各种规模集成电路

Y2000-62093-V-306 0012749平方根域系统合成用的系统方法=A systematic ap-proach to the synthesis of square-root domain systems[会,英]/Lopez-Martin,A.J.& Carlosena,A.//1999IEEE International Symposium on Circuits and Systems,Vol.5 of 6.—V.306～V-309(PC)Y2000-62123-162 0012750超大规模集成电路=Session 10:VLSI[会,英]//1999IEEE Pacific Rim Conference.—162～176(PC)本部分收入4篇论文。题名为:不相交壳与简化     

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Y2000-62169-8 0020109在日本的大学和超大规模集成电路设计教育中心(VDEC)的大规模逻辑集成电路的标准设计流程=Standard design flows of logic LSIs in vapanese universi-ties and VDEC[会,英]/Ikeda,M.& Asasa,K.//Pro-ceedings of the 1999 International Conference on Micro-electronic Systems Eduction(MSE’99).-8～9(YP)VDEC 是一种 VLSI 设计教育的 COE。它主要涵盖了三个功能:(1)提供 VLSI 设计的教育信息;(2)提供 CAD 软件工具;(3)支持实现 VLSI 芯片。它将用于解答用户问题及邮件。现在,有一半麻烦和问题似乎是关于初学者的,最要紧的是建立 VDEC 标准设计流程,并且为第一次进行设计的人员提供文件或手册以便于他们能进行自我的培训。     

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Y2000-62089-1-1 0009322超大规模集成电路系统与结构(含5篇文章)=VLSIsystems and architectures[会,英]//1999 IEEE Interna-tional Symposium on Circuits and Systems,Vol.1 of6.—1-1～1-22(PC)本部分共收录5篇论文。题名为:直接数字合成时钟脉冲发生器的抖动模型,数字信号处理(DSP)计     

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Y2000-62327-1 0016234顺序与数据通路优化=Session 1A:sequentia and data-path optimization[会,英]//1999 IEEE InternationalConference on Computer Aided Design.—1～18(PC)本部分收有3篇论文。题名为:MARSH:采用配置与保持约束的小面积再定时,OPTIMISTA:最佳输出逻辑用的异步有限状态机(FSM)的状态极小化,以及进位保留加法用的位级运算优化。     

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Y2002-63279-30 0311996有效且效率高的FPGA合成通过建立在信息关系测量上的功能分解=Effective and efficient FPGA synthesisthrough functional decomposition based on informationrelationship measures[会,英]/Jozwiak,L.& Chojnack-i,A.//2001 IEEE Symposium on Digital Systems De-sign.—30～37(TE)     

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Y98-61361-449 9907376无线应用的绝缘体上硅的20μW/MIPS@1.5V 低功率ULSI=20μW/MIPS@1.5V low power ULSIs onSOI technology for wireless applicatioils[会,英]/Lee,M.M.-O.& Asada,K.//1997 IEEE Region 10 An-nual Conference on Speech and Image Technologies forComputing and Telecommunications,Vol.2.—449～452(HG)     

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Y2002-63120-349 0217387立体视觉系统的新蜂窝神经网络集成电路=A newCNN IC for stereo visual system[会,英]/Salerno,M.&Sargeni,F.//The IEEE International Symposium onCircults and Systems Vol.3 of 5.—349～352(HE)Y2002-63121-170 0217388ULSI 系统的局部计时模块的异步接口=Asynchronousinterface for locaUv clocked modules in ULSI systems[会,英]/Liljeberg,P.&Posila,J.//The IEEE Inter-national Symposium on Circuits and Systems Vol.4 of5.—170～173(HE)     

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Y2002-63121-678 0219691Fibonacci 互连拓扑网络中频谱变换的电路实现=Cir-cuit realizadon of spectral transforms in Fibonacci inter-connection topologies[会,英]/Stankovic,M.&Stankovic,R.S.//The IEEE International Symposiumon Circuits and Systems Vol.4 of 5.—678～681(HE)Y2002-63121-762 0219692多载波 GSM 900和1800基站的高度线性 TX-IF 芯片=Highly linear TX-IF chip for multicarrier GSM 900and 1800 base station[会,英]/Rovira,I.& Sivonen,P.//The IEEE Intemadonal Symposium on Circuits and     

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Y99-61803-6 2002022在深亚微米互联析取与分析中搭起 TCAD 和 ECAD间的桥梁=Bridging the gap between TCAD and ECADmethodologies in deep sub-micron interconnect extractionand analysis[会,英]/Nagaraj,N.S.& Balsara,P.//Proceedings of the 12th Internationa[Conference of VLSIDesign.—6～11(EZ)众所周知,互连寄生是影响深亚微米设计中性能与可靠性的主要因素。因此,金属问题的缩少、工艺变化、用于金属化/电介质的新材料都对互连建模工艺提出了更精确的要求。同时,连续设计集成化,增加的芯片尺寸和市场压力需要快速而“精确”的 EDA 方法与工具。本文对 TCAD 互连建模方法以及它们如何用于 ECAD 方法与工具中进行了整体展望。参19     

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9915120步进电机微机控制卡的研制[刊]/陆渭林//声学与电子工程.—1999,(2).—34～39(D)9915121VLSI 容错设计研究进展(1):缺陷的分布模型及容错设计的关键技术[刊]/郝跃//固体电子学研究与进展.—1999,19(1).—20～32(D)随着芯片面积的增加及电路复杂性的增强,芯片的成品率逐渐下降.为了保证合理的成品率,人们将容错技术结合人了集成电路。文中首先概述了缺陷及其分布,然后概述了容错技术,并详细地叙述了动态容错技术中的两个关键问题:故障诊断及冗余单元的分配问题。参37     

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Y2000-62078-237 0007566由快速热处理产生的功率集成电路中深结的工业相关性=Industrial relevance of deep junctions produced byrapid thermal processing for power integrated circuits[会,英]/Dilhac,J.-M.& Cornibert,L.//1999 Inter-national Symposium on Power Semiconductor Devices andIC's.—237～240(U)     

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Y98-61299-1724 9904577为减小开关噪声在 CMOS VLSI 系统中最佳单片旁路电容的确定=Determination of optimum on-chip bypasscapacitor in CMOS VLSI systems to reduce switchingnoise[会,英]/Kanigicherla,B.& Oh,S.-H.//1997IEEE International Symposium on Circuits and Systems,     

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Y2000-62028-1088 0100357热强化 LSI 组件用的结构设计系统=Structural designsystem for thermally enhanced LSI packages[会,英]/Yoneda.N.& Kitano,M.//1999 IEEE 49th Electron-ic Components and Technology Conference.—1088～1095(PC)     

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Y2000-62591-487 0114857电路模拟中芯片电感建模和 VLSI 互连的 RLC 抽取=On-chip induetance modeling and RLC extraction ofVLSI Interconnects for clrcuit simulation(会,英]/Qi,X.-N.& Wang,G.-f.//2000 IEEE Custom IntegratedCircuits Conference.—487～490(EC)Y2000-62591-503 0114858深亚米领域的高性能可预测电路结构=A noveI high—     

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Y99-61984-26 0003807宽带通信集成电路可使家庭和办公室实现高带宽互连=Broadband communications ICs:enabling high-band-width connectivity in the home and office[会,英]/Samueli,H.//1999 IEEE International Solid-State Cir-cuits Conference.—26～30(UC)N2000-06338 0003808电子情报通信学会技术研究报告:VLSI 设计技术VLD98-131～140(信学技报,Vol.98,No.624)[汇,日]/日本电子情报通信学会.—1999.03.—76P.(L)     

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N2002-07696 0224609电子情报通信学会技术研究报告:VLSI 设计技术VLD2000-111～116(信学技报,Vol.100,No.531)[汇,日]/日本电子情报通信学会.—2001.01.—48P.(L)本文集收录6篇论文。内容主要涉及:虚拟硬件HOSMII 用的 DRAM 型多角度 FPGA 的设计,多角度FPGA 用上下文分割算法,图象编码化处理与可重构器件及系统,数字信号处理与可重构系统,软件无线电技术动态分析等。     

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Y2000-62237-9 0014436利用相关窗法的串扰延迟分析=Crosstalk delay analy-sis using relative window method[会,英]/Sasaki,Y.&De Micheli,G.//Proceeding of Twelfth Annual IEEEInternational ASIC/SOC Conference.—9～13(UC)提出了大规模集成电路中定时分析时与串扰影响相关的新方法。这种方法可以检测受影响时间和信号到达时间间的定时问题,以及与到达时间不相关的输     

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Y2000-62078-197 0005757在高压状况下由集成电路密封材料的离化电导率而出现可靠性问题=Reliability problems due to ionic con-ductivity of IC encapsulation materials under high voltageconditions[会,英]/Bruggers,H.J.& Rongen,R.T.H.//1999 International Symposium on Power Semicon-ductor Devices and IC’s.—197～200(UC)     

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Y99-61516-147 9913183采用不完全实现信息的数字超大规模集成电路可重新设计性分析=Redesignability analysis af digital VLSIcircuits with incomplete implementation information[会,英]/Wey,C.-L.& Khalil,M.A.//1998 IEEE Inter-national Symposium on Circuits and Systems,Vol.6 of6.—147～150(V)     

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Y2001-62925-213 0208148ATM 网络中实时处理视频流的模块式 VLSI 结构=Amodular VLSI architecture for real-time processing ofvideo streaming applicatmns over ATM networks[会,