SDH专用集成电路的FPGA验证

在专用集成电路的设计中,采用ＦＰＧＡ来验证专用集成电路的功能是一个重要而必不可少的过程,本文介绍了用２片Ａｈｅｒａ公司的ＦＬＥＸ１０Ｋ系列ＦＰＧＡ验在规模 和集成电路功能的过程,给出了在和集成电路设计中充分利用工具和原有集成电路的设计成果进行ＦＰＧＡ验证的步骤,并提出了如何解决验证过程中遇到的一些疑难问题。     

一种燃气灶具控制专用集成电路

介绍了一种燃气灶具控制器专用集成电路。讨论了控制器的功能及集成电路的设计。集成电路中共有约８５００个器件，采用３μｍＣＭＯＳ工艺设计，芯片术核心面积为２．６５ｍｍ×３．９０ｍｍ，包括压焊点在内的总面积为３．２６ｍｍ×４．５ｍｍ。     

大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可     

激光二极管专用测试系统

世界各国的实验室和研究中心每天都在对激光二极管技术进行革新。由于其市场发展迅速 ,越来越多的公司加入到激光二极管的生产行列。其中大多数公司不仅有自己的研发中心 ,同时与其他进行激光二极管研发工作的小组保持战略联系。然而一套制作精良、能够精确测试激光二极管的测量系统非常必要 ,它应用于研究开发、原型制造、批量生产和产品质量控制各个阶段。测试激光二极管需要给装置注入电流 ,然后测量发光特性。其中通常感兴趣的原始参数有光绝对功率、光束的空间和光谱特性。激光二极管不能用传统的电源来驱动。由于偏置电压的轻微漂移 ,…     

基于FPGA的集成电路芯片测试系统与方法分析

本文提出了一种基于FPGA的集成电路芯片测试系统,阐述了具体的设计方式,以此为相关领域的研究人员提供一定的技术性参考。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

无线内窥镜专用芯片的FPGA验证及相关测试

介绍了一种数字式无线内窥镜的系统方案及其胶出并实现了用于该数模混合专用芯片的FPGA验证系统及验证流程.为了进行芯片系统级低功耗设计,验证系统完成了体内硬件部分的能量测试.     

汉字识别专用集成电路测试方法研究

本文扼要阐述了汉字识别专用集成电路THGA3640的原理和功能。通过分析该电路的逻辑功能,给出测试此类电路的故障模型、测试算法和测试方案,提出了算法测试反写响应法的测试方法AUTRWM(Algorithms Used forTesting and Rewriting Method)。作者应用这种方法得到了一套可信的测试码和比较可信的预期输出测试集和测试图案。通过对该电路大量芯片测试,表明效果较好。     

一种节拍器专用集成电路的设计

节拍器专用集成电路能够精确产生音乐节拍。它主要由控制模块和驱动模块组成，根据用户的不同要求，由控制模块精确计算节拍速率，并控制节拍的声音；驱动模块则动态驱动液晶，使节拍速率和节拍音符在显示屏上显示。不同于传统的单片机实现技术，该专用集成电路采用了先进的大规模集成电路EDA设计方法，用VHDL语言正向设计，FPGA下载实际验证。     

一种用于混沌保密的新型混沌信号产生电路

混沌信号被广泛用于数据加密、保密通信、流体混合等众多领域,论文提出了一种基于参数周期扰动产生混沌信号的方法,使得一个二阶系统混沌化,并设计了该二阶系统的电路,由于该电路只采用了LM358、AD734、MAX038和若干电容、电阻,因此可应用到家电、智能仪表、IC卡等中低档消费电子产品中以实现数据加密。     

一种铁氧体移相驱动器专用集成电路

介绍了ＳＡ０１８铁氧体移相驱动器专用集成电路的工作原理，电路设计和实验结果。该电路的内部电路设计有双路激励驱动器，放大器，积分器和双路高速比较器等功能单元。将铁氧体移相器的激励驱动器和相位控制器融于一体，大大减少了铁氧体移相器的外围设计。     

STD总线基综合检测系统模拟电压采集电路的设计

本文介绍了STD总线基自动驾驶仪综合检测系统模拟电压采集电路的设计和提高其采集精度的措施.并给出了具体的硬件设计电路.     

Circuit Testing Through Integrated Digital Access

As digital transmission expands within telecommunication networks, maintenance tools for those networks evolve as well. For testing digitized services (including voice, voiceband data, and digital data-like services), digital test equipment most efficiently analyzes circuit failures. One such device, the AT&T Remote Measurement System-Digital (RMS-D), utilizes digital access and measurement techniques to test both switched and nonswitched services. The capabilities of the RMS-D, and the testing needs of the special services digital network it fulfills, are described here. Examples of how the RMS-D effectively utilizes the digital transmission network for access are discussed for different circuit densities.     

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

集成电路光刻镜扫描控制系统

用同步辐射光源进行大规模集成电路和微器件光刻是现阶段的一项高新技术。本文介绍同步辐射光刻的镜扫描控制系统。它的设计思想,所采用的方法以及最优控制等都具有科技应用和经济价值。     

一个集成电路计算机辅助制造系统XHCAM

文章介绍了一个适应工业化大生产，功能齐全，使用方便，低成本的集成电路计算机辅助制造系统ＸＨＣＡＭ。     

涉密信息系统风险评估与安全测评实施

风险评估与安全测评是两种不同的安全评估活动,在信息安全建设中占有重要地位。论文通过介绍风险评估与安全测评的基本概念及相互关系,针对涉密信息系统的特殊性要求,深入探讨了涉密信息系统风险评估与安全测评的具体可操作的实施方法。     

一种集成电路测试流程分级动态调整方法

针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.