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基于旋转矢量法的有源相控阵天线中场测量 总被引:3,自引:0,他引:3
中场测量技术所需设备量较少,成本较低,而旋转矢量法利用相控阵天线本身的波控系统测量阵面的幅相分布。两种测量各有优缺点,将这两种方法结合起来,可实现对有源相控阵天线的TR组件监测和相控阵天线的阵面幅相测量。与近场测量相比,该方法简单易行,可以实现有源相控阵天线的定期监测和校正,同时,对测量中的误差进行了分析,并提出了解决办法。 相似文献
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在相控阵天线研制中,阵面校准是非常重要的一环。对比各种校准方法,中场法使用设备少、测试效率高,因而获得了广泛的应用。通常情况下,阵面中的T/R组件内设计有三态开关(发射态、接收态、负载态),中场测试时,通过“逐路通”的方式(逐一选通T/R组件的射频通道,非被测通道处于负载状态),得到所有通道的发射通道(或接收通道)的幅相数据。但在“芯片化”T/R组件组成的阵面中,开关隔离度有限,泄露信号严重干扰被测信号,甚至无法进行正常的故障判断。本文讨论一种基于反相法的中场校准方法,分析了该方法的误差量级,最后通过远场波瓣测试验证了该方法的有效性。 相似文献
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提出一种相控阵天线中场校正新技术。该技术利用一个参考天线放在被测阵列前方一定距离处的几个特定位置上对天线单元进行测试,通过数据相关处理获得校正参数。文中系统地介绍了该技术的基本原理及其在相控阵天线校正中的应用方法。建立了一个简易的中场校正系统,并在低副瓣相控阵天线上进行了校正试验。与近场校正结果比较,两者相近。 相似文献
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有源相控阵天线的近场校准 总被引:1,自引:0,他引:1
为实现对相控阵天线的校准,降低幅相误差和阵元失效对天线性能的影响,提出了一种考虑互耦效应的近场校准方法。在利用近场扫描法完成逐一通道校准的基础上,使用旋转矢量法进行二次校准。在应用旋转矢量法( REV)时,为使被测信号的变化明显,将大规模相控阵天线分为中间、边缘区域进行分区校准。通过二次校准可判定阵元是否失效,提高相控阵天线的幅相一致性;通过分区校准减小阵元间互耦的影响,缩短校准时间。仿真结果表明:此方法用于大型相控阵的校准具有较高的准确性,可改善校准结果。 相似文献
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中场测量相控阵扫描方向图的方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
有源相控阵天线的发射和接收天线的性能依赖于阵面口径的幅相分布,有源相控阵的幅相校准工作通常在出厂前通过暗室中的平面近场测量进行,但是某些大型的有源阵面根本无法进暗室进行校准,利用外场测量进行的校准往往无法验证其结果的好坏,该文介绍了一种中场测量相控阵天线扫描方向图的方法,使校准结果能够得到较为客观的评估。 相似文献
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固态有源相控阵天线系统的相位测试和校准 总被引:1,自引:0,他引:1
本文提出了固态有源单脉冲相控天线系统的幅相测试和校准方法。近场诊断,仿真分析和远场实测结果表明,该方法方便简单切实可行,理论分析和实测结果吻合。 相似文献
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天线因热变形和冲击振动等原因而产生变形可能导致天线电性能的恶化,进而影响天线的正常工作。由于天线的变形测量比较困难,本文提及的基于3mm相控阵的大型天线微变形测量系统就是为了解决此问题。在该系统中,精度是一个至关重要的指标,为了提高测量精度,本文重点分析了两种误差来源,分别是外环境杂波以及系统测量误差角,并提出了相应的校正方法以提高测量精度。为了验证校准方法的有效性,将校正算法用于实际测量系统,通过DSP实时进行信号处理与校准,经过校准后,与校准前相比,测量精度提高了0.06mm。这证明了文中所提出的校准方法能够有效地提高天线变形测量精度。 相似文献
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机载有源相控阵天线中每一个单元的相位必须调整成特殊的值,以便得到最大的天线效率和低瓣特性。决定天线单元之间的初始相位关系很必要的。这种旋转单元电场矢量方法(REV方法)允许在没有用另外的设备情况下进行这些测量,这种附加设备例如是一个扫描检测波喇叭或者是一个相位幅度接收器。REV方法的用途并不仅限于初台相位的测量。这种方法还适用于机载有源相控阵天线的自校以及对单脉冲波瓣的精确零点方向测量。 相似文献
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相控阵天线装配好之后,由于各组成部件机械加工误差、装配误差、部件老化更换和环境温度改变等因素,各
单元通道的初始幅相产生差异,因此必须对天线的所有系统进行校准。本文针对小型化相控阵平台,通过硬连接将相控
阵天线的波控系统与测试设备相结合,提出一种简便的自动化近场逐点校准方法。同时,本文还提出一种简单的外监测
方法。当相控阵天线工作期间,可对阵面的幅相分布进行监测。可在相控阵天线工作期间,对近场幅相校准数据进行修
正,达到阵面自身校准的目的。经对一个16阵元的相控阵天线进行实验测量可知,该自动化校准与阵面自身校准方法可
以准确、快捷测试出天线阵面的幅相分布。非常适合一维、二维相控阵天线,尤其是小型化相控阵天线的幅相校准与监
测。 相似文献
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