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发光器件和集成电路都是信息技术的基础。如果能将它们集成在一个芯片上,信息传输速度,储存和处理能力将得到大大提高,它将使信息技术发展到一个全新的阶段,但是,现在的集成电路是采用硅材料,而发光器件则用ill-V族化合物半导体。Ill-V族化合物半导体集成电路,虽然经过多年的研制,但至今还不成熟。因此,研究硅基发光材料和器件成为发展光电子集成的关键。本文评述了目前取得较大进展的几种主要硅基发光材料和器件的研究,包括掺铒硅、多孔硅、纳米硅以及 Si/SiO_2等超晶格结构材料,并展望了这些不同硅基发光材料和发光器件在光电集成中的发展前景。 相似文献
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硅基发光材料和器件研究的进展 总被引:2,自引:0,他引:2
发光器件和集成电路都是信息技术的基础,如果将经们集成在一个芯片上,信息传输速度,存储和处理能力将得到大大提高,它将使信息技术发展到一个全新的阶段,但是,现有的集成电路是采用硅材料,而发光器件用Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体。Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体集成电路,虽然经过多年的研制,但至今还不成熟,因此,研究硅基发光材料和器件成为发展光电子集成的关键。本文评述了目前取得较大进展的几种主要硅基发光材料和器件成为发展光电 相似文献
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硅基量子点的制备及其发光特性 总被引:1,自引:0,他引:1
硅基光电子学无疑是今后光电子学发展的方向,这就要求硅基材料能够满足发光器件的要求,从而达到光电集成的目的。因为硅体具有非直接带隙的特点,共发光效率低,所以利用硅基低维量子结构,尤其是量子点结构提高硅基材料的发光性能一直是国内外本领域的一个研究特点。本文对近年来硅基量子点的制备及发光特性研究所取得的进展和结果进行了总结和评述,并对今后的发展提出了看法。 相似文献
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本文介绍了采用阳极氧化腐蚀工艺在单晶硅上制作多孔硅(PS)薄层,对PS薄层进行了微结构的分析为毫微结构量子线组成的复杂网络,其截面尺寸为纳米范围而纵向尺寸在微米量级。对PS样品光致发光谱的测定发现随阳极氧化电流密度和腐蚀时间的增加谱峰发生“兰移”并用PS的量子限制效应解释了上述实验现象。 相似文献
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发展硅基光电子学一直是人们关注追求着的一个诱人的目标,众所周知,半导体晶体管是构成微电子技术的关键基础,而发光,激光器件则将是光电子学的心脏部件,硅属间接带隙材料,发光效率至少比直接带隙的GaAs低三个量级。探索硅基材料高效率发光的途径,已是当前科技界研究的热点,能带工程的应用为之展现出光明的前景。本文着重评述,由SiGe量子阱能带工程,Er ̄(3+)发光中心离子注入掺杂工程,以及直接带隙β一FeSi_2新材料工程的研究所取得的进展,并提出作者的若干初步想法的考虑。 相似文献
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硅基纳米材料发光特性的研究进展 总被引:6,自引:0,他引:6
近年,硅基低维材料物理与工艺的研究预示,硅基光电子学将是今后半导体光电子学的一个主要发展方向,而硅基低维发光材料又将成为半导体光电子集成技术的主要基础材料。随着硅基超晶格,量子阱和多孔硅研究的不断深化以及纳米科学技术的日益发展,硅基发光材料正向纳米方向开拓。 相似文献
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Si基异质结构发光的研究现状 总被引:1,自引:0,他引:1
综述了Si 基异质结构发光研究的现状。介绍了Si 材料本身的本征发光、激子发光、杂质发光等特性,描述了掺Er- Si 的发光、Si 基量子结构( 量子阱、量子点) 的光发射,重点研究SiGe/Si 异质结构的发光性质。同时还对多孔Si 发光、Si 基发光二极管(LED) 与Si 双极晶体管(BJT) 集成、Si 基上垂直腔面发射激光器(VCSEL) 与微透镜的混合集成作了简要的介绍。 相似文献
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Si基光电子集成(OEIC)光接收机在光通信系统接入网、光互连、光存储等方面有着广泛的应用前景。本文综述Si基OEIC光接收芯片的研究现状,分析了其发展趋势,探讨了进一步提高性能的途径。 相似文献
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Si-based germanium is considered to be a promising platform for the integration of electronic and photonic devices due to its high carrier mobility, good optical properties, and compatibility with Si CMOS technology. However, some great challenges have to be confronted, such as: (1) the nature of indirect band gap of Ge; (2) the epitaxy of dislocation-free Ge layers on Si substrate; and (3) the immature technology for Ge devices. The aim of this paper is to give a review of the recent progress made in the field of epitaxy and optical properties of Ge heterostructures on Si substrate, as well as some key technologies on Ge devices. High crystal quality Ge epilayers, as well as Ge/SiGe multiple quantum wells with high Ge content, were successfully grown on Si substrate with a low-temperature Ge buffer layer. A local Ge condensation technique was proposed to prepare germanium-on-insulator (GOI) materials with high tensile strain for enhanced Ge direct band photoluminescence. The advances in formation of Ge n+p shallow junctions and the modulation of Schottky barrier height of metal/Ge contacts were a significant progress in Ge technology. Finally, the progress of Si-based Ge light emitters, photodetectors, and MOSFETs was briefly introduced. These results show that Si-based Ge heterostructure materials are promising for use in the next-generation of integrated circuits and optoelectronic circuits. 相似文献
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Amin RANJBARAN 《中国光电子学前沿》2012,(3)
In this paper,we proposed quantum dot (QD) based structure for implementation of white light emitting diode (WLED) based on InGaN/GaN.The proposed structure included three layers of InGaN QD with box s... 相似文献
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