集成电路无工厂公司——Fabless前途似锦

Fabless半导体协会(Fabless Semiconductor Association,FSA)认为,截止到2010年,世界集成电路销售收入的一半源自Fabless(无工厂公司),比如纯Fabless和无线运作的IDMs(集成器件生产商)和系统设计厂商。目前,纯Fabless占世界集成电路市场的13％,销售额约为200亿美元;IDMs和系统设计厂商外包占30亿美元。两者加起来为230亿美元,占世界集成电     

横河电机ATE事业介绍

作为世界著名的大规模集成电路测试设备(ATE)制造商之一的横河电机公司(YOKOGAWA)的ATE事业部门,我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件,混合信号电路器件,逻辑电路器件,高频RF通信电路器件及各种SOC器件;还是FPD驱动器件,存储器,Image Sensor器件等;无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试;我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。在过去的一年里作为ATE业界首家推出FPD驱动器件测试系统的厂家,我们再次推出了业界第一台Per-Pin …     

先进的工程验证测试系统可以使复杂的设计在面市时间、成本和质量方面受益

中国半导体产业特别是集成电路制造和设计业有了突飞猛进的发展并成为全球的亮点。然而，与半导体技术发达的国家相比，中国的集成电路设计仍然处于起始阶段。寻找到一条从设计到测试的最佳方案可大大加快提高我国集成电路设计水平的进程。本文将着重介绍目前世界最为流行的一套先进的工程验证测试系统。全球前20家集成设计制造商(IDMs)大都采用此技术。     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。     

科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐

科利登系统公司(Credence)宣布AMI半导体公司(AMIS)已经购买了多部SZM3650高速混合信号测试系统。AMIS是特殊应用集成电路(ASIC)设计和制造的佼佼者,此次将利用这些SZM3650系统进行多种汽车类器件、工业类和外围器件的测试。AMIS一直致力于开发应用于汽车、医疗和工业市场的ASIC器件。在汽车类器件市场上,AMIS开发了用于精确控制的ASIC器件,例如控制气动踏板和刹车的传感器以及安全气囊工作的控制器。汽车工业有严格的质量标准要求制造商们利用的综合测试系统在维持最适宜的测试成本的同时提供高精度测试的能力。SZM3650系…     

FALCON采用LINUX

汽车电子用芯片对测试的特殊要求 自动测试设备在验证和生产阶段为集成电路的功能和质量提供了保证.由于非常严格的质量需求,在汽车工业中使用的器件要求使用性能很高的测试设备进行测试,比如科利登的Falcon.汽车用器件(包括圆片和封装好的器件)必须在不同的温度,不同的压力环境下进行测试.     

科利登(Credence)公司混合信号测试系统

根据IC Insights的预测,目前消费类电子芯片需求在不断增加,这种需求到2006年将带动消费类混合信号市场的价值超过40亿美金。尽快将产品推向市场对集成电路公司而言是及其重要的,测试则是其中的一个关键环节。好的测试设备将帮助提高成品率。ASL3000是科利登公司一个可升级的混合信号测试系统,能够满足消费类电子器件市场的测试要求,以更低的综合测试成本为客户提供音频和DSL器件测试服务。科利登(Credence)公司混合信号测试系统     

FALCON采用LINUX

汽车电子用芯片对测试的特殊要求。自动测试设备在验证和生产阶段为集成电路的功能和质量提供了保证．由于非常严格的质量需求，在汽车工业中使用的器件要求使用性能很高的测试设备进行测试，比如科利登的Falcon。汽车用器件(包括圆片和封装好的器件)必须在不同的温度，不同的压力环境下进行测试。     

横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA

作为世界著名的大规模集成电路测试设备（ATE）制造商之一的横河电机公司（YOKOGAWA）的ATE事业部门，我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件，混合信号电路器件，逻辑电路器件，高频RF通信电路器件及各种SOC器件；还是FPD驱动器件，存储器，Image Sensor器件等；无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试；我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。     

InGaP异质结双极晶体管ESD特性研究

研究了高速射频集成电路(RF IC)中InGaP异质结双极晶体管(HBT)器件的特性.测试了单指发射极和双指发射极两种结构器件的大信号DC I-V特性及抗人体模型(HBM)静电放电(ESD)能力.结果表明,双指发射极器件比单指器件能传导更高密度的电流,并能抵抗高能量的ESD;两种器件的击穿特性相似.这些结果可以用来指导RF IC ESD保护电路的设计.     

世界IC市场:2012乏力,2013复苏

半导体市场包括四个组成部分:集成电路(约占82%),光电器件(约占8%),分立器件(约占7%),传感器(约占3%)。通常在研究中将半导体和集成电路相提并论。集成电路按照产品种类又主要分为四大类:微处理器(约占26%),存储器(约占25%),逻辑器件(约占32%),模拟器件(约占17%)。图1说明了半导体市场和集成电路市场的关联关系。半导体市场是一个全球性的较     

基于ATE的可编程逻辑器件测试方法

集成电路发展模式已从软编程、硬编程到软硬双编程方向发展,可编程器件已成为时代主流,对可编程器件的测试需求越来越多。首先介绍了可编程器件的概念和分类,然后针对目前主流的自动测试设备(ATE)做了介绍,接着详细描述了各种可编程器件的测试方法。该方法具有较强的通用性,可广泛应用于各种PLD、PROM、CPLD、FPGA等可编程器件的测试,对于实现可编程器件的产业化测试具有一定意义。     

集成电路老化测试插座的结构形式

集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。     

无线通信研讨会展示新的基本模块

二月在美国召开的Wireless Symposium(无线通信研讨会)上,厂家们纷纷展现了他们在互连、集成电路、无源元件、分立器件、线路板、软件和测试方面的新产品,这些体积     

集成电路的通用单粒子效应测试系统设计

为满足种类繁多、功能复杂集成电路的单粒子效应评估需求,克服目前国内地面单粒子辐照实验环境机时紧张、物理空间有限等方面的限制,设计实现了一款高效通用的集成电路单粒子效应测试系统。创新性地采用旋转立体垂直结构,包含一个多现场可编程门阵列(FPGA)电测试平台、运动控制分系统和被测器件装载板。便携式箱体结构仅需3个DB9接口即可完成所有与外界连线;基于LabVIEW实现上位机交互界面,界面友好;基于多FPGA平台实现下位机测试程序,灵活可扩展,通用性强。可实现8种300及以下管脚集成电路的一次安装、自动切换和10°~90°的角度辐射。实时监控并后台记录翻转数据、翻转时间、电路状态等细节信息,测试频率可达100 MHz。已通过专用集成电路(ASIC)、静态随机存取存储器(SRAM)、控制器局域网络(CAN)接口电路等集成电路的多次实测,验证了该系统的可靠性及其高效稳定、集成度高、安装调试方便等特点。     

简易集成电路测试器

这里讨论的无源测试器可以在路测试一个集成电路,而且不必对每个被测器件来重新调整电路的安排。无源测试器也可用做逻辑分析器,以监测输入信号和产生的相应输出信号。 此测试器可以测试具有任何引脚的器件。这里讨论的样机可以测试多达20个引脚的器件。具有8至20个引脚的集成块一般为双列直插式(DIP)封装,芯片在宽度及引脚间距均相同。因此,如在此集成电路测试器上加有零插力(ZIF)插座,则可以测试大多数的8、14、16、18和20引脚的集成电路。 此集成电路测试器将一个已知其功能完好的器件接入电路,并将其一个或多个引脚与待测器件的相应引脚并联。如果发现任何相应的两引脚上的信号不同,则此测试器点亮一个LED(发光二极管),且测试器上的另一个LED也点亮,以指示究竟是哪二个引脚上的信号不同。     

大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现

为了满足大功率集成电路的测试需求,文中给出了具有大功率负载驱动能力的电压电流源和高精度集成电路测试系统的设计方法。该测试系统采用四象限驱动和钳位技术、电流扩展技术、恒流源和恒压源设计技术,故能提供精确且宽范围的激励值,同时具有对大功率负载进行驱动的能力,并可以灵活地对被测器件施加电压或电流激励,以对被测器件进行测量。     

一种适用于高低压电路单片集成的LDMOS器件

利用RESURF与场板结构结合的技术,设计了一种可以兼容低压BiCMOS工艺的LD-MOS器件。该器件的漂移区长度l≤60μm,就可实现600 V以上的耐压,适用于高低压单片集成电路芯片开发。基于一款荧光灯交流电子镇流器驱动芯片的高低压集成电路功能及其器件耐压要求,介绍了该LDMOS器件的结构和设计方法。采用ATHENA(工艺模拟)和ATLAS(器件模拟)工具,分析优化影响LDMOS器件耐压的关键参数;最后,对实际芯片的PCM器件参数进行了测试和分析。     

边界扫描测试技术及可测性标准IEEE1149.1

这是一篇关于可与数字专用集成电路(ASIC)的设计结合在一起的边界扫描测试技术概念的综合性文章。本文包括了IEEE可测性标准1149.1——可在设计、开发数字ASIC及系统的过程中实行的边界扫描测试技术——的特性及讨论。这些测试技术可以用于测试系统中的数字ASIC器件、装有器件的多层印刷电路板(PCB)及多芯片模块(MCM)。     

应对目前模拟混合信号器件的复杂测试挑战

介绍 随着计算机、通讯和消费类市场便携式应用的不断增长,对复杂模拟混合信号(AMS)器件的需求全也大幅增加.AMS器件为高量产产品,如手提电脑、音频/视频设备、DSL调制解调器和机顶盒,提供信号转换,电源管理和其它物理接口功能.由于需要提供这些功能,新型的AMS器件为半导体制造商带来了大量新的测试挑战.