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网络时延测量中的时间同步系统应用研究 总被引:5,自引:4,他引:1
文章介绍了网络时延测量中引入时间同步机制的重要性,设计了基于GPS的网络时间同步及网络传输时延测试系统.基于所构建的专用网络实验平台,进行了实际链路传输时延测试,实验结果表明,所设计的网络时延测试系统测试精度高,具有较强的实用性. 相似文献
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介绍了GB 9364对小型熔断器的电压降测试的要求和影响电压降测试结果的六个因素。分析了测试时间对测试结果的影响,对不同电流的测试时间提出了建议。 相似文献
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不论是电信通讯、芯片设计等工程实践,还是原子物理实验等理论研究,以及激光测距、卫星定位等航天军事技术,都离不开高精度时间测试和分析.高性能示波器是进行高精度时间测试的关键工具,要得到高精度的时间和时延信息,前提是高保真地采集多通道被测信号.本文针对如何利用实时示波器进行高精度时间测试和分析的问题,探讨了在示波器中影响时间测试结果的几个关键因素,最后针对高精度时间测试提供了参考方法和测试实例. 相似文献
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本发明涉及时间同步检测系统技术领域,其特征在于:包括GPS/北斗信号接收定时单元,时间同步基准源单元,时间同步信号测试单元,时间同步信号仿真单元,网络化软件平台设计单元,LCD显示触摸控制单元和锂电池管理单元。本发明触摸手持时间同步测试系统在于结构设计轻巧,便于携带,触摸式控制,操作简单,为智能变电站中设备进行时间测试提供了有效的解决方案,有效增强了智能变电站的运维便利性和可靠性。 相似文献
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碲镉汞雪崩光电二极管(Avalanche Photodiode, APD)探测器在主被动模式下能同时获取目标物体的强度信息和时间信息,实现实时的三维探测。高精度时间标定的测试方法是验证三维测距的基础。文中分析了盖革模式和线性模式的优缺点,针对一种线性模式主被动HgCdTe APD探测器的读出电路结构进行了分析,并对TOF计算方法进行了研究,在此基础上搭建了一套高精度时间标定的测试平台,对系统和环境噪声进行了测试,得到噪声带来的时间抖动为179 ps。对测试仪器带来的固定时延进行了校准,对影响TOF精度的电压、电容、斜坡发生器的精度以及高精度电压源的精度等参数进行了理论分析,在77 K下完成了线性模式HgCdTe APD探测器的主、被动信息的测试。测试结果得到低温下电路线性度高达99.9%,饱和电荷容量为7 Me?,时间精度抖动的均方根为2.107 ns,证明该测试平台和方法能有效地评估探测器的性能,为红外精准探测提供了参考。 相似文献
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一种改进的Web性能测试模型 总被引:1,自引:0,他引:1
在分析Web性能测试模型WPTM(Web Performance Testing Model)的基础上,提出了一种改进的Web性能测试模型IWPTM(Improved Performance Testing Model).增加了性能指标:思考时间,形成了一个Web性能测试框架,并在此基础上给出了一个新的性能测试流程.IWPTM弥补了WPTM中性能指标独立的不足,增加的思考时间使性能测试更为真实地模拟用户操作,测试结果更加准确. 相似文献
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在某80×40 Gbit/s OTN实验网基于1588v2时间同步传递性能测试的基础上,针对在超长传输距离的骨干OTN现网上进行时间同步传递的应用进行了初探。 相似文献
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为了在靶场网络化测试模拟试验网中统一多台测试设备的本地时间,以便组织网络化多台设备组网综合数据融合模拟试验,需要设计时统专用标定设备。在分析了几种常用授时方式的基础上,提出了采用单脉冲硬件驱动定标机制来统一标定各测试设备的本地时间。此硬件设备以微控制器为控制核心,通过统一启动时间基准标定信号,来对各测试设备的主机本地时间进行统一标定。在试验中,数据融合系统能够在新的统一时间基准下工作,融合后的数据具有实时驱动其他测试设备的能力。试验结果表明此时间基准设备能够达到系统测试功能要求,可用作在靶场网络化综合测试模拟试验中对多台测试设备组网的时间的统一标定。 相似文献
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本文介绍了以开环数字高频振荡发生器将DAC输出阶梯波的任一部分,在宽带示波器上显示出来的动态测试设备。对DAC的差分线性、镇定时间以及开关时态幅度等动态指标直观迅速的进行评价。能对几+KHz-几+MHz、字长18Bit以内的DAC进行测试。 相似文献
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随着Web技术的不断发展,其应用的多样性和复杂性给性能测试工作带来了困难和挑战,介绍了如何借助于强大的工业级性能测试工具Loadrunner对Web系统性能进行测试,如何获取测试需求、制定测试计划、生成测试脚本、设计测试场景、监控系统性能,分析测试结果。 相似文献
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PIND试验条件对集成电路性能影响的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
PIND试验可以改变的试验条件有冲击加速度、振动加速度、振动时间和试验次数。将这些条件分成四种方案进行试验,通过器件的内引线键合拉力值和电源电流值的变化来反映该条件对器件的影响。然后从理论上对试验条件的影响做了研究,最后对数据进行分析,得出了影响器件最大的条件。 相似文献
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We propose a static compaction procedure to reduce the test application time for full and partial scan synchronous sequential circuits. The procedure accepts as input a set of test subsequences. A test subsequence consists of a sequence of primary input vectors, and a vector to be scanned-in before the input sequence is applied. The procedure uses two operations to reduce the test application time. The first operation combines test subsequences. The second operation reduces the lengths of the combined subsequences (the length of a test subsequence is the length of the input sequence included in it). The reductions in test application time of the proposed procedure are demonstrated through experimental results. 相似文献