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相似文献
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1.
马国田  梁昌洪 《微波学报》2000,16(6):122-125
本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数较少的媒质,在各分层厚度未知的情况下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。  相似文献   

2.
分层媒质复介电常数测量的一种方法   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
马国田  梁昌洪 《微波学报》2000,16(2):122-125
本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数校少的媒质,在各分层厚度未知的民政部下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。  相似文献   

3.
本文利用微扰原理和复数源点法,对电磁开腔测量单轴各向异性媒质复介电常数进行了理论研究,并且定量地分析了在测量中由于媒质的各向异性引起的双折射现象。最后利用一套八毫米电磁开腔自动测量系统对几种石英晶体样品进行了实际测量。  相似文献   

4.
本文利用微扰原理和复数源点法,对电磁开腔测量单轴各向异性媒质复介电常数进行了理论研究,并且定量地分析了在测量中由于媒质的各向异性引起的双折射现象。最后利用一套八毫米电磁开腔自动测量系统对几种石英晶体样品进行了实际测量。  相似文献   

5.
提出了一种在微波频域测量聚合物样品薄片复介电常数的方法,它利用自动测量线测试系统测量出电压驻波比和相角,然后采用级数各阶次展开方法,由反射系数推导出复介电常数.级数低阶次方法求解厚度较大的被测样品复介电常数时,为确保结果具有较高的精确度,要求测量频率不超过1.5GHz.为了克服这种测量频域的局限性,可采用级数高阶次展开方法来求解复介电常数.用级数展开方法测量聚苯乙烯、多乙酸乙烯酯和聚亚胺酯的复介电常数值,结果与真实值相近,可以和传输/反射法相媲美.  相似文献   

6.
0225652HFC双向系统的噪声测量(刊]/陈韬//电视技术.—2002,(7).—98~99(L)0225653微波电路基片复介电常数无损测量的简单方法[刊]/ 田步宁//西安电子科技大学学报.—2002,29(4).—543~546(K)提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法。该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联,得到了复介电常数无损测量的计算公式。理论分析与实验结果表明:与传统的“场”  相似文献   

7.
同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数   总被引:3,自引:0,他引:3  
吴明忠  姚熹  张良莹 《压电与声光》2001,23(1):63-67,84
提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术,该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质,通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数,测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质,而且可用测量样品量有限的液体。  相似文献   

8.
有耗分层媒质中电波传播特性研究—地层深度的探测   总被引:4,自引:1,他引:3  
通过对平面电磁波在分层媒质中反射特性的分析,我们发现多分层媒质具有频率吸收特性,即指在一些特定频率处反射系数为0(无耗媒质)或为最小,这些特定的频率此处叫做吸收频率;而且在吸收频率与媒质之间存在特定关系。由此我们提出可在频域通过检测吸收频率来估算媒质分层的深度。通过分析媒质损耗特性与反射系数在整个复频城内特性的关系,提出一种旨在抵消由于媒质损耗而致反射波的衰减的信号变换方法。本文中的分析方法可以应用于地层深层的探测。  相似文献   

9.
(〕端4 94时0837电磁开腔测最各向异性媒质介电常数/夏军,梁昌洪(西安电子科技大学)刀电子科学学刊.一飞994,16(2)-一1 73~]80 利用微扰原理和复数讲点法、对电磁开腔测全单轴各向异性媒质复介电常数进行了理论研究,并且定量地分析了在测量山山卜媒质的各内异性引起的折射砚象。图5表4参7(文)学、/j电子学报一199改、22(3卜一43~50 对直线法的误差进行了分类论述,讨i仑出了直线法的线数选取戚则。层后闲述了提高直线法精度的儿种途径图8参丁2(文、《又4 94040838开域电磁场问题的有限解法--,一第二类全域数值边界条件及其应用/樊德森,一I几…  相似文献   

10.
谐振腔体外微扰及应用研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
倪祖荣  吕文选 《微波学报》2000,16(3):305-309
本文分析圆柱TE011模端盖对称隙缝特性。在隙缝辐射较小的条件下,提出适于损耗小,厚度薄(1mm左右)的片状材料腔外微扰的近似计算方法,测得聚四氟乙烯、聚氯乙烯、纯陶瓷片等复介电常数与准确值相当吻合的结果。测得相同厚度的片状半导体材料电阻率(≥20Ω·cm),与1/QL有线性关系,与提出的近似方法所预期结果一致。理论分析和实验表明,应用圆柱TEo11模端盖对称隙缝可实现无接触、高精度、多功能测量片状材料的参数,且预期可用于二维测量。  相似文献   

11.
探地雷达是一种被广泛使用的无损检测技术。利用探地雷达对分层媒质进行全波反演时,构建精确的探地雷达正演模型具有十分重要的意义。该文提出一种可用于准单站配置的步进频探地雷达的建模方法。在该模型中,探地雷达系统及其与分层媒质间的相互作用被表示成线性方程,天线对雷达信号的影响被表示为只与频率有关的传输函数。为验证模型准确性,该文在实验室条件下搭建了准单站配置的步进频探地雷达系统,并对已知厚度的石膏板和木板的雷达测量信号进行全波反演。反演结果表明:石膏板和木板的厚度估计误差均不超过0.3 mm,验证了所提出的正演模型具有高准确度。利用石膏板和木板搭建分层模型,该文进一步比较了准单站配置和单站配置步进频探地雷达系统对介电常数差异较小的分层媒质的反演性能。实验结果表明:准单站配置探地雷达能获得更精确的反演参数。通过对分界面反射信号的信噪比估计可知,准单站配置比单站配置探地雷达系统能获得高出约10 dB的信噪比,因此具有更好的反演性能。   相似文献   

12.
论述了微带分支线耦合器非破坏性测量固体电介质复介电常数的方法,阐明了3dB分支线耦合器用于介电常数测量的原理,提出的分支线耦合器的输出与耦合端口各连接一段终端开路的微带线,待测物放在其中的一条线上。待测物的介电常数可通过测量两端口的散射参数的幅度进行计算。运用提出的方法,在2.45GHz下测量了特氟龙、聚丙烯等固体电介质的复介电常数,其结果与文献相吻合。  相似文献   

13.
论述了微带分支线耦合器非破坏性测量固体电介质复介电常数的方法,阐明了3dB分支线耦合器用于介电常数测量的原理,提出的分支线耦合器的输出与耦合端口各连接一段终端开路的微带线,待测物放在其中的一条线上。待测物的介电常数可通过测量两端口的散射参数的幅度进行计算。运用提出的方法,在2.45GHz下测量了特氟龙、聚丙烯等固体电介质的复介电常数,其结果与文献相吻合。  相似文献   

14.
基于损耗媒质的复Snell定律提出采用复射线方法研究电磁波在非均匀且非平行分层的等离子体媒质中的传播特性.该方法考虑非均匀平面电磁波的复射线(包括等幅度面的传播射线和等相位面的传播射线), 追踪电磁波复射线在每层媒质中的传播路径以及它们透过媒质分界面时的折射射线, 同时根据复射线的传播方向计算电磁波在每层媒质中的传播衰减, 数值累计整个传播过程中的传播衰减即可获得电磁波穿过等离子体鞘套的总衰减.由钝锥体仿真流场数据简化出非平行分层几何模型并采用复射线方法进行计算分析.计算结果表明:飞行器头部至尾部的传播衰减相差巨大且呈现迅速减小趋势, 非平行分层非均匀等离子体媒质存在某特定入射角, 能使传播衰减达到最小值.  相似文献   

15.
分层媒质中浅二维目标的探测   总被引:1,自引:1,他引:0  
卿安永  李敬 《微波学报》1997,13(4):327-332
本文探讨利用时域散射场信息探测分层媒质中法二维目标、分层媒质中目标的探测具有明显的应用价值.但相对自由空间而言,这种探测要困难得多。本文给出一种基于体等效原理的探测分层媒质中钱二维目标的方法。这是一种选代方法.从一阶玻恩近似开始迭代.每次迭代过程中正问题和逆问题各计算一欢,正问题采用FDTD方法。利用体等效原理,得到反映时域散射场和目标介电常数分布之间关系的体积分方程,经傅立叶变换并离散化后得到反演方程。为了克服问题的病态.采用了伪求逆技术、文中列举了几个具有代表性的例子,最后讨论了有关的几个问题。  相似文献   

16.
旋波媒质基本参数的一种测试方法   总被引:5,自引:0,他引:5  
兰康  赵愉深 《电子学报》1995,23(6):117-119
本文提出了直接利用旋波材料板的S参数获得其基本参数的方法。通过自由空间测量旋波材料板的反射场和透射场,可以反演得到媒质的复介电常数、复磁导率、旋波量以及透射场的轴比和旋转角,测试程序简单,结果精度高。  相似文献   

17.
李纪鹏  龚勋 《微波学报》1999,15(4):317-322
提出一种测量微波集成电路基片复介电常数的新方法,通过测量贴于开口矩形波导外的介质基片的反射系数,可计算得基片的介电常数和损耗角。经过理论分析,给出求解复介电常数的计算公式和算法,对一些基片的复介电常数进行了实际测量,结果表明该测量方法运算量小,精度高,且具有设备简单,不需对样品进行特殊加工或破坏样品等优点。  相似文献   

18.
开口波导法无损测量微波集成电路基片复介电常数   总被引:4,自引:1,他引:3  
提出一种测量微波集成电路基片复介电常数的新方法。通过测量贴于开口矩形波导外的介质基片的反射系数,可计算得基片的介电常数和损耗角。经过理论分析,给出求解复介电常数的计算公式和优化算法。对一些基片的复介电常数进行了实际测量,结果表明该测量方法运算量小,精度高,且具有设备简单,不需对样品进行特殊加工或破坏样品等优点。  相似文献   

19.
本文应用网络原理导出了渐变媒质层中反射系数的微分方程,进而获得了重建媒质介电常数的近似解析闭式。通过给出任意媒质层的等效网络s参数,可以得到任意连续媒质层介电常数剖面的一种分域重建方法。重建实例证明了本方法的有效性。  相似文献   

20.
本文应用网络原理导出了渐变媒质层中反射系数的微分方程,进而获得了重建媒质介电常数的近似解析闭式.通过给出任意媒质层的等效网络S参数,可以得到任意连续媒质层介电常数剖面的一种分域重建方法.重建实例证明了本文方法的有效性.  相似文献   

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