高速串行数据接收器IC的可测性设计

集成电路芯片的测试已经成为现代集成电路设计的关键,本方案针对高速串行数据接收器专用集成电路的测试难点,提出了可行的测试电路,通过添加测试引脚、设计专用测试模式以及采用内建自测试等方法有效的解决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试。     

高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计

本文为了解决高速串行数据接收器专用集成电路的测试难题．提出了针对该高速工作的集成电路的测试方案．并设计了可行的测试电路．通过添加测试引脚、设计专用测试模式．内建自测试等方法有效的群决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试．     

模拟集成电路直流参数测试

集成电路产业是当今社会三大信息产业之一,集成电路技术的飞速发展必然带动集成电路测试设备的不断更新,从而降低集成电路生产成本,提高生产效益。本文给出了一种基于AD5522的模拟集成电路直流参数测试系统设计方案。该方案利用AD5522和AD974构成多通道参数测试环路,设计并实现模拟集成电路直流参数测试系统。实验结果表明,与传统测试设备比较,该测试系统具有结构紧凑、测试速度快、精度高、可操作性强等特点。     

用于混合信号VLSI的可扩展JTAG控制器IP核设计

正电子发射断层成像系统（PET）前端读出电路是数模混合信号超大规模集成电路芯片.针对多通道高性能PET专用集成电路芯片的特点,采用JTAG控制器对该芯片进行初始控制和辅助测试.采用TSMC 0.18μmCMOS工艺设计实现了一个可扩展的JTAG控制器IP核,支持14组可扩展控制信号和16个多位寄存器扫描链的读/写操作,并配备定制的底层驱动软件.该JTAG控制器IP核还可用于其它混合信号VLSI的控制与测试,具有较强的通用性和工程实用价值.     

GH3183模拟集成电路测试系统简介

国营光华无线电仪器厂是从事IC测试仪器研制生产的专业厂家,长期来,在IC测试技术领域积累了丰富的经验。测试产品覆盖数字、模拟及数模混合集成电路等许多门类。其中多项产品荣获部级科技成果奖和优秀新产品奖。 GH3183是我厂最新推出的具有国内先进水平的中小型模拟集成电路测试系统。主要测试对象包括:ADC、DAC、运算放大器、电压调节器等模拟及数模混合集成电路。该测试系统具有性能可靠、使用方便、性价比高等特点,是一套实用的、性能优良的模拟集成电路测试系统。     

高速3-DES算法IP核的设计与实现

信息加密是一种解决网络信息安全问题最直接有效的方法。为了满足大量连续数据加解密的需求,通过对流水结构的优化,对子密钥生成与选通模块的并行设计,开发了一种高速3-DES算法IP核,具有很好的灵活性和适应性,适用于宽带高速网络设备。该IP核采用专用集成电路设计的方法,可用于片上系统的设计,通过仿真可知其最高加解密速率能够达到6.05 Gb/s。     

SW233 PIN驱动器自动测试系统的研制

介绍了一种集成电路自动测试系统，该系统采用计算机并口作通信接口，用VB6编程，实现了对外围测试电路的控制，用IEEE-488接口卡控制测试仪器，可对SW233电路的36个参数进行自动测试，并将测试结果自动保存在数据库中。该测试系统具有自动化程度高、操作方便、测试结果精确等特点。     

集成电路的通用单粒子效应测试系统设计

为满足种类繁多、功能复杂集成电路的单粒子效应评估需求,克服目前国内地面单粒子辐照实验环境机时紧张、物理空间有限等方面的限制,设计实现了一款高效通用的集成电路单粒子效应测试系统。创新性地采用旋转立体垂直结构,包含一个多现场可编程门阵列(FPGA)电测试平台、运动控制分系统和被测器件装载板。便携式箱体结构仅需3个DB9接口即可完成所有与外界连线;基于LabVIEW实现上位机交互界面,界面友好;基于多FPGA平台实现下位机测试程序,灵活可扩展,通用性强。可实现8种300及以下管脚集成电路的一次安装、自动切换和10°~90°的角度辐射。实时监控并后台记录翻转数据、翻转时间、电路状态等细节信息,测试频率可达100 MHz。已通过专用集成电路(ASIC)、静态随机存取存储器(SRAM)、控制器局域网络(CAN)接口电路等集成电路的多次实测,验证了该系统的可靠性及其高效稳定、集成度高、安装调试方便等特点。     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓，知道今天的集成电路测试需要做什么？我们能做什么？还会有什么样的难题？发展的方向是什么？     

智能测量集成电路的设计与仿真

文章以电子体重秤专用集成电路为例,介绍了基于嵌入式MPU的智能测量专用集成电路的设计及硬件仿真。在一块芯片内实现了数据采集、数据处理、数据显示等智能测量系统所需完成的功能,并在所设计的硬件仿真系统中,通过硬件仿真,验证了系统功能的正确性,为目标芯片提供了软件开发平台。并且该设计具有较强的通用性,可用于多种智能测量场合。