X射线荧光光谱法测定球团矿的成分

采用粉末压片法制样，使用ARL9800XP型XRF—XRD结合型荧光光谱仪分析球团矿中TFe、FeO、SiO2、CaO、S、MgO、A12O3及P的含量。建立的工作曲线线性较好，且该方法简便、快速，精密度和准确度能够满足生产需要。     

粉末压片X-射线荧光光谱法测定外购生铁多元素含量

讨论了应用粉末压片X-射线荧光光谱法测定炼钢用外购生铁中Si、Mn、P、S、As元素含量的方法。样品经钻床钻取为碎屑状,用粉碎机研磨为粉末,以硼酸作衬底,将粉末试样制成圆片状,用X-射线荧光光谱仪测定试样中多元素含量。试验证明,方法分析周期短,数据准确可靠,能提高外购生铁检验效率,同时降低采用化学法而引起的酸烟和废液对环境的污染。     

X-射线荧光光谱法测定碳化硅和复合硅中磷含量

粉末压片，用X荧光光谱仪测定复合硅及碳化硅中的P含量。确定了压片压力，采用PE薄膜包试佯满足了X荧光光谱仪的真空度要求。该方法简便、快速、准确、可靠。检测结果满意。     

X射线荧光光谱法分析锰铁

本文通过对X荧光光谱法测定锰铁中元素进行研究,试样采用粉末压片法制成,用国家标样和自制标样绘制工作曲线,取得了较好的效果.     

X射线荧光光谱法测定生铁块中杂质元素

应用荧光光谱仪分析生铁块中Si、Mn、P、S、As、Ti。该分析方法简便、快速,结果较为满意,适用于炼钢生产过程中的在线分析和质量控制。     

X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的氧化钇

采用粉末压片法，用X射线荧光光谱法对锆钇粉体中氧化钇进行了测定，运用DJ数学模式进行干扰因素和基体效应的校正，其分析结果的精密度和准确度可满足生产分析要求。     

X射线荧光光谱法测定钢水净化剂

采用粉末压片法制样，X荧光光谱法分析钢水净化剂（硅铝合金、硅铝钙钡、硅铝钡、硅钙线等）中的si、AL、ca、Ba、S、P，建立了较准曲线，使之测定方法简单、快速、准确。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中各主次成分

采用粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中的各主次成分,结合本公司的实际生产工艺和要求,通过优化制样过程中的各项参数,确定最佳的制样条件,选用具有一定梯度含量的自产球团矿样品用化学分析进行定值,而后绘制工作曲线对生产样品进行分析。经实际使用表明,本法测量准确度、精密度较好,所得分析结果与化学分析结果一致。     

压片制样X射线荧光光谱法测定除尘灰中全铁含量

采用粉末压片法制样X射线荧光光谱法分析除尘灰中的全铁含量。根据除尘灰中的全铁含量分布范围广的特点,采取在一个分析方法中,根据样品种类的不同,建立铁元素的不同分析通道的办法,并对每个通道进行独立校准,用相应分析通道的工作曲线计算分析结果。该方法分析速度快,分析结果与化学法测定结果相符,精密度、准确度能够满足生产需要。     

X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量

对X射线荧光光谱测定氧化铝中杂质元素的方法进行了研究。利用系列标准样品制作工作曲线,采用混合熔剂四硼酸锂加偏硼酸锂(12+22)熔融制样法分析了SiO2,Fe2O3,Na2O,制备熔片的稀释比为1∶3;直接压片制样法分析了TiO2,V2O5,P2O5,ZnO。SiO2,Fe2O3,Na2O,TiO2,V2O5,P2O5,ZnO测定结果的RSD分别为2.61%,2.61%,2.33%,4.62%,8.24%,8.00%和1.79%。该方法用于氧化铝生产控制及产品分析,数据准确、可靠,结果令人满意。     

用粉末压片X射线荧光光谱法分析三烧烧结矿

粉末压片X射线荧光光谱法（简称XRF法）广泛应用于钢铁行业生产原料的分析中，本文研究应用粉末压片XRF法分析三烧烧结矿的成分。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石中的含铁量

采用玻璃熔片法，进行了熔融、分析条件试验，定量加入Co2O3做内标，测定铁矿中的TFe。测量范围为40％～70％，通过与化学分析方法比较，测定偏差小于0．25％。     

X射线荧光光谱法测定氧化锌粉中锌铁硫铜铅

以粉末压片方法自制样品,采用荷兰帕纳科Axios—PW4400型波长色散X射线荧光光谱仪一次测定氧化锌粉中的锌、铁、硫、铜、铅5种元素含量。试验测定结果与常规化学分析方法测定结果一致。分析结果准确、快速,成本低,适合湿法炼锌工艺系统中连续生产需要。     

粉末压片制样—X射线荧光光谱法测定钼铁中的钼

本文介绍了粉末压片制样-X射线荧光光谱法对钼铁中钼含量测定的检测方法。文中采用钼铁样品与微晶纤维素、硬脂酸按一定的质量比混匀并细磨后采用硼酸镶边-衬底技术进行样品制备。选用生产用普通系列样品绘制标准工作曲线,在X射线荧光光谱仪上测定钼的含量。测量结果与钼酸铅重量法分析结果相符。     

X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量

采用粉末压片法制样,建立了X射线荧光光谱法测定石灰石中10种组分(CaO、SiO₂、MgO、Fe₂O₃、Al₂O₃、MnO、TiO₂、K₂O、Na₂O、SrO)含量的方法。通过试验确定石灰石样品粒度达到74 μm以下,3.00 g样品称样量,30 t压力压片的制样条件。试验发现,压片时利用硼酸镶边和硼酸衬底,不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题;利用经验α系数法校正基体效应,校正后校准曲线的离散度较小,有效地消除了重叠谱线干扰。各组分的检出限在0.47~188.08 μg/g之间。对石灰石试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)在0.042%~5.7%范围内;对石灰石标准样品进行分析,各组分的测定值与认定值相符。方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。     

X射线荧光光谱法测定冶炼锡烟尘中10个组分

采用硼酸衬底直接压片法制取锡冶炼烟尘粉末的片状试样,然后用X射线荧光光谱法测定烟尘试样中Al_2O_3,As,SiO_2,Fe_2O_3,CaO,MgO,Pb,S,Sn,Zn含量。元素之间谱线干扰采用ARL9400WinXPF 2.0软件中的Trail-Lachance模型进行校正。对一样品的各组分进行11次测定,得到相对标准偏差在0.09%～3.66%之间,测定结果与滴定法和原子吸收光谱法吻合较好。方法快速、准确,可满足生产快速分析的要求。     

硅锰合金压片X射线荧光光谱法测定

本文介绍高硅锰合金的压片X射线荧光光谱法测定。对试样量、粘结剂的种类及配比、压力、静压时间等压片条件进行了实验,用硅锰合金标样及内控标样绘制工作曲线,采用PH模式对基体进行经验参数校正。本法具有准确、稳定、分析速度等快等特点,满足了生产测定要求。     

X射线荧光光谱法测定工业硅中11种微量元素

通过定性半定量分析软件IQ⁺测定淀粉、甲基纤维素、硼酸、硬脂酸等常用粘结剂中微量元素含量,选择硼酸和硬脂酸做混合粘结剂,研磨压片法制备样品,用X射线荧光光谱仪(XRF)测定工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒的元素含量。块状工业硅样品用铁坩埚处理,使用筛网选取1～3 mm的颗粒作为待研磨样品。通过实验确定了最佳的样品和粘结剂比例为15 g工业硅试样加入3.0 g硼酸和0.20 g硬脂酸;条件试验表明,研磨时间达到120 s以后粒度效应明显减弱,在此条件下研磨压制成片后分析面坚固平滑。用工业硅系列标准样品制作校准曲线,并采用经验系数法进行校正;共存元素之间进行谱线重叠校正,由分析软件计算得到校准曲线的均方根偏差(RMS)小于方法要求的RMS值。样品精密度试验表明,工业硅样品中铁、铝、钙、锰、磷、镍、钒、钛、镁测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)一般在5%左右,铬元素的RSD最高,但也在9%以下。实验方法用于工业硅标准样品的分析,测定值与认定值一致;未知样品的检测结果也与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)分析结果没有显著性差异。     

X射线荧光光谱法快速测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷

建立了用粉末样品添加粘结剂压片,选择适宜的工作参数,x射线荧光光谱法测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷等杂质元素含量的分析方法。方法快速、准确、成本低。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法。研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明,样品的粒度达到40 μm以下,粒度效应减弱;对于10.0 g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好。用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO₂、Fe₂O₃、Na₂O、K₂O、CaO、Ga₂O₃、ZnO测得结果的相对标准偏差（RSD）均小于8.0%,P₂O₅、TiO₂、V₂O₅、Cr₂O₃的含量在3倍检出限以上,RSD小于10%,含量在3倍检出限以下的RSD小于17%。用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致。