X射线数字成像对GIS设备的无损检测

针对GIS设备缺乏有效检测手段的问题,提出了X射线数字成像技术对GIS设备典型缺陷的可视化无损检测。该检测利用X射线数字成像技术对GIS设备典型缺陷进行透照,实现了在GIS设备不解体、不破坏环境情况下的可视化无损检测。实验结果表明,该检测技术具有可移动性、高效、可靠且有效可行。     

X射线数字成像技术在GIS设备吸附剂罩材质识别中的应用

针对GIS设备吸附剂罩存在的材质缺陷问题,提出利用移动式X射线数字成像系统对GIS设备内部结构进行“可视化”的带电检测,介绍X射线数字成像技术原理及方法,通过吸附剂罩透视成像进行模拟试验和现场检测结果的对比分析,认为X射线数字成像技术可在GIS设备带电状态下成功发现塑料吸附剂罩缺陷,解决吸附剂罩缺陷在设备带电运行时难以有效识别和判断的重大难题.     

检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的特高频和X射线数字成像联合方法研究

相比超声波局部放电检测法,特高频局部放电检测法对GIS固体绝缘内部放电缺陷检测灵敏度和定位精度较高,但无法确证此类缺陷部位和类型,据此制定的设备检修策略难以保证完善、准确。因此,文中研究了特高频局部放电和X射线数字成像联合检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的方法,使用特高频局部放电检测法对固体绝缘缺陷进行检测和定位后,在设备检修期间应用X射线数字成像技术对缺陷进行可视化确证。该方法在某110kV变电站110kV GIS的带电检测中成功发现隔离开关绝缘拉杆内部电树枝缺陷,表明了该方法有助于提升GIS固体绝缘内部局部放电的检测和定位效果,为检修提供可靠依据。     

检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的特高频和X射线数字成像联合方法研究

相比超声波局部放电检测法,特高频局部放电检测法对GIS固体绝缘内部放电缺陷检测灵敏度和定位精度较高,但由于无法确证此类缺陷部位和类型,据此制定的设备检修策略难以保证完善、准确。因此,本文研究了特高频局部放电和X射线数字成像联合检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的方法,使用特高频局部放电检测法对固体绝缘缺陷进行检测和定位后,在设备检修期间应用X射线数字成像技术对缺陷进行可视化确证。该方法在某110 kV变电站110 kV GIS的带电检测中成功发现隔离开关绝缘拉杆内部电树枝缺陷,表明该方法有助于提升GIS固体绝缘内部局部放电的检测和定位效果,为检修提供可靠依据。     

X射线数字成像技术在电力设备故障诊断中的应用

用传统的带电检测方法对电力设备进行故障诊断时,检测结果仅是基于非直接特征表象的判断,这使得诊断结果存在漏判或误判的可能。通过介绍X射线数字成像技术,将X射线数字成像技术运用到电力设备的缺陷检测中,在不打开电力设备本体的前提下,对电力设备进行X射线透射,通过对生成图像进行分析,可以发现设备内部存在的缺陷或瑕疵,应用效果表明X射线数字成像技术可用于高效开展电力设备可视化无损检测,结果清晰准确,为电力设备的故障诊断及检修提供了直观的依据。     

X射线数字成像检测系统在GIS设备中的应用

采用X射线透照技术,对GIS设备内部结构在成像板上进行成像,并使用数字扫描系统读取成像板上的图像信息,显示出设备内部结构影像,通过对现场不同电压等级GIS设备的成像试验,得到清晰的内部结构影像,实现了"可视化"检测的目的,为设备的故障诊断及状态检修提供了技术支持。     

GIS设备典型缺陷的X射线数字成像检测技术

GIS设备内部缺陷严重威胁着电力系统的安全可靠性。为了及时检出和准确诊断GIS内部潜在的危险缺陷,探索了基于X射线数字成像的GIS内部典型缺陷检测技术的可行性。归纳总结了GIS本体与其内部典型缺陷的主要材质,分析了X射线经过各种材质后的射线强度变化情况,基于此分析了X射线数字成像技术对各种典型缺陷的检测有效性,并通过实验对上述分析结果进行了验证。研究结果表明:X射线数字成像技术可以检测出对于高压金属尖端、壳体内金属颗粒、金属部件接触不良、绝缘子表面金属颗粒、绝缘子气隙等典型缺陷。文中的研究成果对于运用X射线数字成像技术开展GIS典型缺陷检测及对缺陷类型进行初步诊断具有重要的指导意义。     

GIS设备异物缺陷X射线检测研究

SF6气体绝缘全封闭组合电器(GIS)内部可能出现金属微粒等异物缺陷导致故障,因此对GIS设备内部的异物缺陷故障进行检测具有重要的意义。X射线成像法是一种检测GIS设备内部缺陷的有效方法,但缺乏成熟的参数选择方法。文中对X射线检测的基本理论进行了介绍,对GIS设备X射线检测参数选择方法进行了讨论,并为220kV GIS设备内异物缺陷检测选择了合适的参数。在选定参数下,使用双丝像质计对射线成像系统的不清晰度进行了研究,验证了X射线对金属微粒缺陷检测的可行性,之后在GIS设备内部设置异物缺陷并利用X射线检测系统进行缺陷检测。结果表明,选定参数能够对遗落零件缺陷以及1～2 mm的铜金属微粒缺陷进行有效的检测;对1～2 mm的铝金属微粒缺陷,X射线成像法能够实现检测,但对比度较低。     

基于DR技术的GIS设备内部绝缘缺陷检测

气体绝缘全封闭组合电器(GIS)设备内部缺陷严重威胁电力系统安全运行,数字化X射线成像(DR)检测技术可实现GIS设备内部结构的可视化诊断,为设备故障诊断提供有力的技术支持。本文根据材料透射强度比可表征不同材料X射线吸收率差异特性的原理,采用材料密度和原子序数计算得到材料透射强度比,分析了DR检测技术对GIS设备各种典型缺陷检测的可行性和有效性,试验研究了施加电压对采用DR技术检测GIS内部绝缘缺陷有效性及成像情况的影响。最后对某220 kV GIS设备进行DR检测,验证了DR技术用于检测GIS内部绝缘缺陷及对缺陷进行初步判断有效可行。     

基于X射线的干式互感器检测

利用X射线数字成像技术对35kV及以下干式互感器的内部结构进行透照,可以在互感器不解体、主绝缘不破坏的情况下实现可视化无损检测,从而发现其内部异常或者缺陷.实验结果表明,该检测技术具有可行性、可靠性及有效性.     

利用红外成像法检测GIS设备SF_6气体泄漏

GIS设备发生SF6气体泄漏会导致其绝缘性能下降,并对大气环境造成严重的污染。红外成像法利用SF6气体特定的红外吸收光谱,能使泄漏气体清晰可见,进而可以在设备不停电的状况下对泄漏部位进行快速、准确的定位。检测实例表明该方法直观有效,为漏气设备检修策略的制定提供了充分的信息支持。     

GIS中SF6气体泄漏光学检测新技术

介绍了3种可用于定位检测GIS中SF6气体泄漏的光学成像技术。这些技术能使操作者看到泄漏气体清晰图像,快速识别泄漏源;其远距离识别和瞬时检测能力使检测者可以快速大范围地扫描GIS,泄漏能被立即识别。相对于传统的非在线检测和其它在线检测技术来说,光学成像技术在SF6气体泄漏检测方面,是一个比较大的突破。     

组合电器状态检测新技术在辽宁电网的应用

对组合电器状态检测技术的发展及不同检测方法的优缺点进行了研究,主要包括SF6气体泄漏检测技术、SF6分解产物检测技术、局部放电检测技术、X射线成像检测技术和震荡波雷电冲击试验技术。在此基础上,结合辽宁电网实际,分析了组合电器状态检测新技术的应用情况,并提出了检测技术的应用建议。     

缺陷漏磁成像技术综述

缺陷漏磁成像技术一直是无损检测领域的研究热点之一,也是铁磁性构件缺陷检测与评估的重要手段。本文从缺陷的漏磁数据可视化、缺陷轮廓的二维漏磁成像以及缺陷的三维漏磁成像三个阶段,对缺陷漏磁成像技术的发展历程进行归纳梳理,详细介绍了各阶段常用的成像方法。并在此基础上,讨论了缺陷漏磁成像技术的研究方向和发展趋势。     

基于紫外成像图像信息的绝缘子表面放电量化方法

紫外成像法是一种有效的非接触式放电检测方法,为采用紫外成像法量化绝缘子的表面放电电信号强度,论文以紫外图像中放电光斑面积的大小作为紫外成像量化参量,试验对比研究了绝缘子放电的紫外成像图像和电脉冲信号特征,分析得到了观测距离为9m和紫外成像仪在几种典型增益下的光斑面积与脉冲电流的峰值、脉冲电流平均值的关系。研究了可见光通道与紫外通道的图像参数随距离增加时的变化规律,研究发现两者具有近似相同的衰减特性,在此基础上提出了采用可见光通道的信息用于估计成像区域面积的方法,避免了不同距离下检测到的结果没有对比性的问题,论文最后采用了最小二乘回归支持向量机实现了对放电强度的估计。     

GIS绝缘子表面固定金属颗粒放电特性研究

为研究气体绝缘开关设备中绝缘子表面固定金属颗粒的放电特性,在实验室建立了一套220kV电压等级的GIS局部放电检测平台,模拟GIS绝缘子表面固定金属颗粒放电模型,应用紫外成像技术、超声波检测技术和脉冲电流法对整个放电过程进行了检测。试验结果表明:光学检测法灵敏度很高,通过紫外光子数可以直观的反映放电的剧烈程度和放电位置;绝缘子表面固定金属颗粒的形状对放电剧烈程度有较大影响;在绝缘子缺陷处,随着放电的加剧,局部区域瞬间受热而膨胀,体积的剧烈变化引起了介质密度的瞬间变化,从而导致超声波信号不断增强。     

超声法在GIS设备带电检测及故障诊断中的应用

随着状态检修工作的全面实施,GIS设备带电检测的重要性日趋突出。GIS设备局放超声检测法因抗干扰性强、操作方便,适合现场使用。介绍在某GIS厂家新产品出厂检测中,笔者采用超声诊断技术成功检测出1起内部缺陷。     

GIS支撑绝缘子内部放电缺陷综合诊断方法现场应用

介绍了基于特高频局部放电检测和X射线成像检测的气体绝缘金属封闭开关设备（GIS）支撑绝缘子内部放电缺陷综合诊断方法,并进行了分析和现场应用研究。以某110 kV GIS为例,利用特高频法对运行中的GIS进行局部放电检测,在检测到异常信号后,通过干扰排除和多通道信号时延定位确定缺陷位置、缺陷类型。对于支撑绝缘子内部放电缺陷,利用X射线成像检测技术对缺陷情况进行确认,从而实现缺陷综合诊断,指导设备检修。