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相似文献
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1.
张承国 《无损探伤》2001,25(6):26-26
介绍射线检测中常出现却被忽视的底片质量问题,以及如何监督检查。  相似文献   

2.
匡雪飞 《无损探伤》2002,26(3):40-41
在锅炉、压力容器、压力管道的制造及在役压力容器的定期检验工作中 ,X射线探伤拍片是常用的一种重要检验手段。由于操作上的一些原因 ,往往造成一些底片白头 ,它使底片黑度达不到要求 ,以致有效评定长度缩短 ,焊缝的实际探伤比例下降 ,它是 X射线探伤的大忌。小管径 ( ≤ 76 mm)对接焊缝的 X射线拍片主要问题有 :椭圆成像的开口度达不到要求 ,底片黑度偏低 ,底片上没有字码的影像 ,像质计偏离焊缝中心。解决这些问题的方法如下 :a)正确计算射线源沿管子轴线方向的移动距离S。b)计算透照厚度 TA ,然后根据射线机的曝光曲线 ,确定其透照时…  相似文献   

3.
针对制冷装置用压力容器无损检测进行底片评定时水渍的底片较多这一问题,介绍一种简易,有效的方法进行解决。  相似文献   

4.
射线探伤是以射线照像底片来评定探伤结果的。因此,底片质量直接影响检测结果。影响义片质量的因素较多,本文仅就黑度对底片质量的影响进行研究,并对最佳黑度范围等问题进行探讨。  相似文献   

5.
射线探伤是以射线照相底片来评定探伤结果的,底片质量是射线探伤的核心要素。影响底片质量的因素有多种,就其中一个因素底片黑度展开探讨,揭示底片黑度对射线照相灵敏度的影响。  相似文献   

6.
焊缝射线底片质量分级微机系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
用电脑代替人工进行焊缝射线底片质量分级是目前国际上一大研究热点,本文介绍了微机焊缝射线底片分级系统的硬件系统以及软件模块。  相似文献   

7.
X射线底片转换为数位图像的方法探讨   总被引:2,自引:0,他引:2  
郭平 《无损探伤》2001,25(2):37-38
介绍了一种把X射线底片转换为计算机可识别接爱的数位图像的方法,包括图像的输入、处理和标示等方面内容,对X射线探伤微机化管理,甚至自动化评片等方面有一定的参考。  相似文献   

8.
金属焊接的焊缝熔池是在不平衡状态下凝固结晶和组织转变的,因此,焊缝处于组织不均匀和复杂的应力作用状态,同时由此而引起物理和化学的不均匀性。本文介绍不锈、耐酸及不起皮钢316L为母材,采用P5焊条焊接,其焊缝在X射线底片上所出现的一种现象,并对此现象作一些分析。焊接试板母材是美国316L,相当于我国牌号00Cr17Ni14Mo2,其化学成分:C≤0.03;Si≤1.00;Mn≤2.00;18~20Cr;12~16Ni;2~3Mo;S≤0.02;P≤0.035。  相似文献   

9.
李更新 《无损检测》1994,16(9):250-250,252
1 问题的提出 在X射线探伤中,我们拍摄的底片中遇到呈现边界清晰、不规则云状、透光且成白色的疵病,无规律性。后经过多次实验。发现由新配制的定影液处理过的胶片上没有这种疵病产生,又发现定影液中的漂浮物是造成上述底片疵病的原因。 2 底片疵病产生的原因 因为,虽然定影液中的硫代硫酸钠,亚硫酸钠都是化合态的,其配方溶液是稳定的,但亚硫酸盐溶液具有还原性,若有空气存在,容易发生自相氧化还原作用,  相似文献   

10.
射线探伤底片质量控制规定   总被引:1,自引:1,他引:0  
为更好贯彻实施GB3323—87标准,提出底片质量控制方面的具体细则意见。  相似文献   

11.
李兆太 《无损探伤》2004,28(3):29-30
科学、客观地对底片进行评价,有利于保证检测质量、降低检测成本和缩短检测工期,提高经济效益。针对底片中常见伪缺陷、编号及标记错漏、标记摆放及底片黑度、底片搭接等问题,提出底片像质控制尺度及处理原则。  相似文献   

12.
哈本义  冯洪刚 《无损探伤》2003,27(1):44-44,46
介绍了微电脑工业射线评定仪的构造、工作原理及使用方法。  相似文献   

13.
工业X射线底片数字化存储管理系统   总被引:2,自引:2,他引:0  
李绍臣  王佩红 《无损检测》2000,22(5):212-214
重点阐述了工业X射线底片数字化存储管理系统的构成、原理、特点以及发展前景。  相似文献   

14.
15.
16.
黄钦豪 《无损检测》1994,16(10):287-287
由于胶片在生产制造及运输过程中容易产生缺陷,特别是暗室处理中更易产生划伤、水迹、指纹等伪缺陷。附表是本单位三个年度中随机各抽五个月的底片进行质量统计的结果。 由附表可见,由于胶片本身和暗室处理时操作不当造成的废片是不少的,致使成本增加,若按每张片20元计算,一年中废片损失即超过20万元,还不包括重照使产品生产周期延长而造成的损失。因此,探讨底片伪缺陷的成因及其防止或消除方法是非常必要的。  相似文献   

17.
射线底片透照部位的标识是重要的组成部分,能充分反映底片信息。本文介绍了一种用于射线底片快速标识的方法,阐述了该方法的设计要点,使用该方法后可大大提高底片的标识效率。  相似文献   

18.
本文介绍了射线底片上伪缺陷形成原因、识别及及消除方法。  相似文献   

19.
卢醒民 《无损探伤》2004,28(2):40-41
介绍一种特殊情况下射线底片的补救办法  相似文献   

20.
张文杰 《无损探伤》2004,28(2):33-35
通过对暗室处理过程中各个环节的控制,降低射线底片缺陷率提高射线底片质量。  相似文献   

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