盐雾试验技术综述

综述了盐雾试验技术对试验结果的影响,并从盐雾的腐蚀原理、影响盐雾腐蚀的因素,包括试验温湿度、盐溶液浓度、样品放置角度、盐溶液PH值、盐雾沉降量和喷雾方式,以及试验结果的表述等方面对提高盐雾试验结果的有效性进行了探讨。     

大气盐雾与电子产品盐雾试验

对自然界中盐雾的形成和特点及其对电子产品的影响进行了综述,并对电子产品、设备、元器件以及材料的盐雾试验参数进行了对比。根据盐雾试验的应用范围,通过材料、元器件、组件及整机的逐级检验,介绍了提高产品的耐盐雾腐蚀性能,评价电子产品长期耐盐雾性能的研究方法。     

镀金层盐雾试验机理及方法探讨

本文从盐雾试验的方法和目的着手，探讨盐雾试验是如何显示金镀层质量，并结合微电池腐蚀原理提出盐雾试验机理。根据剖析的盐雾试验的机理，作者从微电池腐蚀的两个微观因素糙度等。结合这些宏观条件，作者探讨了金镀层耐盐雾试验的有效方法。     

不锈钢耐盐雾性能应用研究

本文论述了四种牌号的不锈钢盐雾试验1000小时后的对比结果,对盐雾条件下不锈钢的腐蚀机理做了探讨,解释了不锈钢材料的在盐雾条件下的一些现象。推荐了在沿海地区使用的不锈钢材料的成分与牌号及措施。     

ADSS光缆盐雾试验室建立与试验

文章着重介绍检验 ADSS光缆耐电蚀性能的盐雾试验方法和盐雾试验室的建立 ;对 ADSS光缆试样在 10 0 k V电场强度下进行 10 0 0 h盐雾试验结果进行了分析。     

盐雾腐蚀对不同封装形式集成电路性能的影响

通过分析塑料封装、陶瓷封装、玻璃封装和金属封装集成电路的材料成分,得出它们抵抗盐雾的腐蚀能力。根据市场的使用情况,选用塑封、陶封、玻封三种封装形式的集成电路按照6种不同的试验条件进行盐雾试验。文章通过对试验后的结果进行比较和分析,得出在正常盐雾腐蚀条件下, 它们性能受到影响的大小;在不同盐雾溶液和不同的温度条件下,陶瓷封装电路的性能也发生了变化。最后对塑料封装、陶瓷封装、玻璃封装电路的抗盐雾腐蚀能力进行了总结。     

盐雾试验条件对试验结果的影响

盐雾试验利用人工模拟盐雾环境考核元器件的耐腐蚀性能,为改变元器件外壳质量提供试验依据.文章通过分组试验,对比影响盐雾试验有效性的各主要因素,列举试验温度、氯化钠溶液浓度和pH值、盐雾沉降率,以及产品放置角度等因素发生变化时的试验结果,从理论上分析以上外界因素对中性盐雾试验结果的影响.     

浅谈盐雾试验

盐雾试验是利用盐雾试验设备所创造的人工模拟盐雾环境来考核产品或金属材料耐腐蚀性能。标准对试验方法的描述不是很详细,尤其中性盐雾试验(NSS)应用最广,因此本文将对其试验方法和步骤进行讨论。     

盐雾试验中的测量不确定度

阐述了测量不确定度评估的意义,并以盐雾试验为例,评估测量不确定度分量如配置盐溶液、盐溶液PH值、盐雾沉积量、试验箱温度、样品的放置与恢复条件、试验后的检测等对盐雾试验结果的影响,提出了控制各分量的措施。     

ADSS光缆盐雾试验室的建立及盐雾试验

本文着重介绍了检验ADSS光缆耐电蚀性能－－盐雾试验的方法及盐雾试验室的建立，并对ADSS光缆试样在100kV电场强度下进行1000小时盐雾试验的过程和结果进行了分析。     

集成电路可靠性试验-盐雾技术研究

对盐雾试验的条件进行了分析.通过试验,验证了温度、盐浓度、氧溶解度和流速对盐雾试验的影响以及研究分析样品的摆放技术.     

一种低流阻高效除盐雾装置的试验研究

针对在恶劣环境部署的地面雷达进行了面向雷达整机的盐雾控制的研究。通过分析典型设备的环控需求,有针对性地采用了不同的盐雾控制策略,并给出了关键参数试验过程与结果。试验结果表明:该方法完全可以满足地面雷达全天候除盐雾的需要,也为后续类似产品的研制提供了参考。     

ADSS光缆盐雾试验

文章着重介绍试验ADSS光缆耐电蚀性能－盐雾试验方法及盐雾试验室的建立。ADSS光纤试样在60kV电场强度下进行1000h盐雾试验过程和结果分析。     

超声雾化在盐雾试验中的应用

提出将超声雾化应用于盐雾试验 ,在盐雾生成法上以超声雾化法取代气压喷射法 ,通过理论与试验探索了超声雾化法的可行性 ,并比较了两种方法的优劣     

盐雾环境对电信产品的影响

盐是世界上最普遍的化合物之一。在海洋、大气、陆地表面、湖泊和河流中均能发现盐。因此,使物品避免暴露在盐雾中是不可能的。盐雾环境对电工、电子产品的影响仅次于温度、振动、湿热及沙尘环境。 金属腐蚀是一种自发氧化的过程。盐雾环境下,由于盐雾液体作为电解液存在,增加了金属内部构成微电池的机会,加速了电化学腐蚀过程,使金属或涂层腐蚀生锈、起泡,从而产生构件、紧固件腐蚀破坏,机械部件、组件的活动部位的阻塞或黏结,使动部件卡死、失灵,出现微细导线、印制线路板开路或短路,元件腿断裂等情形。同时,盐溶液的导电性大大降低了绝缘体表面电阻和体积电阻,其盐雾腐蚀物与盐溶液的干燥结晶(盐粒)间的电阻会比原     

不同镀层结构的金属外壳盐雾试验分析

集成电路外壳的抗盐雾腐蚀能力是由材料、冶金、电镀工艺及镀层结构等多种因素决定的。对三种底材的三种镀层结构进行抗盐雾对比试验,并对三种结构的失效概率进行了统计分析。结果表明,在镀层达到一定厚度后,采用镍与金的交叉镀层结构抗盐雾能力最强,最差的是镍层加金层结构的镀层外壳。     

四防磁光盘性能研究报告

磁光盘在盐雾,霉菌,湿热,高低温等环境下工作性能会受到很大影响。文章主要介绍了新研制的四防光盘在盐雾,霉菌,高低温,湿热条件下的抗恶劣环境的工作性能。     

一种能进行盐雾和湿度组合循环的盐雾试验箱

日本电子元器件可靠性中心环境试验所新添置了一台ISO—3—CYR型盐雾循环试验箱,该试验箱系根据IEC、ISO、JIS、MIL等标准的要求,而由日本力”试验机厂制造。 以前所进行的连续盐水喷雾试验,其目的是调查电子元器件和电子设备的保护膜的均匀性并进行比较,但并不适用于电子元器件和设备在含盐分的大气中使用的一般性腐蚀试验。 环境试验所这次所添置盐雾循环试验箱,能进行盐雾和湿度组合的循环试验,作连续性盐雾试验时,能有效地再现含实际盐分的自然环境,与一般的大气条件比较,可获得加速的结果。     

J304βy计数管盐雾失效原因分析

1概述 J304βy计数管是G—M计数管（盖-革计数管）的一种,该管被广泛应用在国防、科研领域。由于计数管在使用时被密封在探头盒内,盐雾、霉菌试验对辐射探测仪没有影响。但随着国防装备对电子元器件的技术要求不断提高,因此,对J304βy计数管提出了必须进行盐雾、霉菌试验的考核要求。我们在盐雾试验时曾出现过J304βy计数管失效现象,本文试图通过对失效原因的查找、分析并进而提出的解决方法作简要介绍。     

从连续盐雾试验转向循环盐雾试验

本文叙述了当今世界流行的加速腐蚀试验方法，如ＡＳＴＭ－Ｂ１１７恒定盐雾，Ｐｒｏｈｅｓｉｏｎ湿热干燥循环、由盐雾／高湿组成的多功能循环腐蚀等试验以及进行这些试验的试验箱，并将这些试验方法及结果与天然户外暴露试验进行了比较。