电子元器件测试系统选型中的若干问题

本文探讨了测试需求和测试成本之间、测试系统和测试体制之间、测试系统和测试技术之间的关系,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统、选择小型测试系统和中、大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了一些看法。     

整机企业电子元器件测试系统选型

一、整机企业的测试需求和测试体制 随着整机和系统智能化和数字化的发展趋势,电子元器件的用量越来越大,电子元器件的质量对整机和系统的性能和可靠性起着越来越大的作用。如何保证电子元器件的质量,进而保证整机和系统的性能和可靠性成为一个越来越尖锐的问题摆在整机企业(特别是军工整机企业)的面前。 如何解决元器件的质量问题有不同的方法,在发达国家由于有多年规范市场经济的基础和完善的法律体系及环境,再加上半导体产业的高科技术水平,因此主要依靠元器件供应商和生产商来保证元器件的质量水平。元器件产品根据其质量水平和使用要求可分为民用级、工业级、军用级、特军级、超特军级、宇航级等多个质量等级,产品按质论价。整机企业将其精力都放在整机的研发和生产上,元器件的质量由市场来保证,而不是     

传输型CCD相机综合像质评价方法的研究

介绍了以CCD探测器为图像栽体的CCD相机整机系统的综合像质评价方法.通过成像理论建模,分别对光学系统、CCD器件及相机整机系统进行调制传递函数分析.利用CCD器件的"离散采样"特性不满足线性空间不变性的条件,确定调制传递函数的使用限制条件.给出了CCD相机整机系统的调制传递函数测试方案和测试条件,完成了实验室整系统"调制传递函数"的检测试验,并对检测结果进行分析与评价,实现了CCD相机整机系统的像质评价.     

电子元器件测试系统选型中的若干问题

一、测试需求和测试成本 电子元器件的测试必要性是显而易见的,尤其是近年来“电子垃圾”(假冒伪劣电子元器件)涌入国内市场,鱼目混珠,严重威胁了整机和系统的可靠性,这一情况已经引起了很多单位的重视,进而配备了不同档次的测试系统对元器件进行测试和筛选。     

整机级HIRF仿真验证测试方案及测试自动化

高强度辐射场(HIRF)防护逐渐受到重视,并成为飞机设计和机载设备装机的必要条件。其中,整机HIRF电磁耦合仿真及低电平耦合测试验证是飞机HIRF安全性验证的最重要途径。数值模拟中为节约计算资源,采用了平面波/球面波、归一化输入等理想条件。介绍了与仿真条件可比拟的验证测试方案设计过程,包括测试系统组成、测试参数选择及测试条件设置;并阐述了保证测试准确性前提下收发系统的自动化测试策略及实现。实验表明,该测试系统及方案有效满足了整机HIRF仿真的验证测试需求,仪器控制及测试自动化大大提高了验证测试效率。     

热成像系统的NETD测试分析

总结了目前国内外热成像整机测试系统中常用的两种NETD测试方法.分析了NETD测试模型,比较了两种测试方法在处理非线性视频图像输出中的差异,选取测试精度、重复性更高的信号传递函数(SiTF)测试方法作为实验方法.对同一热成像系统在NETD测试中测试结果存在较大差异的现象进行了分析.重点针对自动增益亮度、图像增强、伽马矫正、高频滤波4种常见非线性处理方式对NETD测试结果的影响,提出了相应的测试说明及解决方案,为获得准确、可重复的NETD测试结果提供了有效的手段.     

建立和健全企业的测试维护系统

企业的产品质量要依赖产品测试系统来验证,而产品测试系统正常、稳定的运行,则需要通过建立健全的测试维护系统来实现。介绍了企业测试维护系统的组成,并提出了建立该系统需要考虑的重要问题。     

WLAN产品的测试

1 测试方法 在WLAN测试环境中,首先需要选择合适的测量方法.目前主要有两种选择:基于所谓"参考设备"的测试系统和基于标准测试设备的测试系统.这两种系统在复杂程度、性能和设备价格上有各自的优缺点.此外,所选测试系统的体系结构也将影响吞吐率、测试极限容限、测试范围以及测试系统适应新设计的灵活性.     

M3000通用集成电路测试系统

电子元器件的测试工作,不仅对生产这些元器件的厂家来说非常重要,对于电子产品的生产和研制单位来说也同样重要。为了保证电子产品的质量和信誉、提高生产效率和降低生产成本,有必要在整机装备前对所有的各种元器件进行100％的测试筛选。 M3000通用集成电路测试系统非常适合于进行此项工作。     

WAP不良信息监控系统选型测试方法

WAP不良信息监测系统指通过旁路采集方式监控经过WAP网关的网页内容,分析网页内的网址、文本、图片、音视频等内容,及时发现包含不良信息的网页并对其进行拦截。系统的选型测试在整个WAP不良信息监控系统的构建中起着至关重要的作用     

移动终端音频测试平台的建设

通话是移动终端最基本的功能,而音频质量是否优良直接影响到了通话质量。对音频指标进行准确的客观测试是保证通话质量的前提。精确的测试平台和准确的测试方法是客观测试的基础。测试平台的搭建需要考虑以下方面的客观测量与主观评测的符合性、仪器的精度要求和校准方法、系统的准确性和再现性、测试方法的可操作性,另外还要考虑系统的兼容性和可升级性,综合以上各种需求后经过方案设计、设备选型和系统调试后就可以进行测试和验证。     

面向机载电子设备的自动化测试系统设计

随着机载电子设备复杂性的不断增长,测试的难度和工作量也在不断加大.为了有效应对测试带来的挑战,国外设备供应商研制了自动化测试系统.基于机载设备测试要求和系统工程方法,梳理了自动化测试系统应满足的测试场景,分析了系统需求,设计了硬件架构和软件架构,并专项设计了自动化测试软件的框架.在某机载型号研制中应用了设计方案,制造了...     

测试与最后工序之融合

目前,半导体工业正以飞快速度不断发展变化。面对成本压力和新封装技术,制造业和设备供货商们在设备能力、工艺和自动控制方面持续不断地加以更新和改进。在测试与最后工序领域中,成功的自动化解决方案是使测试与最后工序相结合,即从根本上转变它的设计形式而大幅度提高效率。它不仅包括大量已封装好的独立组件及高平行性的测试系统,也包括合并高速的最后工序系统。     

电子装备试验系统的灰色特性研究

电子装备试验中存在很多信息不完全、不确定及数据少等不确定性决策问题,灰色系统理论是解决这种贫信息问题的有力工具。该文首先总结了电子装备试验系统的组成、传统意义下的试验系统特性;进而从系统的角度,提出了试验系统具有结构灰性、关系灰性、模型灰性、认知灰性等灰色特征;最后研究了试验数据的不确定性来源及其灰色表现形式,并给出了试验数据的不确定性度量和系统不确定性的平均度量数学模型。研究结论可为扩展利用灰色系统理论分析解决电子装备试验系统中的各种不确定性问题提供理论支撑。     

基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试

FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。     

电子装备通用测试体系关键技术研究

为解决电子装备自动测试系统的数量多,功能重复等问题,提出了电子装备通用测试平台,通过分析多种总线结构、测试硬件和驱动体系的核心指标与技术特征,借鉴分层思想设计通用型体系架构,以多种测试仪器为基础,利用多层次的驱动体系屏蔽混合总线差异,将测试程序与测试仪器分离,实现了只需更换测试仪器和配置对应的驱动,便可置换底层仪器,使通用测试平台具备较强的扩展能力,覆盖更多测试需求,有效降低测试系统的数量。     

基于LXI的飞机音频管理系统检测系统研究

飞机音频管理系统检测中一方面要模拟、测量与之存在交联的来自机载导航和通信设备的信号,且测试项目、信号种类和数量繁多;另一方面,还要控制和监视专用试验平台模拟机载运行环境以便音频管理系统故障复现,因此基于LXI总线的自动测试系统构建方案成为最佳选择。在软件开发中,通过分析被测对象的测试需求和测试过程,提出面向对象的模块化软件开发方法,大大提高了软件复用性和开发效率。实践证明,采用LXI总线提高了自动测试系统的可靠性,缩短了航修公司的维修时问,降低了维修成本,提高了维修效率。     

软件结构测试自动化关键技术研究

基于自主开发的自动化白盒测试工具WBoxTool，本文对开发软件结构性测试自动化工具的一些关键技术进行了研究，重点研究了静态测试、插装技术和自动测试用例选择技术。并介绍了WBoxTbol的系统体系结构。分析和探讨了当前基于结构的软件测试中存在的问题和进一步的研究方向。     

VXI总线测试系统的优化方案

概述了VXI总线器件的分类，讨论了VXI总线消息基器件和寄存器基器件的特点，以及在测试系统中2种器件对测试吞吐量和程序设计的影响，并提出了优化测试系统的方案。     

DC/DC变换器输入阶跃响应测试方法研究

介绍了DC/DC变换器输入阶跃响应的概念和测试原理,对该参数的测试技术进行了探索,开发出适合的测试方法和测试系统。通过产品的测试,验证了测试方法和测试系统的准确性。该测试方法符合SJ20646-97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》的规定。该测试方法和系统适用于大动态输入范围和大功率DC/DC变换器输入阶跃响应的测试。