共查询到18条相似文献,搜索用时 140 毫秒
1.
本文给出的基于干涉条纹移动的并行光计算是在光栅分光元件构成的干涉光路中完成的。光栅产生的O级和+l级衍射光经位相调制器在干涉场中相干,通过对条纹进行分析可获得输入信号的逻辑运算。文中在简述了双光栅干涉仪的工作原理后给出了并行光计算的实验结果。 相似文献
2.
提出了一种使用单光栅测量位移的新方法,在该方法中,光栅信号经放大后由图像传感器阵列接收并被传送至计算机,然后通过与其镜像图像叠加的方式得到数字莫尔条纹,最后利用图像传感器像素的空间均匀性对莫尔条纹直接进行细分进而测得位移量。与传统的双光栅莫尔条纹位移测量法相比,该方法完全消除了光栅副层叠间隙,装调更为方便,而且细分成本更低。在阿贝比长仪上对由周期为20 m的光栅和2 0481 536像素的CMOS图像传感器构成的分辨率为0.04 m的测量系统进行测试,结果表明其最大位移误差优于0.18 m。 相似文献
3.
4.
研究建立了可同时进行三维位移场测试的新型光测力学实验系统。平面位移测试基于云纹干涉方法.但采用与普通云纹干涉不同的光路系统,利用试件光栅和平面反射镜组形成的两次衍射,使平面位移干涉条纹倍增。测量灵敏度是普通云纹干涉的2倍。采用泰曼/格林干涉光路测量离面位移。整个系统具有构造新颖、便于调节、位移场条纹对比度高等特点。用波前干涉理论。建立了位移条纹方程式.与由多普勒频移原理建立的位移条纹方程式取得了一致的表达结果。通过微电子器件三维热变形的测量,对系统进行了验证。 相似文献
5.
为了实现光栅莫尔条纹的精确计数和微位移的高精度测量,提出了一种新的莫尔条纹精确计数算法.当光栅移动时,通过CCD摄像器件将莫尔条纹转换为动态光电信号,即随时间变换的正弦信号.利用条纹周期性的能量分布曲线,对移动的莫尔条纹进行精确计数和判向,通过使用Matlab软件编辑界面,直观的显示光栅莫尔条纹移动个数及光栅微小位移.通过对莫尔条纹精确计数达到了对微小位移测量.实验结果表明,测量精度可以达到1μm. 相似文献
6.
7.
8.
9.
激光自混合干涉式位移测量数值模拟及实验研究 总被引:2,自引:1,他引:2
对激光自混合干涉式位移测量原理进行了数值模拟和实验研究。首先,从三镜法布里珀罗腔理论出发,得到了基于半导体激光自混合干涉原理的位移测量模型,在此基础上对多种波形调制外反射体位移情况下激光自混合干涉信号进行了理论分析,证实信号倾斜方向发生反转的间隔条纹数目对应反射体位移的幅值范围;反射体有半个波长的位移,信号即输出一个完整的条纹;反馈强度的增加将增大输出条纹的倾斜。对信号倾斜现象进一步分析发现,当反射体位移减小时,信号向左倾斜,反之向右。造成信号倾斜的原因是由于高反馈强度下引起的非线性相位调制了输出信号强度。这些结论同样适用于任意波形调制的反射体位移。实验测试结果同理论分析吻合较好。 相似文献
10.
基于直接相位解调的双光纤法布里-珀罗位移传感器 总被引:2,自引:1,他引:1
条纹计数法解调精度受限,而常用的高精度外差调频解调法(如相位生成载波法、线性调频法),在光源调频过程中伴生有幅度调制并且调制解调系统复杂。提出了一种基于双光纤光路相位解调的法布里-珀罗(F-P)位移传感器,原理上省去了光源调频过程,在提高检测精度的同时,成本与条纹计数法相当。与已有报道的双光路结构不同的是,该传感器对两干涉光路之间相位差无严格要求,安装调节简单,降低了传感器的工艺难度。位移测量实验结果表明,该传感器在0~500μm的测量范围内,线性度为1.1%,误差限值为±3μm。 相似文献
11.
光刻对准中掩模光栅标记成像标定方法 总被引:2,自引:0,他引:2
双光栅叠栅条纹对准方法具有精度高、可靠性强等特点,适用于接近接触式光刻。为了实现高精度测量,实际应用中要求掩模光栅标记与硅片光栅标记高度平行。掩模光栅标记在CCD中成像通常存在一定的倾斜角。由此,在已提出的相位斜率倾斜条纹标定方法上,提出了一种改进方法。该方法充分利用掩模光栅45°和135°两个方向的相位信息标定CCD的成像位置,以实现掩模光栅条纹的标定。对比两种方法分析表明,改进后的方法具有倾角测量范围大、抗噪性强、精度高等优点,理论极限精度优于0.001°量级。 相似文献
12.
13.
纳米位移测量技术是实现高精度纳米制造的基础。激光自混合干涉为精密纳米位移测量提供了一种结构简便、成本低廉,同时测量精度可达纳米量级的精密位移测量方法。区别于传统基于反射镜或散射面为反馈元件的激光自混合干涉测量方案,研究了一种基于平面反射式全息光栅的激光自混合纳米位移测量方法,该方法的位移测量结果以光栅的周期为基准。实验测得了在弱反馈强度条件下的光栅自混合干涉信号,通过阈值设定的方法确定位移方向的反转点,结合反余弦的相位解包裹算法处理光栅自混合信号,获得了对应的位移测量值。最终采用商用激光干涉仪与自组装的光栅自混合干涉仪进行位移测量数据的比对测量,实验结果表明,经过线性修正后,其位移误差不超过0.241%。 相似文献
14.
基于EPM7128的光栅位移测量仪设计 总被引:1,自引:0,他引:1
分析了基于Altera公司CPLD(复杂可编程逻辑器件)芯片EPM7128SLC84-15进行光栅位移测量的基本原理,以及硬件电路的各个模块——数字滤波、四倍频细分、辨向、计数电路的设计原理和具体电路,给出了CPLD设计的仿真结果,实验结果表明该设计行之有效,该测量仪已经成功应用于某型号的光栅传感器位移测量系统中。与其他设计相比较,该设计电路简单、成本较低、易于升级,并能实现较高的位移测量精度。 相似文献
15.
16.
使用背照减薄型CCD器件的色散型成像光谱仪在近红外波段会出现呈条带状干涉条纹现象,该干涉条纹对入射光波长分布敏感,空间频率稳定,特别适用于微小光谱偏差的测量与校准.针对一台光栅色散型推扫式成像光谱仪样机,先估计出条纹分布的规律,再以此为基础,采用频域滤波、最小二乘拟合等方法提取干涉条纹中包含的相位信息,以此作为光谱定标的辅助参数.实验表明,当入射光强变化达到130%以上时,拟合谱线位置的不确定度最大为0.007 3 nm,模拟光谱位置改变后,以汞灯谱线作为基准光谱位置曲线,测得拟合算法的最大误差为0.135 8 nm,该结果证明,干涉条纹拟合定标方法可有效减少定标系统对光源稳定性的依赖,提高对光谱维微小偏移量的检测精度. 相似文献
17.
18.
基于计算全息法,通过计算和模拟得到了涡旋光束与平面光束干涉所产生的位错条纹,用胶片记录位错条纹并制作成位错光栅,在自行设计搭建的光路中进行实验获得1~4 阶的涡旋光束。实验结果表明,各阶涡旋光束的空心半径随着阶数的增大而逐渐增大,与理论分析相符合;实验进一步观察到各阶光栅的二级甚至三级衍射光束,当入射光束中心与光栅位错中心重合时,能够产生光强分布对称的涡旋光束,当光束中心和光栅中心不重合时,产生的涡旋光束的光强分布不对称。这为后续以涡旋光束为捕获光束的光镊实验的进一步拓展及应用提供了理论和技术支持。 相似文献