高效率低本底 HPGe γ谱仪和点源刻度

文章介绍了高效率低本底 HPGe γ谱仪系统的结构和主要性能。用~(152)Eu,~(241)Am 和~(60)Co 标准点源做了效率刻度。该谱仪对~(60)Co γ射线的相对效率为44.6%。在50—1800keV 能量范围内,测量的不确定度为2—5%。     

^161Tb低能γ射线发射几率的精确测量

利用4πβ-γ符合装置和低能光子谱仪精确测量了161Tb衰变γ射线的发射几率.对于25.7 keV、48.9 keV和74.6 keV的低能γ射线,测定结果分别为0.2327±0.0053、0.1700±0.0031和0.1001±0.0019.表明本测量结果的不确定度明显减小.     

用于测定U-238活度的γ谱仪效率刻度方法中一个值得注意的误区

本文详实地揭示了在高分辨Ge γ谱仪效率刻度方法及其样品分析应用中一个长期以来未为谱学工作者发觉和认识的误区.通过实验及物理数学推导方法,阐述了当选用92.6 keV特征γ射线分析天然样品中U-238活度时,是外源性特征X射线干扰的存在及影响其变化的多因素不确定性导致了准确测定天然样品中U-238活度的困难,并导致分析结果中含有难于预测的系统误差,故而文中建议摒弃该方法.文中注意到本文报告的误区在既往某些工作中遗留的影响,建议运用相关数据时应十分谨慎,如果可能,应设法重新测定.     

γ谱仪效率刻度标准源的制备

介绍了１种常用的热焊封制备γ点源的方法，并制备了几种核素的γ点源。在γ谱仪上进行了检验，得到了计算值和测量值一致的结果。同时，将高纯锗γ谱仪作了更准确的效率刻度。     

使用准直器后HPGe反康普顿γ谱仪的效率刻度

本文讨论了反康普顿γ谱仪在应用中所显示出的局限性以及这种谱仪在正常运行时做效率刻度所遇到的问题。采用具有圆锥形开口的准直器限定源的γ射线只能入射到主探测器上,从而可以刻度出实用的效率曲线。     

~(161)Tb低能γ射线发射几率的精确测量

利用4疴-γ符合装置和低能光子谱仪精确测量了161Tb衰变γ射线的发射几率。对于25.7 keV、48.9 keV和74.6 keV的低能γ射线,测定结果分别为0.2327 0.0053、0.1700 0.0031和0.1001 0.0019。表明本测量结果的不确定度明显减小。     

HPGeγ谱仪点源效率与探测高度的相关性研究

采用标准源的14种特征能量(59.54～1 408.08 keV),对本实验室HPGeγ谱仪进行效率刻度,并在距探头不同的探测位置处,得到某一能量的探测效率,建立ε～H的拟合方程,相关指数R~2在0.99850～0.99998之间。利用该拟合方程,在距探头不同高度处测量未知~(134)Cs样品源和标准物质,结果表明:~(134)Cs源对其平均值的最大偏差分别4.25%和4.32%;对标准物质的测量平均最大偏差为3.7%,与参考值有较好的符合。     

锗γ谱仪110mAg 657.8 keVγ射线符合相加修正因子与137Cs效率的相关性

本文主要介绍获得HPGe γ谱仪对110mAg 657.8 keV γ射线符合相加修正因子c与137Cs全能峰效率ε的拟合直线回归方程的方法、结果及其验证.用标准110mAg 和标准137Cs水溶液,各分别制成70 mm 10个不同高度(5～55 mm)并保持相同活度的掺标源;根据137Cs γ射线能量与110mAg的657.8 keV十分接近,利用在HPGe γ谱仪表面测量10个110mAg掺标源657.8 keV γ射线的净计数率n和10个137Cs掺标源的探测效率ε的实验数据,计算不同源高度的c和ε,经拟合计算得到c=1.111 7.454ε(R2=0.9915).在与其他方法获得的c的比较和在比对(灰样)测量的应用中均获得较满意的结果;本拟合方程在一定的误差范围内,可以用到其他基质样品和其他HPGe γ谱仪上.     

一台HPGeγ谱仪效率刻度数据的处理与分析

采用效率比较法测定γ谱仪的端面效率曲线时,刻度数据的取舍、函数拟合方式、效率比曲线拟合核素的选取等数据处理与分析方法,都影响着谱仪刻度的准确性.本文介绍了对一台HPGeγ谱仪效率刻度数据的处理与分析.     

环境辐射监测中γ谱仪无源效率刻度方法探讨

对高纯锗探测器无源效率刻度方法的特点、建立方式、方法验证做了介绍.针对探测器进行了多点源的实测来验证无源效率拟合与标准值之间的偏差,在中高能区点源的验证结果在6%,环境介质中的土壤、动植物灰体源的验证结果表明圆柱型体源偏差在7%～10%.     

锗γ谱仪110mAg 657.8 keVγ射线符合相加修正因子与137Cs效率的相关性

本文主要介绍获得HPGe γ谱仪对^110mAg 657．8keV γ射线符合相加修正因子c与^137Cs全能峰效率ε的拟合直线回归方程的方法、结果及其验证。用标准^110mAg和标准^137Cs水溶液,各分别制成φ70mm10个不同高度(5～55mm)并保持相同活度的掺标源;根据^137Cs γ射线能量与^110mAg的657．8keV十分接近,利用在HPGe γ谱仪表面测量10个^110mAg掺标源657．8keV γ射线的净计数率n和10个^137Cs掺标源的探测效率ε的实验数据,计算不同源高度的c和ε,经拟合计算得到c=1．111 7．454ε(R^2=0．9915)。在与其他方法获得的c的比较和在比对(灰样)测量的应用中均获得较满意的结果;本拟合方程在一定的误差范围内,可以用到其他基质样品和其他HPGe γ谱仪上。     

低能γ射线和X射线在几种金属薄膜中产生的次级辐射效应研究

对电子,低能γ射线和Ｘ射线穿透几种不同厚度的Ｆｅ,Ｃｕ和Ｔａ薄膜时所产生的次级电子及次级Ｘ射线进行了实验测量,并对影响次级电子和次级Ｘ射线强度的因素进行了分析。     

可携式就地HPGeγ谱仪的刻度及初步应用

本文介绍了一台可携式就地ＨＰＧｅγ谱仪的刻度实验和结果。在中国原子能科学研究院有关核设施的周围环境中进行了现场测量，并与高气压电离室的测量结果进行了比较；同时与相应测点同步采集的土壤样品的分析结果进行了比较。     

用多组标准源系列刻度γ谱仪效率离散的分析

一、引言在γ谱仪的放射性核素定量分析中,影响分析结果准确度与精度的主要因素,除了测量的统计误差、解谱程序引起的误差、谱仪系统的稳定性等因素外,还有谱仪系统效率刻度的误差。     

蒙特卡罗法模拟γ谱仪无源效率刻度

介绍了蒙特卡罗模拟和分析计算相结合对γ谱仪进行无源效率刻度的方法。针对点源情况下不同探测器厚度、半径及源探距等几何条件,以及不同面源半径的面源,以蒙特卡罗模拟获得γ谱仪无源效率刻度效率数据作为基准,结合插值法和积分计算,从而实现无源效率刻度。并初步编写了一套与该方法配套无源效率刻度软件。将软件计算结果与蒙特卡罗模拟结果比较,最大相对误差为9.1%。     

井型γ谱仪土壤样品探测效率刻度方法研究

井型γ谱仪能大幅缩短测量时间和样品用量,但在实际使用前,须对其进行效率刻度.介绍了一种采用MCNP(Monte Carlo N Particle Transport Code)通用软件包模拟计算与单能量点源实测修正相结合的井型γ谱仪土壤样品效率刻度方法.基于MCNP计算了γ射线不同能量、土壤样品不同质量的井型NaI(T...     

样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响

通过对不同厚度样品的γ射线测量,得出波谱峰面积与样品厚度的关系,并通过相对测量和效率刻度测量方法,计算不同厚度样品在46.5、351.9、477.6、661.7 keV能量下的探测效率.探测效率随样品厚度的变化较大,不同厚度样品的4种探测效率最大值平均为最小值的2.6倍.实验结果显示:探测效率随样品厚度增加而逐渐减小,...     

高效率低本底HPGer谱仪体源效率刻度和土壤样品分析

文章介绍了高效率低本底HPGe γ谱仪的水体源效率刻度和土壤样品的分析方法。用~(152)Eu,~(241)Am和~(60)Co混合水体标准源及一组单能γ射线水体标准源,测定了~(152)Eu和~(60)Co γ射线符合相加校正因子、土壤相对于水的样品自吸收校正因子及U,Th,Ra,K某些γ射线干扰的校正因子。用单能γ射线水体标准源和土壤标准源分别检验了体源效率刻度的准确性及土壤样品分析方法的可靠性。测量结果与参考值符合得很好。     

体源HPGeγ全能峰效率刻度的研究

本工作研究不同基体、不同几何体源的HPGeγ全能峰探测效率刻度方法。考虑了圆柱形体源的自吸收及级联符合相加效应对探测效率的影响,探索性提出了解决级联符合效应校正的新方法。     

用圆柱形体源刻度Geγ谱仪效率的能量及源自吸收的数学模型

文章报导了关于圆柱体源的γ谱分析的不同密度源的自吸收校正函数模型。该模型统一反映了γ射线能量、装样密度对自吸收校正函数的影响,从而为γ谱分析的测量效率的刻度找到了一条捷径。