《2014NI趋势展望》重点关注技术突破

正NI研究最新趋势以帮助不同行业工程师优化各自领域的应用新闻发布——2014年2月—美国国家仪器公司(National Instruments,简称NI)近期发布《2014NI趋势展望》,对最新技术发展进行总结以帮助工程师满足日新月异的需求,将功能日益强大的技术应用于工作中。这是NI首次发布此报告,阐述了从信息物理系统到射频仪器软件无线电技术等各种应用主题。     

《2014NI趋势展望》重点关注技术突破

新闻发布-2014年2月一美国国家仪器公司（National Instruments,简称NI）近期发布《2014NI趋势展望》,对最新技术发展进行总结以帮助工程师满足日新月异的需求,将功能日益强大的技术应用于工作中。这是NI首次发布此报告,阐述了从信息物理系统到射频仪器软件无线电技术等各种应用主题。     

NI发布2016自动化测试趋势展望,智能化测试系统势在必行

正 NI通过确定最前沿的商业和技术趋势来帮助企业降低测试成本作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商,NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)近日发布了《2016自动化测试趋势展望》。这份年度测试和测量报告综合概括了日益互联化的自动化测试环境的主要趋势,主题涵盖从毫米波(mm-     

NI推出多功能一体化仪器——实用仪器新生代VirtualBench

正2014年6月16日NI全球同步发布了被称为"实用仪器新生代"的多功能一体化仪器——VirtualBench。提起NI,人们自然而然得会联想到PXI、LabVIEW、模块化仪器等名词,其最鲜明的特点就是持续提出与传统仪器在平台系统设计方面完全不同的创新理念,并不断向市场推出革命性的新产品,为工程师提供新的选择,以帮助他们在特定领域内获得成功。如今NI的产品线中突然增加了台式仪器不能不引起业界的极大兴趣。     

《2015NI趋势展望》着重探索物联网的影响——NI通过研究最前沿趋势来帮助不同行业的工程师优化各自领域的应用

2015年3月10日,NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,近日发布了《2015NI趋势展望》。这份第二次年度报告探究了从工业化物联网(IoT)到制造者运动(maker movement)对经济增长的影响等一系列主题。"NI相信未来的系统将基于目前甚至可能不存在的架     

NI发布2011自动化测试技术展望

美国国家仪器有限公司（NationalInstruments,简称NI）近日发布了《2011自动化测试技术展望》,就影响测试测量的技术与方法发表了研究结果。该报告所阐述的发展趋势覆盖了消费电子、汽车、半导体、航空航天、医疗设备和通信等众多产业,帮助工程师和企业管理人员利用最新策略和最佳实践案例,优化测试组织架构。     

安立公司推出ShockLineTM单端口USB矢量网络分析仪

<正>NI通过研究最前沿趋势来帮助不同行业的工程师优化各自领域的应用NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)近日发布了《2015 NI趋势展望》。这份第二次年度报告探究了从工业化物联网(IoT)到制造者运动(maker movement)对经济增长的影响等一系列主题。《2015 NI趋势展望》涵盖了以下领域的趋势:5G:无所不包的互联网络移动互联网推动了创新,并鼓励研究人员跳     

《2015 NI趋势展望》着重探索物联网的影响

——NI通过研究最前沿趋势来帮助不同行业的工程师优化各自领域的应用2015年3月10日,NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI)作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商,近日发     

You and NI Will NIDays 2014全球图形化系统设计盛会中国站圆满落幕

新闻发布--2014年11月--美国国家仪器有限公司（ National Instruments,简称NI）2014年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月14日在北京万达索菲特大酒店圆满落幕。围绕“You and NI Will”这一主题,本届 NIDays 打造了一场分享与交流的技术盛会,聚焦合作伙伴、客户与NI一起在不同行业的成功应用,启迪未来的项目实践,加速应用创新。活动共吸引了近六百余位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体参加。     

NI自动化测试趋势展望回顾了智能设备时代所需的测试方法

正客座编辑Dr.James Truchard介绍最主要的测试与测量趋势NI(美国国家仪器公司)日前发布了《2017 NI自动化测试趋势展望》。这份年度测试和测量报告回顾了影响自动化测试环境的主要技术,包括可重配置测试仪器、以软件为中心的测试平台以及下一代设备测试的生态系统等。在《2017年自动化测试趋势展望》特刊中,NI联合     

NI将软件设计的仪器用于电子测试

仪器驱动的FPGA扩展、Xilinx 7系列FPGA和业界首款PXImc适配器模块扩展了LabVIEW RIO架构,以减少测试总成本2013年9月,美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)发布了数款基于NI LabVIEW可重配置I/O(RIO)架构的新产品,为用户提供灵活性,帮助他们应对现代自动化测试系统的挑战并降低总测试成本。"被测设备的复杂性不断增加,工程师因而需要在降低成本的同时,采用新的战略来保持竞争力,确保上市时间。"NI测试系统主管Charles Schroeder说道。"LabVIEW RIO架构基于平台的方案,为工程师提供了取得成功必备的灵活、可扩展的工具。"最重要的平台更新当属新的仪器驱动的FPGA扩展,它具备NI RF信号分析仪和RF信号发生器仪器驱动的特     

NI LabVIEW RIO架构新增即插即用USB

正近日,美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)发布4个全新带USB连接的R系列板卡(USB-7855R、USB-7856R、USB-7855ROEM与USB-7856ROEM),通过目前市场上广泛采用的总线,帮助工程师将FPGA技术添加至任何基于PC的系统。这些产品都基于LabVIEW RIO架构,足以证明NI在R系列产品家族上的投入功不可没。LabVIEW RIO架构是NI图形化系统设计平台的一个重要部分。图形化系统设计是一种现代化的嵌入式监控系     

NI Lab VIEW RIO架构新增即插即用USB

美国国家仪器有限公司（ National Instruments,简称NI）近日发布4个全新带USB连接的R系列板卡（ USB-7855R, USB-7856R, USB-7855R OEM与USB-7856R OEM）,通过目前市场上广泛采用的总线,帮助工程师将FPGA技术添加至任何基于PC的系统。这些产品都基于LabVIEW RIO架构,足以证明NI在R系列产品家族上的投入功不可没。     

NI单槽式机箱进一步扩展NI CompactDAQ平台——新型易用便携式产品提供最佳性能与易用性

2011年8月——美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）发布了新型的单槽式NI Compact—DAQ机箱,可支持USB、无线网络、以太网数据总线,为工程师和科学家提供性能优越的便携式数据记录器与灵活的模块化测量。NIcDAQ-9191、cDAQ-9181、cDAQ-9171机箱支持所有的NI CompactDAQ平台NIC系列模块,     

NI发布用于NI CompactRIO的无线I/O

2012年7月,美国国家仪器公司(National Instruments,简称NI)近日发布了一款新型无线网关和两款新型测量节点,进一步扩展了NI无线传感器网络(WSN)平台的性能,证实了NI在推动无线测量技术领域发展上所作出的承诺。借助于NI LabVIEW系统设计软件,工程师可以方便地集成有线和无线测控系统,并可将自主开发的程序部署至WSN节点,实现本地控制、数据分析和基于事件的报警或通知功能。     

《2016 NI趋势展望》解析工业物联网全球新趋势

正日益互联化的工业世界与工业大数据作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商,NI公司近日发布了《2016 NI趋势展望》。这份连续第三年发布的年度前瞻性报告探究了物联网(Io T)相关的一系列主题及其如何影响各个领域的数据管理方式——从软件消费化到通过原型验证实现5G网络。     

NI通过FPGA提供灵活高效的802.11ac WLAN和低耗电蓝牙技术测试解决方案

2012年10月-美国国家仪器公司(National Instru-ments,简称NI)发布了针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙技术的测试解决方案,结合了NI图形化系统设计软件和基于FPGA的PXI模块化仪器,提供了可完全用户自定义的高性能测试能力。这些测试解决方案结合NI提供的包括手机测试、导航仪测试和无线连接测试在内的其他解决方案,可以有效地帮助工程师在一个单一的高性能平台上全面     

NI LabVIEW2009——助您超越

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）宣布推出最新可用于测试、控制与嵌入式开发的图形化系统设计软件平台——LabVIEW2009。本次最新版本的LabVIEW2009有效融合了各种最新的技术与趋势,帮助工程师实现工程领域的超越。借助于LabVIEW2009与NI Veri Stand实时测试与仿真软件,自动化测试的范畴被进一步延伸,通过构建硬件在环测试系统可以得到产品在实际环境中的响应,从而在设计过程中通过测试获取产品的不足与缺陷;     

NI发布首个基于PCI Express的GPIB控制器

美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)发布了测试与测量领域第一个基于PCI Express的GPIB控制器。使用全新的NI PCIe-GPIB控制器，工程师可以利用最新的PC技术通过PCI Express来控制仪器。     

NI发布2009年测试与测量发展趋势

如今全球经济现状对于预算成本有着严格的限制,测试工程师现今面临的挑战将是如何寻找更高效的测试方法。美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）,指出2009年将极大改进测试测量系统效率的三大趋势——软件定义的仪器系统,并行处理技术以及无线和半导体测试新方法。它们将帮助工程师在减少测试总成本的条件下,开发更快、更灵活的自动化测试系统;