CMOS数字IC管脚电容的估算与测量

针对CMOS数字IC管脚电容的测试问题,从标准规定、规范规定的角度进行了分析;利用最小阻抗通路法对管脚电容在各种偏置情况下的量值进行了估算;并结合LCR测量仪的测试原理,解释了与CMOS数字IC端电容测试相关的疑问,得出了电容只需简单测试即可的结论.     

SMD-IC的高速高精度图像识别算法及其实现

针对电子制造业中的高速高精度贴片机的计算机视觉定位与检测问题，研究了表面组装半导体器件SMD-IC的图像识别问题。首先分析和提出了贴片机生产过程中片式IC的识别任务，然后提出了识别算法的框架，并详细分析了IC管脚分割与定位、边界分割定位边界点、管脚测量等算法实现的重点与难点，同时提出了相应的实现算法。所提出的有关算法已经在生产过程中得到成功应用。     

SMD-IC的高速高精度图像识别算法及其实现

针对电子制造业中的高速高精度贴片机的计算机视觉定位与检测问题,研究了表面组装半导体器件SMD-IC的图像识别问题.首先分析和提出了贴片机生产过程中片式IC的识别任务,然后提出了识别算法的框架,并详细分析了IC管脚分割与定位、边界分割定位边界点、管脚测量等算法实现的重点与难点,同时提出了相应的实现算法.所提出的有关算法已经在生产过程中得到成功应用.     

CMOS集成电路使用注意事项

数字集成电路可分为TTL和MOS电路(目前以CMOS为主)。TTL以高速度见长,MOS电路则以低功耗著称。高速CMOS是CMOS的第二代产品,同时有低功耗的特点,因此得到了广泛应用。本文介绍CMOS集成电路在使用过程中的几点注意事项。一、使用之前认真阅读产品说明书或有关资料,了解管脚分布情况及其极限参数。     

晶体三极管的测试与识别

三极管在使用时必须经过检测。三极管的测试,当然最好使用晶体管图示仪,但在业余情况下,常使用万用表来简单估测三极管。本文介绍业余条件下判别三极管的极性和性能的方法。一、三极管管脚极性的识别与判断1.根据管脚排列识别目前,三极管的种类很多,封装形式不一,管脚排列也有多种     

技术在线

Guoquan提问TTL:多余管脚接高电平时,应该通过上拉电阻与V_(cc)相连;多余管脚接低电平时,直接与地相连。CMOS:多余管脚接高电平时,应该直接与电源V_(cc)相连;多余管脚接低电平时,直接与地相连。这些话怎么理解阿,既然是多余管脚,怎么还会接高电平或者低电平阿?求解!     

NCV7341：高速CAN收发器IC

安森美日前推出新款高速CAN收发器IC NCV7341，用于IVN应用，新款IC进一步扩展了安森美IVN产品范围。NCV7341 CAN收发器具有超低功耗，经过验证符合GIFT CAN收发器规范的要求，并与第三方器件管脚兼容。这使设计人员可以在新IVN应用中使用该器件，并在现有应用中向终端客户直接替代。     

建立一个简单的互补式脉冲发生器

当建立推挽开关电源转换器或电机控制器时，经常需要交错式脉冲，它们之间有少量的死区时间，以尽可能减小输出开关器件的同时导通。开关控制器IC拥有这种特性，但它们一般采用闭环工作．以减少IC管脚数。在对开关输出级作优化时．可能需要开环控制。图1表示出如何只用两只常见IC来建立这样一个发生器。额外的好处在于．可以同时使用重叠的P沟道驱动和非重叠的N沟道驱动。     

使ESD保护匹配工艺尺寸进步

先进的CMOS工艺技术使IC设计人员能够提供更高性能的器件,但也增加了额外电路板级静电放电(ESD)保护以确保终端产品可靠性的需求。IC工艺技术趋势先进的CMOS技术使半导体供应商能够生产特征尺寸日趋减小的集成电路(IC)。减小IC特征尺寸的优势不计其数。特征尺寸越小,使电路可以占用更小的面积,IC能够以更小的硅     

带16位A/D转换和LED驱动的单片机——SN8P1907

SN8P1907是一个8位单片机,利用CMOS技术制造,拥有独特的电气结构和低电源消耗的高性能,它由松翰科技电子公司生产,管脚排列如图1所示,管脚功能如附表所列。下面对其主要特性和一般应用作一些介绍。特 性存储器结构 OTP ROM大小为2K×16位;RAM大小为128×8位;8级堆栈缓冲区;L     

静态功耗电流测量在CMOS IC缺陷检测中的应用

静态功耗电流(I_(DDQ))测量是一种检测CMOS集成电路(IC)缺陷的非常有效的方法。这种方法能独到地检测出CMOS IC中的一些缺陷,如栅氧短路、PN结缺陷、寄生晶体管漏电。此外,监控I_(DDQ)可以检测到所有固定型故障,其优点是所用的节点翻转测试集,它的测试向量比固定型测试集的测试向量少。研究了从三个不同硅片生产地来的各个CMOS IC,对于给定的测试集,它们的I_(DDQ)状态增大的形态各不相同。当在传统功能测试集中增加I_(DDQ)测试时,微处理器、RAM和ROM等CMOS IC的失效增加了60～128％。     

适用于直流和射频器件表征和建模的平台软件

器件建模软件平台IC—CAP 2011．04将IC—CAP Wafer Professional自动测量解决方案与IC—CAP CMOS模型提取套件相结合,能够显著改善半导体器件的建模流程。先进的CMOS器件建模需要执行大量测量,以分析制程趋势,确定提取典型和边际器件模型所需的数据。     

接地故障保护器

但凡出现接地故障,不论负载电流如何,本电路便立即断开。设计负载电流为5安。对更大的负载电流,应增大电源插座和继电器触点的额定值,否则应单独使用一只有更高触点额定值的继电器(RL)。 只要出现了接地故障,光耦MCT2E(IC2)内的LED即发光,这样,IC2内的光敏晶体管导通,在IC1管脚②上     

瑞萨推出RNA51xxxFLP系列CMOS复位IC

瑞萨科技日前宣布推出了RNA51xxxFLP系列CMOS复位IC，通过使用CMOS工艺实现了高精度和很低的电流消耗，用作复位IC，该系列可以检测微型计算机的电源电压，并在检测到异常电压时执行复位操作。可以提供74个型号的产品，复位电压范围在1．4V～5．0V之间。     

MLX90316：无接触旋转定位解决方案

Melexis公司的MLX90316是一个CMOS霍尔传感器IC,能够给出与IC表面平行的磁场的角坐标,作为汽车和工业应用中经常需要使用的非接触性旋转位置传感器。MLX90316检测位于器件表面或在器件上方旋转的小型磁体（直径磁化）的绝对角坐标。     

无源射频识别标签IC内置OTP存储器

联笙电子（AMIC）针对使用射频识别标签IC（RFID Tag IC）市场推出高频（13．56MHz）无源射频识别标签IC：A9210-A及A9211-A高频IC,符合ISO／IEC15693及ISO／IEC14443A国际标准规范。两款器件采用0．25μm CMOS工艺制程,内置OTP存储器,可以卡片或标签贴纸等多种形式供货。接收信号是脉宽调制（PWM）脉编码的10％和100％幅度键控（ASK）调制信号,应答是曼彻斯特编码信号;允许多次读取一次写入信息,数据可保存10年,具有库存、读取、编程功能。芯片的OTP存储器允许被写一次,一旦信息被写入后可选择是否被锁定,防止信息被修改、删除。     

IC静电放电的测试

本文主要论述了静电放电(ESD)人体放电模式的测试过程,包括测试标准、IC管脚的测试组合、IC失效判别以及静电放电敏感度等级分类等。     

如何正确使用集成电路

一、使用前需进行了解在使用集成电路IC之前,应对所用IC的基本功能特点、主要参数、各引脚功能和典型应用电路作全面的了解,这样做可以消除使用中的盲目性,为正确使用打下良好的基础。对于集成度较高,内部电路结构复杂的IC,在初次使用时要着重了解其各引脚功能和主要参数,这样往往会事半功倍,如果在使用之后再来深究IC的内部电路结构和工作原理,就会比较容易了。二、正确识别引脚和空脚处置由于各类IC众多,封装形式繁杂,即使同类封装的IC引脚排序也不相同。因此在使用前需仔细识别引脚的排序,以防止接错或反向插入插座,致使电路     

数字锺表IC测试的系统

数字表的发展历史,首先是由美国的Hamiltan公司在1971年初期研制的。其结构是由32,768千赫的石英振子,采用CMOS IC的电子电路,以及采用LED(CaAsP)的4位显示器而组成的。日本对数字表的研制与出售比美国大约晚半年左右。日本业已出售的数字表其结构是由16,384千赫的石英振子,采用CMOS IC电子电路,以及使用DSM型液晶显示器等几部分组成的。目前,这种数字表正趋于商品化。从其结构构上看,一般来说是由32,768千赫的石英振子,采用CMOS IC,LED或液晶(LCD)等的显示器组成的。并指出今后的努力方向,即:如何降低其成本,提高CMOS IC的成品率,减少其检查工序等问题。     

ETS系列新一代集成电路测试系统

测试IC/PCB/MCM……测试数字电路,混合信号电路…… 25兆赫—100兆赫测试速率 100ps、50ps分辨率 32 I/O管脚——512 I/O管脚 64Mbyte/s超高速接口