号经FPGA计数单元整理后传送到主控FPGA.主控FPGA作为控制核心,对配置为Slave FIFO工作模式的USB2.0内部的FIF0进行控制,...  相似文献   

8.
提出了基于现代数字信号处理器(DSP)技术进行CT重建软件设计.在实际的CT软件设计过程中,利用TI的C6701 DSP芯片的硬件处理系统,建立了基于DSP硬件系统的CT算法重建软件,该软件全部使用与DSP硬件系统相关的DSP汇编语言进行编程.并利用TI的C6701 EVM开发板,通过输入CT数据进行计算,得出的CT图像满足实际要求.  相似文献   

9.
对于工业螺旋CT的应用,针对其实时性、数据量大的特点,提出了数据采集系统的设计和实现方法.采用双CPU的系统的设计,一块负责用DMA的方式把CT数据从前置放大器传送到FIFO,另一块负责将FIFO中的数据通过无线网络传送到主控站进行进一步处理.该设计已在现有工业CT中得到应用.  相似文献   

10.
介绍了在VxWorks实时操作系统下设计的PCI显示卡S3 ViRGE/DX的驱动器软件包。重点介绍了S3 ViRGE/DX寄存器组、软件结构、PCI接口的应用、硬件图形加速和显卡时钟。该软件包兼容通用图像库。  相似文献   

11.
基于PCI Express工业CT数据传输卡的设计与实现   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了工业CT数据传输系统中的基于PCI Express(以下简称PCIE)总线的数据传输卡的设计和实现.工业CT数据传输系统以普通的基于PCIE总线架构的PC为开发平台,系统能实现的关键技术之一是实时地接收海量底层数据.PCIE数据传输卡实现将工业CT底层数据实时地传送到PC的内存共享缓冲区中,数据传输采用中断方式.采用xilinx公司的spartan-3系列FPGA来实现总线的逻辑接口控制,采用FIFO结构的数据缓存器做为数据缓冲区,PCIE数据传输卡工作转台稳定,读写速度可达到256MB/s,保证了数据传输的连续性和完整性.  相似文献   

12.
基于GTL技术的高速背板总线设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一个高速背板总线的设计尝试。采用新型的GTL总线收发器、时钟相位调节和组合式匹配等技术措施,解决了总线设计的驱动、时序和信号完整性问题,实现了100Mbd/s的同步数据传输。  相似文献   

13.
工业CT是一种有效的工件缺陷识别的方法,代表着无损检测技术的发展方向.首先概述工业CT技术在工件缺陷识别中的应用,并把其他和其他常用方法进行了简单比较;接着从工件缺陷识别的流程入手,对每个步骤都从处理思路和处理方法方面作了阐述;然后对一些在工件缺陷识别方面很有潜力的算法(Level set和Gabor小波)进行了介绍和分析;最后对工业CT在工件缺陷识别方面的应用前景进行了展望.  相似文献   

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